Beş Eksenli Sıcak ve Soğuk Aşama SEM FIB / SEM içindeki Sıcaklık Denetlenen Aşama

GoGo SCH200-RS, odaklanmış iyon ışını (FIB) ve taramalı elektron mikroskobu (SEM) sistemlerindeki yerinde deneylerde devrim yaratmak üzere tasarlanmış gelişmiş, çok eksenli bir SEM Numune Ünitesidir. Hassas beş eksenli (X/Y/Z/R/T) konumlandırma kontrolü sağlayarak numuneyi elektron/iyon ışınının altında çevirmek, döndürmek ve eğmek için benzersiz bir esneklik sağlar. -180°C ila 200°C arasındaki geniş sıcaklık aralığı ve mükemmel stabilite (±0,1°C) ile birleştiğinde bu aşama, araştırmacıların karmaşık nanomanipülasyon, kesit alma ve termal süreçlerin herhangi bir optimal açıdan dinamik gözlemlemesini gerçekleştirmesine olanak tanır. Non-invazif entegrasyon için tasarlanan ve üstün elektromanyetik girişim (EMI) korumasına sahip olan bu özel SEM Numune Aşaması, nano ölçekte bağıntılı mikroskopi ve ileri malzeme araştırmaları için mükemmel bir araçtır.

• Eşsiz Beş Eksenli Konumlandırma Esnekliği: Bu SEM Numune Aşaması kapsamlı X, Y, Z dönüşümü, 360° dönüş (R) ve eğim (T) sağlayarak numunenizi FIB frezeleme, EBSD analizi veya yüksek çözünürlüklü görüntüleme için vakum veya sıcaklık koşullarını bozmadan en iyi şekilde yönlendirmenize olanak tanır.

• Entegre FIB/SEM İş Akışları için Optimize Edilmiştir: Çift ışınlı sistemler için özel olarak tasarlanan sahnenin kompakt mekaniği ve hassas kontrolü, belirli sıcaklıklarda lamel hazırlama, nanoyapılar üzerindeki termal etkilerin gözlemlenmesi veya oda içinde mekanik testler gibi karmaşık yerinde deneyleri mümkün kılar.

• Tam Performanslı İnvazif Olmayan Entegrasyon: Diğer aşamalarımız gibi, özel bir harici flanş aracılığıyla entegre olur ve FIB/SEM'inizde herhangi bir dahili değişiklik gerektirmez. Sağlam EMI koruması, hassas elektron/iyon optikleri, dedektörler veya gaz enjeksiyon sistemleri (GIS) ile parazit olmamasını sağlar.

• Dinamik Çalışmalar için Hassas Termal Kontrol: Kriyojenik sıcaklıklardan orta-yüksek sıcaklıklara kadar stabil termal ortamlar sunar. Entegre kontrol sistemi hassas rampalara ve tutuşlara izin vererek faz değişikliklerinin, ince film reaksiyonlarının veya ışın altındaki polimer davranışının gerçek zamanlı incelenmesine olanak tanır.

• Sertifikalı, Uygulama Odaklı Tasarım: ISO 9001, 14001 ve 45001 sertifikalı süreçler altında üretilen bu SEM Örnek Aşaması, nanoteknoloji araştırmalarının zorlu taleplerini karşılamak üzere inşa edilmiş olup karmaşık, uzun süreli yerinde deneyler için güvenilirlik sağlar.

Hedef Pazarlar ve Müşteriler
Bu gelişmiş SEM Örnekleme Aşaması, Güneydoğu Asya, Orta Doğu, Rusya ve Afrika gibi önemli bölgelerdeki en ileri teknolojiye sahip araştırma tesisleri için kritik öneme sahiptir. Üniversite nanoteknoloji merkezleri, yarı iletkenler ve ileri malzemeler alanındaki kurumsal Ar-Ge laboratuvarları ve çift ışınlı FIB/SEM sistemlerini kullanan devlet araştırma enstitüleri için vazgeçilmez bir araçtır.

1. SEM Örnek Aşamasında beş eksenli konumlandırmanın birincil faydası nedir?
   İster dikey FIB frezeleme, optimum EBSD eğimi elde etme, ister yüksek çözünürlüklü görüntüleme için bir özelliği hizalama olsun, bir numunenin herhangi bir belirli bölgesini görev için ideal geometriye konumlandırmanıza olanak tanır; bunların tümünü manuel olarak gerçekleştirmeden, büyük miktarda zaman tasarrufu sağlar ve deneyin bütünlüğünü korur.

2. Bu aşama tüm büyük FIB/SEM markalarıyla uyumlu mu?
   Evet. SEM Örnek Aşaması evrensel entegrasyon felsefesiyle tasarlanmıştır. Thermo Fisher (FEI), Zeiss, TESCAN ve Hitachi gibi önde gelen üreticilerin sistemleriyle uyumluluğu sağlamak için özelleştirilmiş flanş çözümleri ve adaptör plakaları sunuyoruz.

3. Bu aşamada yerinde kaldırma veya nano sondalama gerçekleştirebilir miyim?
   Kesinlikle. Hassas çok eksenli hareket ve sıcaklık kontrolünün birleşimi, bu aşamayı, nanoproblama elektrik testleri sırasında bir numunenin ısıtılması/soğutulması veya transfer sırasında bir lamelin belirli bir sıcaklıkta tutulması dahil olmak üzere karmaşık yerinde iş akışları için ideal hale getirir.

4. Hareket veya ısınma, görüntülemeyi etkileyen titreşim üretiyor mu?
   Hayır. Sahne düzgün, sabit hareket için tasarlanmıştır ve etkili titreşim yalıtımı içerir. EMI korumasıyla birlikte bu, tüm işlemler sırasında hem görüntüleme çözünürlüğünün hem de analitik hassasiyetin korunmasını sağlar.

5. Başlamak için neler dahildir?
   Paket, beş eksenli SEM Numune Aşaması düzeneğini, özel oda portunuz için özel bir vakum flanşını, sıvı nitrojen yönetimi için bir soğutma kontrol cihazını, bir sıvı nitrojen tankını, TNEX kontrol yazılımını ve anında entegrasyon için gerekli tüm kabloları ve aksesuarları içerir.