No desenvolvimento de dispositivos semicondutores e na análise de falhas, a compreensão do desempenho do material e do dispositivo sob temperaturas extremas é crucial.Muitas vezes não chegam devido a limitações de temperatura., não conseguem satisfazer as crescentes demandas de investigação e de indústria.

O sistema de sonda de alta temperatura da série CPS-HT oferece um desempenho excepcional e configurações flexíveis, oferecendo soluções ideais para vários requisitos de ensaio.Para laboratórios de investigação que trabalham com amostras pequenas inferiores a 50 mm, a estação de sonda de wafer manual fornece uma opção econômica com operação intuitiva e rápida implantação de amostras.Para linhas de produção automatizadas ou projetos de I&D de grande escala que tratem de wafers de 100 mm ou mais, os sistemas avançados de controlo de movimento permitem uma operação semiautomática ou totalmente automática, com uma elevada repetibilidade e eficiência.

As capacidades de temperatura inovadoras do sistema diferenciam-no no mercado.mantendo um funcionamento estável a 650 °C em condições atmosféricas controladasIsto permite aos investigadores:

• Investigar propriedades elétricas de materiais perto de pontos de fusão ou transições de fase
• Avaliar com precisão a fiabilidade do dispositivo de alta temperatura
• Analisar mecanismos de falha e efeitos da deriva térmica
• Realizar testes de envelhecimento e avaliações de esforço térmico

O sistema incorpora vários recursos de design centrados no utilizador:

• Braços de sonda com micro-ajustadores manuais externos para posicionamento preciso
• Opções de dupla fase térmica: arrefecida a ar para ensaio padrão e arrefecida a nitrogénio líquido para ciclo de temperatura rápido
• Microscópio zoom padrão 7:1 com resolução < 4 μm, com lentes de ampliação superior opcionais

O sistema aborda desafios críticos de engenharia em ensaios de alta temperatura:

• Isolamento de vibração avançado para minimizar as interferências das bombas de vácuo
• Ciclos de aquecimento/refrigeração otimizados para proteger amostras e equipamentos
• Construção robusta para fiabilidade a longo prazo em condições extremas

Esta plataforma avançada de testes fornece aos pesquisadores insights sem precedentes sobre o comportamento do material em condições extremas,permitindo avanços em materiais semicondutores como o carburo de silício (SiC) e o nitreto de gálio (GaN)À medida que a tecnologia dos semicondutores avança, a capacidade de caracterizar com precisão o desempenho dos dispositivos a altas temperaturas tornar-se-á cada vez mais vital para a inovação em vários setores.