Platine chauffante et refroidissante à cinq axes pour microscope électronique à balayage (MEB) avec contrôle de température dans le système FIB / MEB

Le GoGo SCH200-RS est une platine d'échantillonnage SEM multi-axes avancée conçue pour révolutionner les expériences in situ dans les systèmes à faisceau d'ions focalisés (FIB) et de microscope électronique à balayage (SEM). Il offre un contrôle de positionnement précis sur cinq axes (X/Y/Z/R/T), permettant une flexibilité inégalée pour traduire, faire pivoter et incliner l'échantillon sous le faisceau d'électrons/ions. Associée à une large plage de températures allant de -180°C à 200°C et à une excellente stabilité (±0,1°C), cette étape permet aux chercheurs d'effectuer des nanomanipulations complexes, des coupes transversales et une observation dynamique des processus thermiques sous n'importe quel angle optimal. Conçu pour une intégration non invasive et doté d'un blindage supérieur contre les interférences électromagnétiques (EMI), cet étage d'échantillonnage SEM spécialisé est l'outil ultime pour la microscopie corrélative et la recherche avancée sur les matériaux à l'échelle nanométrique.

• Flexibilité de positionnement inégalée sur cinq axes : cette platine d'échantillonnage SEM offre une translation complète X, Y, Z, une rotation à 360° (R) et une inclinaison (T), vous permettant d'orienter de manière optimale votre échantillon pour le fraisage FIB, l'analyse EBSD ou l'imagerie haute résolution sans rompre les conditions de vide ou de température.

• Optimisé pour les flux de travail FIB/SEM intégrés : Spécialement conçu pour les systèmes à double faisceau, la mécanique compacte et le contrôle précis de la scène permettent des expériences in situ complexes telles que la préparation de lamelles à des températures spécifiques, l'observation des effets thermiques sur les nanostructures ou les tests mécaniques dans la chambre.

• Intégration non invasive avec des performances complètes : comme nos autres platines, elle s'intègre via une bride externe personnalisée, ne nécessitant aucune modification interne de votre FIB/SEM. Son blindage EMI robuste garantit aucune interférence avec les optiques électroniques/ioniques sensibles, les détecteurs ou les systèmes d'injection de gaz (GIS).

• Contrôle thermique de précision pour les études dynamiques : Fournit des environnements thermiques stables, des températures cryogéniques aux températures modérées-élevées. Le système de contrôle intégré permet des rampes et des maintiens précis, permettant une étude en temps réel des changements de phase, des réactions en couche mince ou du comportement du polymère sous la poutre.

• Conception certifiée et axée sur les applications : Fabriquée selon des processus certifiés ISO 9001, 14001 et 45001, cette platine d'échantillonnage SEM est conçue pour répondre aux exigences rigoureuses de la recherche en nanotechnologie, offrant une fiabilité pour les expériences in situ complexes et de longue durée.

Marchés cibles et clients
Cette étape d'échantillonnage SEM sophistiquée est essentielle pour les installations de recherche de pointe dans des régions clés, notamment l'Asie du Sud-Est, le Moyen-Orient, la Russie et l'Afrique. Il s'agit d'un instrument essentiel pour les centres universitaires de nanotechnologie, les laboratoires de R&D d'entreprise dans les semi-conducteurs et les matériaux avancés, ainsi que les instituts de recherche gouvernementaux utilisant des systèmes FIB/SEM à double faisceau.

1. Quel est le principal avantage du positionnement sur cinq axes dans une platine d'échantillonnage SEM ?
   Il vous permet de positionner n'importe quelle région spécifique d'un échantillon dans la géométrie idéale pour la tâche, qu'il s'agisse d'un fraisage FIB perpendiculaire, d'une inclinaison EBSD optimale ou de l'alignement d'un élément pour une imagerie haute résolution, le tout sans manipulation manuelle, ce qui permet de gagner un temps considérable et de préserver l'intégrité de l'expérience.

2. Cette étape est-elle compatible avec toutes les grandes marques FIB/SEM ?
   Oui. Le SEM Sample Stage est conçu avec une philosophie d’intégration universelle. Nous fournissons des solutions de brides et des plaques d'adaptation personnalisées pour garantir la compatibilité avec les systèmes des principaux fabricants tels que Thermo FEI, Zeiss, TESCAN et Hitachi.

3. Puis-je effectuer un retrait in situ ou un nanosonde avec cette platine ?
   Absolument. La combinaison d'un mouvement multi-axes précis et d'un contrôle de la température rend cette platine idéale pour les flux de travail in situ complexes, notamment le chauffage/refroidissement d'un échantillon lors de tests électriques de nanosonde ou le maintien d'une lamelle à une température spécifique pendant le transfert.

4. Le mouvement ou la chaleur génère-t-il des vibrations qui affectent l’imagerie ?
   Non. La scène est conçue pour un mouvement fluide et stable et intègre une isolation efficace contre les vibrations. Combiné avec son blindage EMI, cela garantit que la résolution d'imagerie et la précision analytique sont maintenues pendant toutes les opérations.

5. Qu'est-ce qui est inclus pour commencer ?
   Le package comprend l'ensemble SEM Sample Stage à cinq axes, une bride à vide personnalisée pour le port de votre chambre spécifique, un contrôleur de refroidissement pour la gestion de l'azote liquide, un réservoir d'azote liquide, un logiciel de contrôle TNEX et tous les câbles et accessoires nécessaires pour une intégration immédiate.