Bij de ontwikkeling van halfgeleiderapparaten en bij de analyse van storingen is het van cruciaal belang de prestaties van materiaal en apparaten bij extreme temperaturen te begrijpen.vaak te kort komen door temperatuurbeperkingen, niet in staat om te voldoen aan de groeiende vraag naar onderzoek en industrie.

De CPS-HT-serie hoogtemperatuursondesystemen leveren uitzonderlijke prestaties en flexibele configuraties en bieden ideale oplossingen voor verschillende testvereisten.Voor onderzoekslaboratoria die met kleine monsters van minder dan 50 mm werken, de handmatige wafersondafdeling biedt een kosteneffectieve optie met intuïtieve bediening en snelle monsterneming.Voor geautomatiseerde productielijnen of grootschalige O&O-projecten met wafers van 100 mm of groter, geavanceerde bewegingsbesturingssystemen maken semi-automatische of volledig automatische werking met hoge herhaalbaarheid en efficiëntie mogelijk.

Het systeem onderscheidt zich door zijn baanbrekende temperatuurcapaciteiten. In vacuümomgevingen ondersteunt het testen tot 700°C.terwijl het stabiel werkt bij 650 °C onder gecontroleerde atmosferische omstandighedenDit stelt onderzoekers in staat:

• Onderzoek de elektrische eigenschappen van materiaal in de buurt van smeltpunten of faseovergangen
• Precieze beoordeling van de betrouwbaarheid van een apparaat bij hoge temperaturen
• Analyseren van storingsmechanismen en thermische drift effecten
• Uitvoeren van verouderingstests en thermische stressbeoordelingen

Het systeem bevat verschillende gebruikersgerichte ontwerpkenmerken:

• Probearmen met externe handmatige micro-instellers voor nauwkeurige positionering
• Opties voor twee thermische fasen: luchtgekoeld voor standaardonderzoek en vloeibare stikstofgekoeld voor snelle temperatuurcyclus
• standaard 7:1 zoommicroscoop met een resolutie van < 4 μm, met optioneel grotere vergrootglas

Het systeem behandelt kritieke technische uitdagingen bij hoogtemperatuuronderzoek:

• Geavanceerde trillingsisolatie om interferentie van vacuümpompen te minimaliseren
• Geoptimaliseerde verwarmings- en koelingscycli ter bescherming van monsters en apparatuur
• Robuuste constructie voor langdurige betrouwbaarheid onder extreme omstandigheden

Dit geavanceerde testplatform biedt onderzoekers ongekende inzichten in materiaalgedrag onder extreme omstandigheden.doorbraken mogelijk maken in halfgeleidermaterialen zoals siliciumcarbide (SiC) en galliumnitride (GaN)Naarmate de halfgeleidertechnologie vooruitgang boekt, zal het vermogen om de prestaties van apparaten bij hoge temperaturen nauwkeurig te karakteriseren steeds belangrijker worden voor innovatie in verschillende industrieën.