Platine chauffante et refroidissante à cinq axes pour microscope électronique à balayage (MEB) avec contrôle de température dans le système FIB / MEB

Le GoGo SCH200-RS est un échantillonneur SEM multiaxe avancé conçu pour révolutionner les expériences in situ dans les systèmes de faisceau d'ions focalisé (FIB) et de microscope électronique à balayage (SEM).Il fournit un contrôle de positionnement précis à cinq axes (X/Y/Z/R/T), permettant une flexibilité inégalée pour transférer, faire pivoter et incliner l'échantillon sous le faisceau électron/ion. couplé à une large plage de température de -180°C à 200°C et une excellente stabilité (±0,1°C),Cette étape permet aux chercheurs d'effectuer une nanomanipulation complexe, une section transversale et une observation dynamique des processus thermiques sous n'importe quel angle optimal.Conçus pour une intégration non invasive et équipés d'un blindage par interférence électromagnétique (EMI) supérieur, cette phase d'échantillonnage spécialisée SEM est l'outil ultime pour la microscopie corrélative et la recherche avancée sur les matériaux à l'échelle nanométrique.

• Flexibilité inégalée de positionnement sur cinq axes: cette étape d'échantillonnage SEM fournit une traduction complète X, Y, Z, une rotation à 360 ° (R) et une inclinaison (T),vous permettant d'orienter de manière optimale votre échantillon pour le fraisage FIB, analyse EBSD, ou imagerie haute résolution sans casser le vide ou les conditions de température.

• Optimisé pour les flux de travail intégrés FIB/SEM: spécialement conçu pour les systèmes à double faisceau,La mécanique compacte de la scène et le contrôle précis permettent des expériences in situ complexes telles que la préparation de lamelles à des températures spécifiques., l'observation des effets thermiques sur les nanostructures, ou des essais mécaniques dans la chambre.

• Intégration non invasive avec pleine performance: Comme nos autres étapes, il s'intègre via une bride externe personnalisée, ne nécessitant aucune modification interne à votre FIB/SEM.Son blindage EMI robuste assure l'absence d'interférences avec l'optique électron/ion sensible, détecteurs ou systèmes d'injection de gaz (SIG).

• Contrôle thermique de précision pour les études dynamiques: offre des environnements thermiques stables de températures cryogéniques à températures modérément élevées.permettant une étude en temps réel des changements de phase, des réactions à film mince, ou le comportement du polymère sous le faisceau.

• Conception certifiée axée sur l'application: fabriquée selon des procédés certifiés ISO 9001, 14001 et 45001, cette phase d'échantillonnage SEM est conçue pour répondre aux exigences rigoureuses de la recherche en nanotechnologie,fournissant une fiabilité pour le complexe, des expériences in situ de longue durée.

Marchés cibles et clients
Cette phase d'échantillonnage SEM sophistiquée est essentielle pour les installations de recherche de pointe dans des régions clés, notamment l'Asie du Sud-Est, le Moyen-Orient, la Russie et l'Afrique.Il s'agit d'un instrument essentiel pour les centres universitaires de nanotechnologie, des laboratoires de R & D d'entreprises dans les semi-conducteurs et les matériaux avancés, et des instituts de recherche gouvernementaux utilisant des systèmes FIB/SEM à double faisceau.

1. Quel est le principal avantage du positionnement à cinq axes dans une phase d'échantillonnage SEM?
   Il vous permet de positionner n'importe quelle région spécifique d'un échantillon dans la géométrie idéale pour la tâche, que ce soit pour le fraisage FIB perpendiculaire, pour obtenir une inclinaison optimale EBSD,ou l'alignement d'une fonction pour l'imagerie haute résolution sans manipulation manuelle, ce qui permet d'économiser beaucoup de temps et de préserver l'intégrité de l'expérience.

2. Cette étape est-elle compatible avec toutes les principales marques de fibres fibres/SEM?
   La phase d'échantillonnage SEM est conçue selon une philosophie d'intégration universelle.Nous fournissons des solutions personnalisées de brides et des plaques d'adaptateur pour assurer la compatibilité avec les systèmes des principaux fabricants comme Thermo Fisher (FEI), Zeiss, Tescan et Hitachi.

3. Puis-je effectuer des relevés in situ ou des nanosondes avec cette scène?
   La combinaison de mouvements multi-axes précis et de contrôle de température rend cette scène idéale pour des flux de travail complexes.y compris le chauffage/refroidissement d'un échantillon lors d'essais électriques de nanoprobes ou le maintien d'une lamelle à une température spécifique pendant le transfert.

4. Le mouvement ou la chaleur génèrent-ils des vibrations qui affectent l'imagerie?
   Non, la scène est conçue pour un mouvement fluide et stable et intègre une isolation vibratoire efficace.Cela garantit que la résolution de l'image et la précision de l'analyse sont maintenues pendant toutes les opérations.

5. Que faut- il faire pour commencer?
   Le paquet comprend l'assemblage SEM Sample Stage à cinq axes, une bride à vide personnalisée pour votre port de chambre spécifique, un contrôleur de refroidissement pour la gestion de l'azote liquide, un réservoir d'azote liquide,Logiciel de commande TNEX, et tous les câbles et accessoires nécessaires pour une intégration immédiate.