خمس محاور مرحلة ساخنة وباردة SEM مرحلة تحكم في درجة الحرارة داخل FIB / SEM

تعد GoGo SCH200-RS مرحلة عينة SEM متقدمة ومتعددة المحاور مصممة لإحداث ثورة في التجارب في الموقع داخل أنظمة شعاع الأيونات المركز (FIB) والمجهر الإلكتروني الماسح (SEM). إنها توفر تحكمًا دقيقًا في تحديد المواقع بخمسة محاور (X/Y/Z/R/T)، مما يتيح مرونة لا مثيل لها لترجمة العينة وتدويرها وإمالتها تحت شعاع الإلكترون/الأيون. مقترنة بنطاق درجة حرارة واسع من -180 درجة مئوية إلى 200 درجة مئوية واستقرار ممتاز (±0.1 درجة مئوية)، تسمح هذه المرحلة للباحثين بإجراء تلاعب نانوي معقد، وتقطيع مقطعي، ومراقبة ديناميكية للعمليات الحرارية من أي زاوية مثلى. تم تصميم مرحلة عينة SEM المتخصصة هذه للتكامل غير الجراحي وتتميز بتدريع متفوق للتداخل الكهرومغناطيسي (EMI)، وهي الأداة المثلى للمجهر المترابط وأبحاث المواد المتقدمة على المستوى النانوي.

• مرونة تحديد المواقع بخمسة محاور لا مثيل لها: توفر مرحلة عينة SEM هذه ترجمة شاملة للمحاور X و Y و Z، ودوران 360 درجة (R)، وإمالة (T)، مما يسمح لك بتوجيه عينتك بشكل مثالي لطحن FIB، أو تحليل EBSD، أو التصوير عالي الدقة دون كسر الفراغ أو ظروف درجة الحرارة.

• محسّنة لسير عمل FIB/SEM المتكامل: مصممة خصيصًا للأنظمة ثنائية الشعاع، تتيح الميكانيكا المدمجة والتحكم الدقيق للمرحلة إجراء تجارب معقدة في الموقع مثل تحضير الشرائح عند درجات حرارة محددة، أو مراقبة التأثيرات الحرارية على الهياكل النانوية، أو الاختبارات الميكانيكية داخل الغرفة.

• تكامل غير جراحي بأداء كامل: مثل مراحلنا الأخرى، تتكامل عبر شفة خارجية مخصصة، ولا تتطلب أي تعديل داخلي لنظام FIB/SEM الخاص بك. يضمن التدريع القوي للتداخل الكهرومغناطيسي عدم وجود تداخل مع البصريات الحساسة للإلكترون/الأيون، أو الكواشف، أو أنظمة حقن الغاز (GIS).

• تحكم حراري دقيق للدراسات الديناميكية: توفر بيئات حرارية مستقرة من درجات الحرارة شديدة البرودة إلى درجات الحرارة المعتدلة العالية. يسمح نظام التحكم المتكامل بمنحدرات وإيقافات دقيقة، مما يتيح الدراسة في الوقت الفعلي للتغيرات الطورية، أو تفاعلات الأغشية الرقيقة، أو سلوك البوليمرات تحت الشعاع.

• تصميم معتمد، يركز على التطبيق: تم تصنيع مرحلة عينة SEM هذه بموجب عمليات معتمدة من ISO 9001 و 14001 و 45001، وهي مصممة لتلبية المتطلبات الصارمة لأبحاث تكنولوجيا النانو، مما يوفر موثوقية للتجارب المعقدة والطويلة في الموقع.

الأسواق المستهدفة والعملاء
تعتبر مرحلة عينة SEM المتطورة هذه ضرورية لمرافق البحث المتطورة في المناطق الرئيسية بما في ذلك جنوب شرق آسيا والشرق الأوسط وروسيا وأفريقيا. إنها أداة أساسية لمراكز تكنولوجيا النانو الجامعية، ومختبرات البحث والتطوير للشركات في أشباه الموصلات والمواد المتقدمة، ومعاهد البحوث الحكومية التي تستخدم أنظمة FIB/SEM ثنائية الشعاع.

1. ما هي الفائدة الأساسية لتحديد المواقع بخمسة محاور في مرحلة عينة SEM؟
   إنها تسمح لك بوضع أي منطقة محددة من العينة في الهندسة المثالية للمهمة - سواء كان ذلك لطحن FIB عمودي، أو تحقيق إمالة EBSD مثالية، أو محاذاة ميزة للتصوير عالي الدقة - كل ذلك دون معالجة يدوية، مما يوفر وقتًا هائلاً ويحافظ على سلامة التجربة.

2. هل هذه المرحلة متوافقة مع جميع العلامات التجارية الرئيسية لـ FIB/SEM؟
   نعم. تم تصميم مرحلة عينة SEM بفلسفة تكامل عالمية. نوفر حلول شفة مخصصة وألواح محول لضمان التوافق مع الأنظمة من الشركات المصنعة الرائدة مثل Thermo Fisher (FEI) و Zeiss و TESCAN و Hitachi.

3. هل يمكنني إجراء عمليات الرفع في الموقع أو الفحص الدقيق باستخدام هذه المرحلة؟
   بالتأكيد. إن الجمع بين الحركة الدقيقة متعددة المحاور والتحكم في درجة الحرارة يجعل هذه المرحلة مثالية لسير العمل المعقد في الموقع، بما في ذلك تسخين/تبريد عينة أثناء اختبارات الفحص الدقيق الكهربائية أو الحفاظ على شريحة عند درجة حرارة محددة أثناء النقل.

4. هل الحركة أو التسخين يولد اهتزازًا يؤثر على التصوير؟
   لا. تم تصميم المرحلة لحركة سلسة ومستقرة وتتضمن عزلًا فعالًا للاهتزازات. جنبًا إلى جنب مع تدريع التداخل الكهرومغناطيسي، يضمن ذلك الحفاظ على دقة التصوير والدقة التحليلية أثناء جميع العمليات.

5. ما هو مدرج للبدء؟
   تتضمن الحزمة تجميع مرحلة عينة SEM بخمسة محاور، وشفة فراغ مخصصة لمنفذ حجرتك المحدد، ووحدة تحكم تبريد لإدارة النيتروجين السائل، وخزان نيتروجين سائل، وبرنامج تحكم TNEX، وجميع الكابلات والملحقات اللازمة للتكامل الفوري.