Vijfas warm en koud stadium SEM Temperatuurgecontroleerde fase binnen de FIB / SEM

De GoGo SCH200-RS is een geavanceerde, multi-assige SEM Sample Stage, ontworpen om in-situ experimenten binnen focused ion beam (FIB) en scanning electron microscope (SEM) systemen te revolutioneren. Het biedt precieze vijf-assige (X/Y/Z/R/T) positioneringscontrole, wat ongeëvenaarde flexibiliteit biedt om het monster onder de elektronen/ionenbundel te transleren, roteren en kantelen. Gekoppeld aan een breed temperatuurbereik van -180°C tot 200°C en uitstekende stabiliteit (±0,1°C), stelt dit podium onderzoekers in staat om complexe nanomanipulatie, doorsneden en dynamische observatie van thermische processen vanuit elke optimale hoek uit te voeren. Ontworpen voor niet-invasieve integratie en voorzien van superieure elektromagnetische interferentie (EMI) afscherming, is deze gespecialiseerde SEM Sample Stage het ultieme hulpmiddel voor correlatieve microscopie en geavanceerd materiaalonderzoek op nanoschaal.

• Ongeëvenaarde Vijf-assige Positioneringsflexibiliteit: Deze SEM Sample Stage biedt uitgebreide X-, Y-, Z-translatie, 360° rotatie (R) en kantelen (T), waardoor u uw monster optimaal kunt oriënteren voor FIB-frezen, EBSD-analyse of beelddetails met hoge resolutie, zonder vacuüm of temperatuuromstandigheden te verbreken.

• Geoptimaliseerd voor Geïntegreerde FIB/SEM Werkstromen: Specifiek ontworpen voor dual-beam systemen, maken de compacte mechanica en precieze controle van het podium ingewikkelde in-situ experimenten mogelijk, zoals lamella-voorbereiding bij specifieke temperaturen, observatie van thermische effecten op nanostructuren, of mechanische tests binnen de kamer.

• Niet-Invasieve Integratie met Volledige Prestaties: Net als onze andere podia integreert het via een aangepaste externe flens, zonder interne aanpassingen aan uw FIB/SEM. De robuuste EMI-afscherming zorgt voor geen interferentie met gevoelige elektronen/ionenoptica, detectoren of gasinjectiesystemen (GIS).

• Precisie Thermische Controle voor Dynamische Studies: Levert stabiele thermische omgevingen van cryogene tot matig-hoge temperaturen. Het geïntegreerde controlesysteem maakt precieze hellingen en houdingen mogelijk, waardoor realtime studie van faseveranderingen, dunne-filmreacties of polymeergedrag onder de bundel mogelijk is.

• Gecertificeerd, Toepassingsgericht Ontwerp: Vervaardigd onder ISO 9001, 14001 en 45001 gecertificeerde processen, is deze SEM Sample Stage gebouwd om te voldoen aan de strenge eisen van nanotechnologieonderzoek, en biedt betrouwbaarheid voor complexe, langdurige in-situ experimenten.

Doelmarkten & Klanten
Deze geavanceerde SEM Sample Stage is cruciaal voor baanbrekende onderzoeksfaciliteiten in belangrijke regio's, waaronder Zuidoost-Azië, het Midden-Oosten, Rusland en Afrika. Het is een essentieel instrument voor universitaire nanotechnologiecentra, R&D-laboratoria van bedrijven in halfgeleiders en geavanceerde materialen, en overheidsonderzoeksinstellingen die dual-beam FIB/SEM-systemen gebruiken.

1. Wat is het belangrijkste voordeel van vijf-assige positionering in een SEM Sample Stage?
   Het stelt u in staat om elk specifiek gebied van een monster in de ideale geometrie voor de taak te positioneren - of het nu gaat om loodrechte FIB-frezen, het bereiken van een optimale EBSD-kantelhoek, of het uitlijnen van een kenmerk voor beelddetails met hoge resolutie - allemaal zonder handmatige handelingen, wat enorm veel tijd bespaart en de integriteit van het experiment behoudt.

2. Is deze stage compatibel met alle grote FIB/SEM-merken?
   Ja. De SEM Sample Stage is ontworpen met een universele integratiefilosofie. We bieden aangepaste flensoplossingen en adapterplaten om compatibiliteit met systemen van toonaangevende fabrikanten zoals Thermo Fisher (FEI), Zeiss, TESCAN en Hitachi te garanderen.

3. Kan ik in-situ lift-out of nanoprobing uitvoeren met deze stage?
   Absoluut. De combinatie van precieze multi-assige beweging en temperatuurregeling maakt deze stage ideaal voor complexe in-situ workflows, waaronder het verwarmen/koelen van een monster tijdens nanoprobing elektrische tests of het handhaven van een lamella op een specifieke temperatuur tijdens de overdracht.

4. Genereert de beweging of verwarming trillingen die de beeldvorming beïnvloeden?
   Nee. De stage is ontworpen voor soepele, stabiele beweging en bevat effectieve trillingsisolatie. In combinatie met de EMI-afscherming zorgt dit ervoor dat zowel de beeldresolutie als de analytische precisie tijdens alle bewerkingen behouden blijven.

5. Wat is inbegrepen om te beginnen?
   Het pakket bevat de vijf-assige SEM Sample Stage assemblage, een aangepaste vacuümflens voor uw specifieke kamerpoort, een koelcontroller voor vloeibare stikstofbeheer, een vloeibare stikstoftank, TNEX besturingssoftware, en alle benodigde kabels en accessoires voor onmiddellijke integratie.