logo
Hubungi kami

Kontak Person : Luo Zhuan

Nomor telepon : 15605601921

Ada apa : +8615605601921

Free call

Microxacts Hightemp Probe Station Memajukan Pengujian Perangkat Kondisi Ekstrem

August 4, 2026

Perusahaan terbaru Blog tentang Microxacts Hightemp Probe Station Memajukan Pengujian Perangkat Kondisi Ekstrem

Dalam pengembangan perangkat semikonduktor dan analisis kegagalan, pemahaman tentang kinerja material dan perangkat pada suhu ekstrem sangatlah penting. Namun, metode pengujian tradisional seringkali tidak memadai karena keterbatasan suhu, gagal memenuhi tuntutan penelitian dan industri yang terus meningkat.

Teknologi Inti dan Skenario Aplikasi

Sistem probe suhu tinggi seri CPS-HT memberikan kinerja luar biasa dan konfigurasi yang fleksibel, menawarkan solusi ideal untuk berbagai kebutuhan pengujian. Untuk laboratorium penelitian yang bekerja dengan sampel kecil berukuran di bawah 2x2 inci (50x50 mm), stasiun probe wafer manual menyediakan pilihan yang hemat biaya dengan pengoperasian yang intuitif dan penempatan sampel yang cepat. Untuk lini produksi otomatis atau proyek R&D skala besar yang menangani wafer berukuran 100 mm atau lebih besar, sistem kontrol gerakan canggih memungkinkan pengoperasian semi-otomatis atau sepenuhnya otomatis dengan pengulangan dan efisiensi yang tinggi.

Spesifikasi Kinerja dan Keunggulan Utama

Kemampuan suhu terobosan sistem ini membedakannya di pasar. Dalam lingkungan vakum, sistem ini mendukung pengujian hingga 700°C, sambil mempertahankan operasi 650°C yang stabil dalam kondisi atmosfer terkontrol. Hal ini memungkinkan para peneliti untuk:

  • Menyelidiki sifat listrik material di dekat titik leleh atau transisi fasa
  • Mengevaluasi keandalan perangkat suhu tinggi secara presisi
  • Menganalisis mekanisme kegagalan dan efek pergeseran termal
  • Melakukan uji penuaan dan evaluasi tegangan termal
Inovasi Desain dan Pengalaman Pengguna

Sistem ini menggabungkan beberapa fitur desain yang berpusat pada pengguna:

  • Lengan probe dengan mikro-penyesuai manual eksternal untuk penentuan posisi yang presisi
  • Pilihan panggung termal ganda: berpendingin udara untuk pengujian standar dan berpendingin nitrogen cair untuk siklus suhu yang cepat
  • Mikroskop zoom standar 7:1 dengan resolusi <4μm, dengan lensa perbesaran lebih tinggi opsionalPertimbangan Rekayasa dan Keandalan
Sistem ini mengatasi tantangan rekayasa kritis dalam pengujian suhu tinggi:

Isolasi getaran canggih untuk meminimalkan gangguan dari pompa vakum

  • Siklus pemanasan/pendinginan yang dioptimalkan untuk melindungi sampel dan peralatan
  • Konstruksi yang kokoh untuk keandalan jangka panjang dalam kondisi ekstrem
  • Dampak Penelitian dan Potensi Masa Depan
Platform pengujian canggih ini memberikan wawasan yang belum pernah ada sebelumnya kepada para peneliti tentang perilaku material dalam kondisi ekstrem, memungkinkan terobosan dalam material semikonduktor seperti silikon karbida (SiC) dan galium nitrida (GaN). Seiring kemajuan teknologi semikonduktor, kemampuan untuk mengkarakterisasi kinerja perangkat secara akurat pada suhu tinggi akan menjadi semakin penting untuk inovasi di berbagai industri.

Hubungi kami

Masukkan Pesan Anda