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August 4, 2026
Nello sviluppo di dispositivi a semiconduttore e nell'analisi dei guasti, la comprensione delle prestazioni dei materiali e dei dispositivi a temperature estreme è fondamentale. I metodi di test tradizionali, tuttavia, spesso non sono all'altezza a causa delle limitazioni di temperatura, non riuscendo a soddisfare le crescenti esigenze di ricerca e industriali.
Il sistema di sonde ad alta temperatura della serie CPS-HT offre prestazioni eccezionali e configurazioni flessibili, fornendo soluzioni ideali per vari requisiti di test. Per i laboratori di ricerca che lavorano con piccoli campioni inferiori a 2 pollici x 2 pollici (50x50 mm), la stazione di sonde manuale per wafer offre un'opzione conveniente con un funzionamento intuitivo e una rapida distribuzione dei campioni. Per le linee di produzione automatizzate o i progetti di R&S su larga scala che gestiscono wafer da 100 mm o più grandi, i sistemi avanzati di controllo del movimento consentono un funzionamento semi-automatico o completamente automatico con elevata ripetibilità ed efficienza.
Le capacità di temperatura rivoluzionarie del sistema lo distinguono sul mercato. In ambienti sottovuoto, supporta test fino a 700°C, mantenendo un funzionamento stabile a 650°C in condizioni atmosferiche controllate. Ciò consente ai ricercatori di:
Il sistema incorpora diverse caratteristiche di design incentrate sull'utente:
Isolamento avanzato dalle vibrazioni per minimizzare le interferenze delle pompe per vuoto
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