Da Halbleiter-Geräte immer komplexer werden, stehen Ingenieure vor immer größeren Herausforderungen bei der Erreichung präziser und effizienter Prüfungen auf Waferebene, während sie gleichzeitig höchste Leistung und Zuverlässigkeit anstreben.

STAr Technologies, ein Pionier in der Halbleiter-Testlösung,hat eine umfassende Auswahl an Hochleistungssonde-Stationen eingeführt, die darauf ausgerichtet sind, diesen Anforderungen der Industrie gerecht zu werden und Forschungs- und Produktionsprozesse zu unterstützen.

Kostenwirksame Prüfung von 150 mm Wafer: Magic-A150e

Die Adaptive Engineering-Sondestation Magic-A150e bietet einen außergewöhnlichen Wert für 150-mm-Wafer-Tests.Diese Lösung unterstützt eine flexible Konfiguration mit verschiedenen optischen und elektrischen MessgerätenEs erfüllt verschiedene Anforderungen an die Wafergröße, den thermischen Bereich und die Mikroskopoptionen und liefert zuverlässige Ergebnisse sowohl für die grundlegende Parameterprüfung als auch für die komplexe Gerätecharakterisierung.

Zuverlässige 200 mm Waferprüfung: Magic-A200e

Speziell für 200mm-Wafer entwickelt, sorgt die adaptive Engineering-Sondestation Magic-A200e für präzise Messungen für kritische Anwendungen, einschließlich der Charakterisierung von Geräten,Bewertung der Zuverlässigkeit auf WaferebeneDurch seine stabile Leistung und sein fortschrittliches Design ist es eine ideale Wahl für hochwertige 200mm-Waferprüfungen.

Präzisionslösungen für die Prüfung von 300 mm Wafer

STAr Technologies bietet mehrere Präzisionstechnik-Sondestationen, die neue Industriestandards für 300-mm-Wafer-Tests mit beispielloser Genauigkeit und Stabilität setzen.

Magic-P300m: Unübertroffene Präzision in Temperaturbereichen

Diese erstklassige Sondenstation liefert eine außergewöhnliche Schrittgenauigkeit und arbeitet in weiten Temperaturbereichen, was sie ideal für die Charakterisierung von Geräten, Hochleistungsgerätetests, HF-Messungen,Zuverlässigkeitsprüfung auf Waferebene, und Fehleranalyse in anspruchsvollen Umgebungen.

Magic-P300e: Hochleistungstechnische Prüfungen

Der Magic-P300e dient als robuste Lösung für die Gerätecharakterisierung, die Zuverlässigkeitsprüfung auf Waferebene, die Extraktion von SPICE-Modellen und die Leistungssteigerung,eine hervorragende Stabilität und Präzision für Forschungsanwendungen bietet.

Magic-X300e: Halbautomatische Effizienz

Diese halbautomatische Sondenlösung unterstützt die Prüfung von Gleichstrom zu HF, Mikrowellen, optoelektronischen Geräten und sogar supraleitenden magnetischen Messungen.erhebliche Verbesserung der Durchsatzleistung bei gleichzeitiger Wahrung der Genauigkeit.

Magic-X300a: Voll automatisierte Zukunft

Der Magic-X300a ist für die vollständige Automatisierung von 300mm-Wafern entwickelt und führt umfassende Tests von DC über RF, Mikrowellen und optoelektronische Geräte durch, einschließlich supraleitender magnetischer Messungen,drastische Steigerung der Produktionseffizienz.

Spezialisierte Sondensysteme für fortgeschrittene Anwendungen

Sagittarius-SPT: Silikonphotonik-Tests

Dieses vollautomatisierte System ermöglicht die Prüfung von Silizium-Photonen-Geräten auf Wafer-Ebene und ermöglicht eine hochpräzise Charakterisierung und Akzeptanzprüfung dieser neuen Technologie.

Einhorn-LAIT II: Integrierte LED-Prüfung

Eine hochleistungsfähige Lösung für Mini- und Micro-LED-Sondenprüfungen mit präziser Mikropad-Steuerung und Anpassung der Nadelkraft für zuverlässige LED-Produktionstests.

Präzisionszubehör für verbesserte Prüfungen

Capricorn-MP: Multi-Chip-Sonde-Positionierer

Dieser 6-Achsen-Präzisionspositionierer bietet Platz für Sondenkarten mit bis zu 26 Sonden, geeignet für Standard-Parameterprüfungen oder Hochtemperatur-Verlässlichkeitsbewertungen,Gewährleistung der Prüfgenauigkeit durch feine Kontrolle.

STAr Technologies treibt die Entwicklung der Halbleiterindustrie durch innovative Prüflösungen weiter voran.Ausstattung von Ingenieuren mit den Werkzeugen, die sie benötigen, um technische Herausforderungen zu meistern und technologische Grenzen zu überschreiten.