Dans la poursuite du développement de dispositifs semi-conducteurs et de l'analyse des défaillances, la compréhension des performances du matériau et du dispositif à des températures extrêmes est cruciale.sont souvent insuffisantes en raison des limitations de température, ne répondant pas aux demandes croissantes de recherche et d'industrie.

Le système de sonde à haute température de la série CPS-HT offre des performances exceptionnelles et des configurations flexibles, offrant des solutions idéales pour diverses exigences d'essai.Pour les laboratoires de recherche travaillant avec de petits échantillons de moins de 50 mm, la station de sonde à plaquette manuelle offre une option rentable avec un fonctionnement intuitif et un déploiement rapide des échantillons.Pour les lignes de production automatisées ou les projets de R&D à grande échelle traitant des plaquettes de 100 mm ou plus, les systèmes de commande de mouvement avancés permettent un fonctionnement semi-automatique ou entièrement automatique avec une grande répétabilité et efficacité.

Les capacités de température révolutionnaires du système le distinguent sur le marché.tout en maintenant un fonctionnement stable à 650 °C dans des conditions atmosphériques contrôléesCela permet aux chercheurs de:

• Enquêter sur les propriétés électriques du matériau près des points de fusion ou des transitions de phase
• Évaluer avec précision la fiabilité du dispositif à haute température
• Analyser les mécanismes de défaillance et les effets de dérive thermique
• Effectuer des essais de vieillissement et des évaluations du stress thermique

Le système intègre plusieurs caractéristiques de conception axées sur l'utilisateur:

• Des bras de sonde avec micro-régulateurs manuels externes pour un positionnement précis
• Options de double étape thermique: refroidie à l'air pour les essais standard et refroidie à l'azote liquide pour les cycles de température rapides
• Microscope zoom standard 7:1 avec une résolution < 4 μm, avec lentilles à grossissement supérieur en option

Le système répond aux défis d'ingénierie critiques dans les essais à haute température:

• Isolement des vibrations pour réduire les interférences des pompes à vide
• Cycles de chauffage/refroidissement optimisés pour protéger les échantillons et les équipements
• Construction robuste pour une fiabilité à long terme dans des conditions extrêmes

Cette plateforme de test avancée fournit aux chercheurs des informations sans précédent sur le comportement des matériaux dans des conditions extrêmes,permettant des percées dans les matériaux semi-conducteurs tels que le carbure de silicium (SiC) et le nitrure de gallium (GaN)À mesure que la technologie des semi-conducteurs progresse, la capacité de caractériser avec précision les performances des appareils à haute température deviendra de plus en plus vitale pour l'innovation dans de multiples industries.