半導体デバイスの複雑化が進むにつれて、エンジニアは究極の性能と信頼性を追求しながら、精密かつ効率的なウェーハレベルのテストを実現するという増大する課題に直面しています。

半導体テストソリューションのパイオニアであるSTAr Technologiesは、これらの業界の要求に応え、研究および生産プロセスを強化するために設計された包括的な高性能プローブステーションラインナップを導入しました。

コスト効率の高い150mmウェーハテスト：Magic-A150e

Magic-A150eアダプティブエンジニアリングプローブステーションは、150mmウェーハテストに優れた価値を提供します。ユーザーフレンドリーな操作性と高速性能を組み合わせたこのソリューションは、さまざまな光学および電気測定機器との柔軟な構成をサポートします。ウェーハサイズ、熱範囲、顕微鏡オプションの多様な要件に対応し、基本的なパラメータテストと複雑なデバイス特性評価の両方で信頼性の高い結果を提供します。

信頼性の高い200mmウェーハテスト：Magic-A200e

200mmウェーハ専用に設計されたMagic-A200eアダプティブエンジニアリングプローブステーションは、デバイス特性評価、ウェーハレベル信頼性評価、故障解析、および高速コンポーネントウェーハソーティングを含む重要なアプリケーションで精密な測定を保証します。その安定した性能と高度な設計は、高品質な200mmウェーハテストに理想的な選択肢となります。

300mmウェーハテスト向けの精密ソリューション

STAr Technologiesは、比類のない精度と安定性で300mmウェーハテストの新たな業界標準を打ち立てる、複数の精密エンジニアリングプローブステーションを提供しています。

Magic-P300m：温度範囲全体での比類なき精度

このプレミアムプローブステーションは、優れたステップ精度を提供し、広い温度範囲で動作するため、デバイス特性評価、高電力デバイステスト、RF測定、ウェーハレベル信頼性テスト、および要求の厳しい環境での故障解析に最適です。

Magic-P300e：高性能エンジニアリングテスト

Magic-P300eは、デバイス特性評価、ウェーハレベル信頼性検証、SPICEモデル抽出、および歩留まり向上向けの堅牢なソリューションとして機能し、研究アプリケーションに優れた安定性と精度を提供します。

Magic-X300e：半自動化された効率

この半自動化されたプローブソリューションは、DCからRF、マイクロ波、光電子デバイス、さらには超伝導磁気測定までのテストをサポートし、精度を維持しながらスループットを大幅に向上させます。

Magic-X300a：完全自動化された未来

完全な300mmウェーハ自動化のために設計されたMagic-X300aは、DCからRF、マイクロ波、および光電子デバイス（超伝導磁気測定を含む）までの包括的なテストを実行し、生産効率を劇的に向上させます。

高度なアプリケーション向けの特殊プローブシステム

Sagittarius-SPT：シリコンフォトニクス テスト

この完全自動化システムは、シリコンフォトニックデバイスのウェーハレベルテストを提供し、この新興技術の高精度特性評価と受け入れテストを可能にします。

Unicorn-LAIT II：統合LEDテスト

ミニおよびマイクロLEDプローブテスト向けのハイスループットソリューションで、信頼性の高いLED生産テストのために精密なマイクロパッド制御とニードルフォース調整を備えています。

テスト強化のための精密アクセサリー

Capricorn-MP：マルチチッププローブポジショナー

この6軸精密ポジショナーは、最大26個のプローブを備えたプローブカードに対応し、標準的なパラメータテストまたは高温信頼性評価に適しており、微細な制御によりテスト精度を保証します。

STAr Technologiesは、革新的なテストソリューションを通じて半導体業界の進歩を推進し続け、エンジニアに技術的課題を克服し、技術的限界を押し広げるために必要なツールを提供しています。