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Microxacts Hightemp Probe Station Avances Test dei dispositivi in condizioni estreme

August 4, 2026

Ultimo blog dell'azienda Microxacts Hightemp Probe Station Avances Test dei dispositivi in condizioni estreme

Nello sviluppo di dispositivi a semiconduttore e nell'analisi dei guasti, la comprensione delle prestazioni dei materiali e dei dispositivi a temperature estreme è fondamentale. I metodi di test tradizionali, tuttavia, spesso non sono all'altezza a causa delle limitazioni di temperatura, non riuscendo a soddisfare le crescenti esigenze di ricerca e industriali.

Tecnologia Core e Scenari Applicativi

Il sistema di sonde ad alta temperatura della serie CPS-HT offre prestazioni eccezionali e configurazioni flessibili, fornendo soluzioni ideali per vari requisiti di test. Per i laboratori di ricerca che lavorano con piccoli campioni inferiori a 2 pollici x 2 pollici (50x50 mm), la stazione di sonde manuale per wafer offre un'opzione conveniente con un funzionamento intuitivo e una rapida distribuzione dei campioni. Per le linee di produzione automatizzate o i progetti di R&S su larga scala che gestiscono wafer da 100 mm o più grandi, i sistemi avanzati di controllo del movimento consentono un funzionamento semi-automatico o completamente automatico con elevata ripetibilità ed efficienza.

Specifiche di Prestazione e Vantaggi Chiave

Le capacità di temperatura rivoluzionarie del sistema lo distinguono sul mercato. In ambienti sottovuoto, supporta test fino a 700°C, mantenendo un funzionamento stabile a 650°C in condizioni atmosferiche controllate. Ciò consente ai ricercatori di:

  • Indagare le proprietà elettriche dei materiali vicino ai punti di fusione o alle transizioni di fase
  • Valutare con precisione l'affidabilità dei dispositivi ad alta temperatura
  • Analizzare i meccanismi di guasto e gli effetti della deriva termica
  • Condurre test di invecchiamento e valutazioni dello stress termico
Innovazioni di Design ed Esperienza Utente

Il sistema incorpora diverse caratteristiche di design incentrate sull'utente:

  • Bracci di sonda con microregolatori manuali esterni per un posizionamento preciso
  • Opzioni di doppio stadio termico: raffreddato ad aria per test standard e raffreddato ad azoto liquido per cicli di temperatura rapidi
  • Microscopio zoom standard 7:1 con risoluzione <4 µm, con lenti opzionali ad ingrandimento superiore Considerazioni Ingegneristiche e Affidabilità
Il sistema affronta sfide ingegneristiche critiche nei test ad alta temperatura:

Isolamento avanzato dalle vibrazioni per minimizzare le interferenze delle pompe per vuoto

  • Cicli di riscaldamento/raffreddamento ottimizzati per proteggere campioni e attrezzature
  • Costruzione robusta per affidabilità a lungo termine in condizioni estreme
  • Impatto della Ricerca e Potenziale Futuro
Questa piattaforma di test avanzata fornisce ai ricercatori informazioni senza precedenti sul comportamento dei materiali in condizioni estreme, consentendo scoperte nei materiali semiconduttori come il carburo di silicio (SiC) e il nitruro di gallio (GaN). Con l'avanzamento della tecnologia dei semiconduttori, la capacità di caratterizzare accuratamente le prestazioni dei dispositivi ad alte temperature diventerà sempre più vitale per l'innovazione in molteplici settori.

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