Fünf-Achsen-Heiß- und Kaltstage für REM-Temperaturkontrollierte Stage innerhalb des FIB / REM

Produktdetails:
Herkunftsort: Suzhou, China
Markenname: GoGo
Zertifizierung: ISO 9001:2015 / ISO 14001:2015 / ISO 45001:2018
Modellnummer: SCH200-RS
Zahlung und Versand AGB:
Min Bestellmenge: 1
Preis: CNY 30000~600000/set
Verpackung Informationen: Karton + Holzkiste
Lieferzeit: 30~60 Arbeitstage
Zahlungsbedingungen: T/T
Versorgungsmaterial-Fähigkeit: 1 Satz/Tag
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Detailinformationen

Name: Heiße und kalte Bühne Kühl-/Heizverfahren: Kühlung mit flüssigem Stickstoff, Widerstandsheizung
Temperaturbereich: -180℃~200℃ Temperaturstabilität: ± 0,1 ℃
Heizungs/abkühlende Rate: Maximale Heizrate: 30 ℃/min, maximale Abkühlrate: 15 ℃/min Probenhalter: Kupfer ;φ30mm
Abmessungen: 100 mm * 41 mm * 36,5 mm Nettogewicht: 0,2 kg
Grundkonfiguration: TNEX*1, SEM rotierende Heiz- und Kühlstufe*1, Kühlregler*1, Flüssigstickstofftank*1, Kabel, Schläuch Optional: Adapterplatte/kundenspezifischer Flüssigstickstofftank/Computer-Host/kundenspezifische Temperaturkon
Hervorheben:

Fünf-Achsen-Heiß- und Kaltstage

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REM-Temperaturkontrollierte Stage

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Fünf-Achsen-Temperaturkontrollierte Stage

Produkt-Beschreibung

Fünf-Achsen-Kryo-/Heiz-REM-Probenhalterung mit nicht-invasiver Integration und einem Temperaturbereich von -180 °C bis 200 °C für FIB/REM

Produktname: GoGo SCH200-RS Fünf-Achsen-Kryo-/Heiz-REM-Probenhalterung für FIB/REM In-situ-Nanomanipulation (-180 °C bis 200 °C)
Produkteinführung

Die GoGo SCH200-RS ist eine fortschrittliche, mehrachsige REM-Probenhalterung, die entwickelt wurde, um In-situ-Experimente in Focused Ion Beam (FIB)- und Rasterelektronenmikroskopie (REM)-Systemen zu revolutionieren. Sie bietet eine präzise Fünf-Achsen-Positionierung (X/Y/Z/R/T) und ermöglicht eine beispiellose Flexibilität beim Verschieben, Drehen und Kippen der Probe unter dem Elektronen-/Ionenstrahl. Gepaart mit einem breiten Temperaturbereich von -180 °C bis 200 °C und exzellenter Stabilität (±0,1 °C) ermöglicht diese Halterung Forschern die Durchführung komplexer Nanomanipulationen, Querschnitte und dynamischer Beobachtungen thermischer Prozesse aus jedem optimalen Winkel. Diese spezialisierte REM-Probenhalterung wurde für die nicht-invasive Integration entwickelt und verfügt über eine überlegene Abschirmung gegen elektromagnetische Interferenzen (EMI). Sie ist das ultimative Werkzeug für korrelative Mikroskopie und fortgeschrittene Materialforschung im Nanomaßstab.

Hauptvorteile & Warum unser System wählen
  • Unübertroffene Fünf-Achsen-Positionierungsflexibilität: Diese REM-Probenhalterung bietet umfassende X-, Y-, Z-Verschiebung, 360°-Drehung (R) und Kippung (T), sodass Sie Ihre Probe optimal für FIB-Fräsen, EBSD-Analysen oder hochauflösende Bildgebung ausrichten können, ohne das Vakuum oder die Temperaturbedingungen zu unterbrechen.

  • Optimiert für integrierte FIB/REM-Arbeitsabläufe: Speziell für Dual-Beam-Systeme entwickelt, ermöglichen die kompakte Mechanik und die präzise Steuerung der Halterung komplexe In-situ-Experimente wie die Lamellenpräparation bei bestimmten Temperaturen, die Beobachtung thermischer Effekte auf Nanostrukturen oder mechanische Tests in der Kammer.

  • Nicht-invasive Integration mit voller Leistung: Wie unsere anderen Halterungen wird sie über einen kundenspezifischen externen Flansch integriert und erfordert keine interne Modifikation Ihres FIB/REM. Ihre robuste EMI-Abschirmung gewährleistet keine Störungen empfindlicher Elektronen-/Ionenoptiken, Detektoren oder Gasinjektionssysteme (GIS).

  • Präzise Temperaturregelung für dynamische Studien: Liefert stabile thermische Umgebungen von kryogenen bis zu moderat-hohen Temperaturen. Das integrierte Steuerungssystem ermöglicht präzise Rampen und Haltezeiten, was die Echtzeituntersuchung von Phasenübergängen, Dünnschichtreaktionen oder Polymerverhalten unter dem Strahl ermöglicht.

  • Zertifiziertes, anwendungsbezogenes Design: Hergestellt unter ISO 9001, 14001 und 45001 zertifizierten Prozessen, ist diese REM-Probenhalterung gebaut, um die strengen Anforderungen der Nanotechnologieforschung zu erfüllen und Zuverlässigkeit für komplexe, lang andauernde In-situ-Experimente zu bieten.

Technische Spezifikationen
Parameter Spezifikation
Modell / Marke SCH200-RS / GoGo
Kernmerkmal 5-Achsen-Positionierung (X, Y, Z, Drehung, Kippung) für FIB/REM
Integration Nicht-invasiv, externer Flansch
Temperaturbereich -180 °C bis 200 °C
Temperaturstabilität ±0,1 °C
Positionierung X/Y/Z/R/T Volle Bewegungssteuerung
Schlüsselanwendung In-situ-Nanomanipulation & Querschnitt in FIB/REM
Probenhalter Kupfer, Ø 30 mm

Zielmärkte & Kunden
Diese hochentwickelte REM-Probenhalterung ist entscheidend für Spitzenforschungseinrichtungen in Schlüsselregionen, darunter Südostasien, der Nahe Osten, Russland und Afrika. Sie ist ein unverzichtbares Instrument für universitäre Nanotechnologiezentren, F&E-Labore von Unternehmen in den Bereichen Halbleiter und fortschrittliche Materialien sowie staatliche Forschungsinstitute, die Dual-Beam-FIB/REM-Systeme nutzen.

Häufig gestellte Fragen (FAQ)
  1. Was ist der Hauptvorteil der Fünf-Achsen-Positionierung in einer REM-Probenhalterung?
    Sie ermöglicht es Ihnen, jeden spezifischen Bereich einer Probe in die ideale Geometrie für die jeweilige Aufgabe zu positionieren – sei es für senkrechtes FIB-Fräsen, das Erreichen einer optimalen EBSD-Neigung oder die Ausrichtung eines Merkmals für hochauflösende Bildgebung – alles ohne manuelle Handhabung, was enorme Zeit spart und die Integrität des Experiments bewahrt.

  2. Ist diese Halterung mit allen wichtigen FIB/REM-Marken kompatibel?
    Ja. Die REM-Probenhalterung ist mit einer universellen Integrationsphilosophie konzipiert. Wir bieten kundenspezifische Flansch-Lösungen und Adapterplatten, um die Kompatibilität mit Systemen führender Hersteller wie Thermo Fisher (FEI), Zeiss, TESCAN und Hitachi zu gewährleisten.

  3. Kann ich mit dieser Halterung In-situ-Lift-out oder Nanoprobing durchführen?
    Absolut. Die Kombination aus präziser Mehrachsenbewegung und Temperaturregelung macht diese Halterung ideal für komplexe In-situ-Arbeitsabläufe, einschließlich des Aufheizens/Abkühlens einer Probe während Nanoprobing-Elektronen-Tests oder der Aufrechterhaltung einer Lamelle bei einer bestimmten Temperatur während des Transfers.

  4. Erzeugt die Bewegung oder Heizung Vibrationen, die die Bildgebung beeinträchtigen?
    Nein. Die Halterung ist für eine reibungslose, stabile Bewegung ausgelegt und verfügt über eine effektive Vibrationsisolierung. In Kombination mit ihrer EMI-Abschirmung wird so sichergestellt, dass sowohl die Bildauflösung als auch die analytische Präzision während aller Operationen erhalten bleiben.

  5. Was ist im Lieferumfang enthalten, um loszulegen?
    Das Paket enthält die Fünf-Achsen-REM-Probenhalterungsbaugruppe, einen kundenspezifischen Vakuumflansch für Ihren spezifischen Kammeranschluss, eine Kühlsteuerung für die Flüssigstickstoffverwaltung, einen Flüssigstickstofftank, die TNEX-Steuerungssoftware sowie alle notwendigen Kabel und Zubehörteile für die sofortige Integration.

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