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Microxacts Estación de sonda Hightemp Avances Pruebas de dispositivos en condiciones extremas

August 4, 2026

Último blog de la compañía Microxacts Estación de sonda Hightemp Avances Pruebas de dispositivos en condiciones extremas

En el desarrollo de dispositivos semiconductores y el análisis de fallas, es crucial comprender el rendimiento de los materiales y dispositivos bajo temperaturas extremas. Sin embargo, los métodos de prueba tradicionales a menudo se quedan cortos debido a las limitaciones de temperatura, sin poder satisfacer las crecientes demandas de investigación e industriales.

Tecnología Central y Escenarios de Aplicación

El sistema de sonda de alta temperatura de la serie CPS-HT ofrece un rendimiento excepcional y configuraciones flexibles, brindando soluciones ideales para diversos requisitos de prueba. Para laboratorios de investigación que trabajan con muestras pequeñas de menos de 2×2 pulgadas (50×50 mm), la estación de sonda manual para obleas proporciona una opción rentable con operación intuitiva y despliegue rápido de muestras. Para líneas de producción automatizadas o proyectos de I+D a gran escala que manejan obleas de 100 mm o más, los sistemas avanzados de control de movimiento permiten la operación semiautomática o totalmente automática con alta repetibilidad y eficiencia.

Especificaciones de Rendimiento y Ventajas Clave

Las capacidades de temperatura innovadoras del sistema lo distinguen en el mercado. En entornos de vacío, admite pruebas de hasta 700°C, manteniendo una operación estable de 650°C en condiciones atmosféricas controladas. Esto permite a los investigadores:

  • Investigar las propiedades eléctricas de los materiales cerca de los puntos de fusión o transiciones de fase
  • Evaluar con precisión la fiabilidad de los dispositivos a alta temperatura
  • Analizar los mecanismos de falla y los efectos de deriva térmica
  • Realizar pruebas de envejecimiento y evaluaciones de estrés térmico
Innovaciones de Diseño y Experiencia de Usuario

El sistema incorpora varias características de diseño centradas en el usuario:

  • Brazos de sonda con microajustadores manuales externos para un posicionamiento preciso
  • Opciones de doble etapa térmica: refrigerada por aire para pruebas estándar y refrigerada por nitrógeno líquido para ciclos de temperatura rápidos
  • Microscopio de zoom estándar 7:1 con resolución de <4μm, con lentes de mayor magnificación opcionales Consideraciones de Ingeniería y Fiabilidad
El sistema aborda desafíos críticos de ingeniería en pruebas de alta temperatura:

Aislamiento de vibraciones avanzado para minimizar la interferencia de las bombas de vacío

  • Ciclos de calentamiento/enfriamiento optimizados para proteger las muestras y el equipo
  • Construcción robusta para fiabilidad a largo plazo en condiciones extremas
  • Impacto en la Investigación y Potencial Futuro
Esta plataforma de prueba avanzada proporciona a los investigadores información sin precedentes sobre el comportamiento de los materiales en condiciones extremas, lo que permite avances en materiales semiconductores como el carburo de silicio (SiC) y el nitruro de galio (GaN). A medida que avanza la tecnología de semiconductores, la capacidad de caracterizar con precisión el rendimiento de los dispositivos a altas temperaturas será cada vez más vital para la innovación en múltiples industrias.

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