Platina Caliente y Fría de Cinco Ejes para SEM con Control de Temperatura dentro de FIB/SEM

La GoGo SCH200-RS es una platina de muestra avanzada y multieje para SEM, diseñada para revolucionar los experimentos in-situ dentro de sistemas de haz de iones enfocado (FIB) y microscopio electrónico de barrido (SEM). Proporciona un control de posicionamiento preciso de cinco ejes (X/Y/Z/R/T), lo que permite una flexibilidad sin precedentes para trasladar, rotar e inclinar la muestra bajo el haz de electrones/iones. Acoplada a un amplio rango de temperatura de -180 °C a 200 °C y una excelente estabilidad (±0.1 °C), esta platina permite a los investigadores realizar nanomanipulación compleja, corte transversal y observación dinámica de procesos térmicos desde cualquier ángulo óptimo. Diseñada para una integración no invasiva y con un blindaje superior contra interferencias electromagnéticas (EMI), esta platina de muestra especializada para SEM es la herramienta definitiva para microscopía correlativa e investigación avanzada de materiales a nanoescala.

• Flexibilidad de Posicionamiento Inigualable de Cinco Ejes: Esta platina de muestra para SEM proporciona traslación completa X, Y, Z, rotación de 360° (R) e inclinación (T), lo que le permite orientar su muestra de manera óptima para fresado FIB, análisis EBSD o imágenes de alta resolución sin romper el vacío ni las condiciones de temperatura.

• Optimizado para Flujos de Trabajo Integrados FIB/SEM: Diseñada específicamente para sistemas de doble haz, la mecánica compacta y el control preciso de la platina permiten experimentos in-situ intrincados, como la preparación de lamelas a temperaturas específicas, la observación de efectos térmicos en nanoestructuras o pruebas mecánicas dentro de la cámara.

• Integración No Invasiva con Rendimiento Completo: Al igual que nuestras otras platinas, se integra a través de una brida externa personalizada, que no requiere modificaciones internas en su FIB/SEM. Su robusto blindaje EMI garantiza que no haya interferencias con la óptica sensible de electrones/iones, detectores o sistemas de inyección de gas (GIS).

• Control Térmico de Precisión para Estudios Dinámicos: Ofrece entornos térmicos estables desde criogénicos hasta temperaturas moderadamente altas. El sistema de control integrado permite rampas y mantenimientos precisos, lo que permite el estudio en tiempo real de cambios de fase, reacciones de películas delgadas o comportamiento de polímeros bajo el haz.

• Diseño Certificado y Enfocado en Aplicaciones: Fabricada bajo procesos certificados ISO 9001, 14001 y 45001, esta platina de muestra para SEM está construida para cumplir con las rigurosas demandas de la investigación en nanotecnología, proporcionando fiabilidad para experimentos in-situ complejos y de larga duración.

Mercados y Clientes Objetivo
Esta sofisticada platina de muestra para SEM es fundamental para centros de investigación de vanguardia en regiones clave, incluyendo el Sudeste Asiático, Oriente Medio, Rusia y África. Es un instrumento esencial para centros universitarios de nanotecnología, laboratorios corporativos de I+D en semiconductores y materiales avanzados, e institutos de investigación gubernamentales que utilizan sistemas FIB/SEM de doble haz.

1. ¿Cuál es el beneficio principal del posicionamiento de cinco ejes en una platina de muestra para SEM?
   Permite posicionar cualquier región específica de una muestra en la geometría ideal para la tarea, ya sea para fresado FIB perpendicular, lograr una inclinación EBSD óptima o alinear una característica para imágenes de alta resolución, todo ello sin manipulación manual, lo que ahorra un tiempo inmenso y preserva la integridad del experimento.

2. ¿Es esta platina compatible con todas las principales marcas de FIB/SEM?
   Sí. La platina de muestra para SEM está diseñada con una filosofía de integración universal. Proporcionamos soluciones de brida personalizadas y placas adaptadoras para garantizar la compatibilidad con sistemas de fabricantes líderes como Thermo Fisher (FEI), Zeiss, TESCAN y Hitachi.

3. ¿Puedo realizar elevación in-situ o nano-sondaje con esta platina?
   Absolutamente. La combinación de movimiento multieje preciso y control de temperatura hace que esta platina sea ideal para flujos de trabajo in-situ complejos, incluyendo el calentamiento/enfriamiento de una muestra durante pruebas eléctricas de nano-sondaje o el mantenimiento de una lamela a una temperatura específica durante la transferencia.

4. ¿El movimiento o la calefacción generan vibraciones que afectan a la imagen?
   No. La platina está diseñada para un movimiento suave y estable e incorpora un aislamiento de vibraciones eficaz. Combinado con su blindaje EMI, esto garantiza que tanto la resolución de imagen como la precisión analítica se mantengan durante todas las operaciones.

5. ¿Qué se incluye para empezar?
   El paquete incluye el conjunto de platina de muestra para SEM de cinco ejes, una brida de vacío personalizada para su puerto de cámara específico, un controlador de enfriamiento para la gestión de nitrógeno líquido, un tanque de nitrógeno líquido, software de control TNEX y todos los cables y accesorios necesarios para una integración inmediata.