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Détails sur le produit:
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| Lieu d'origine: | Suzhou, Chine |
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| Nom de marque: | GoGo |
| Certification: | ISO 9001:2015 / ISO 14001:2015 / ISO 45001:2018 |
| Numéro de modèle: | SCH200 |
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Conditions de paiement et expédition:
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| Quantité de commande min: | 1 |
| Prix: | CNY 30000~600000/set |
| Détails d'emballage: | Boîte en carton + boîte en bois |
| Délai de livraison: | 30 ~ 60 jours ouvrables |
| Conditions de paiement: | T/T |
| Capacité d'approvisionnement: | 1set/jour |
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Détail Infomation |
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| Nom: | Étape d'échantillonnage SEM | Méthode de refroidissement/chauffage: | Refroidissement à l'azote liquide, chauffage par résistance |
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| Plage de température: | -190 ℃ ~ 200 ℃ | Stabilité de la température: | ± 0,1 ℃ |
| Taux de chauffage/de refroidissement: | Taux de chauffage maximum : 150 ℃/min, taux de refroidissement maximum : 30 ℃/min. | Titulaire de l'échantillon: | Cuivre ; 23 mm * 23 mm |
| Dimensions: | 85mm*95mm*23mm | Poids net: | Barrière de protection des bords conforme à l'OSHA avec une conception haute visibilité |
| Configuration de base: | TNEX*1, étage de chauffage et de refroidissement SEM*1, contrôleur de température*1, contrôleur de r | Facultatif: | Plaque d'adaptation/réservoir d'azote liquide personnalisé/refroidisseur à recirculation per |
| Mettre en évidence: | Platine d'échantillon SEM Cryo,Platine d'échantillon SEM Chauffage,Platine d'échantillon de microscope multi-modes |
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Description de produit
La GoGo SCH200 est une platine d'échantillon SEM révolutionnaire conçue pour intégrer un contrôle de température avancé directement dans votre microscope électronique à balayage sans aucune modification permanente. Ce système innovant se connecte via une bride à vide externe personnalisée, permettant une installation et un retrait sans faille. Il permet des expériences thermiques in-situ précises de -190 °C à 200 °C avec une stabilité exceptionnelle (±0,1 °C), permettant aux chercheurs d'observer des processus dynamiques tels que les transformations de phase, la croissance des grains ou les réactions chimiques en temps réel. De manière critique, cette platine d'échantillon SEM est conçue avec un blindage supérieur contre les interférences électromagnétiques (EMI), garantissant qu'elle fonctionne silencieusement dans le MEB sans dégrader la qualité de l'image ou l'intégrité du signal analytique.
Intégration véritablement non invasive : cette platine d'échantillon SEM ne nécessite aucune modification interne de votre SEM. L'installation se fait via une bride personnalisée sur un port inutilisé, préservant la garantie de votre microscope et permettant de partager la platine entre plusieurs instruments sans effort.
Conçu pour la compatibilité SEM : le système est méticuleusement blindé pour empêcher les EMI de perturber le faisceau d'électrons, la détection d'électrons secondaires ou les détecteurs EDS/WDS. Cela garantit que les capacités d'imagerie haute résolution et d'analyse de votre microscope restent intactes pendant les expériences thermiques.
Plage de température large et réglable rapidement : combine un refroidissement efficace à l'azote liquide avec un chauffage résistif rapide (150 °C/min) pour couvrir une large plage thermique. Cette polyvalence prend en charge diverses études, de l'analyse de la fracture cryogénique des polymères au frittage à haute température des métaux ou des céramiques.
Contrôle intelligent multi-modes : contrôlé par le puissant logiciel TNEX, les utilisateurs peuvent exécuter non seulement des points de consigne simples, mais également des programmes complexes de rampe et de segment. Cela permet de simuler des cycles thermiques du monde réel ou d'étudier des phénomènes dépendants du temps directement sous le faisceau d'électrons.
Système complet, certifié et prêt à l'emploi : fabriqué selon des processus certifiés ISO 9001, 14001 et 45001 et fourni sous forme de kit complet. Cette solution de platine d'échantillon SEM clé en main comprend tout le nécessaire pour un fonctionnement immédiat, minimisant le temps d'installation et les obstacles techniques.
| Paramètre | Spécification |
|---|---|
| Modèle / Marque | SCH200 / GoGo |
| Méthode d'intégration | Bride externe, aucune modification du SEM requise |
| Caractéristique de conception clé | Excellent blindage contre les interférences électromagnétiques (EMI) |
| Plage de température | -190 °C à 200 °C |
| Stabilité de la température | ±0,1 °C |
| Vitesse de chauffage/refroidissement | Chauffage : 150 °C/min ; Refroidissement : 30 °C/min |
| Logiciel de contrôle | Plateforme TNEX (programmation de point de consigne, de rampe, de segment) |
| Porte-échantillon | Cuivre, 23 mm x 23 mm |
Cette platine d'échantillon SEM spécialisée est un outil essentiel pour les centres de microscopie avancée dans les régions de croissance clés, notamment l'Asie du Sud-Est, le Moyen-Orient, la Russie et l'Afrique. Elle est essentielle pour les installations centrales universitaires, les instituts de recherche gouvernementaux et les laboratoires de R&D industriels dans les domaines des sciences des matériaux, de l'électronique, de la géologie et des sciences de la vie qui cherchent à ajouter des capacités in-situ dynamiques à leurs SEM.
L'installation de cette platine annule-t-elle la garantie de mon SEM ?
Non. Parce que la platine d'échantillon SEM se connecte via une bride externe sans modifications internes, elle est considérée comme un accessoire non invasif et n'affecte pas la garantie du fabricant du microscope.
Comment fonctionne le blindage EMI et pourquoi est-il important ?
La platine utilise des matériaux spécialisés et une conception électrique pour contenir ses propres champs électromagnétiques. Sans cela, les éléments chauffants et les contrôleurs de la platine pourraient créer du bruit dans les images SEM (rayures, flou) et interférer avec la précision de la microanalyse aux rayons X.
Quel type d'expériences in-situ puis-je effectuer ?
Cette platine permet d'observer en temps réel des processus tels que la solidification, la cristallisation, la dégradation thermique, la relaxation des contraintes et les réactions électrochimiques, fournissant des preuves microstructurales directes liées à l'historique thermique.
Le logiciel est-il complexe à utiliser pour créer des profils de température ?
Le logiciel TNEX est conçu pour une utilisation intuitive. La création de profils complexes avec plusieurs rampes et paliers est un processus simple, vous permettant de vous concentrer sur l'expérience plutôt que sur le contrôle de l'instrument.
Qu'est-ce qui est inclus dans le colis de livraison ?
Vous recevrez l'assemblage principal de la platine SEM, la bride à vide personnalisée pour votre modèle de SEM, les contrôleurs de température et de refroidissement, un réservoir d'azote liquide, un refroidisseur à recirculation, le logiciel TNEX, ainsi que tous les câbles, tuyaux et accessoires nécessaires.
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