Naarmate halfgeleiderapparaten steeds complexer worden, worden ingenieurs geconfronteerd met toenemende uitdagingen om nauwkeurige en efficiënte wafer-level testen te realiseren, terwijl ze streven naar ultieme prestaties en betrouwbaarheid.

STAr Technologies, een pionier in oplossingen voor halfgeleidertesten, heeft een uitgebreid assortiment hoogwaardige probe stations geïntroduceerd, ontworpen om aan deze industriële eisen te voldoen en onderzoeks- en productieprocessen te ondersteunen.

Kosteneffectieve 150mm Wafer Testen: Magic-A150e

Het Magic-A150e adaptieve engineering probe station biedt uitzonderlijke waarde voor 150mm wafer testen. Deze oplossing combineert gebruiksvriendelijke bediening met hoge snelheidsprestaties en ondersteunt flexibele configuratie met diverse optische en elektrische meetinstrumenten. Het is geschikt voor uiteenlopende vereisten voor wafergrootte, thermisch bereik en microscoopopties, en levert betrouwbare resultaten voor zowel basale parametertesten als complexe apparaatkarakterisering.

Betrouwbare 200mm Wafer Testen: Magic-A200e

Specifiek ontworpen voor 200mm wafers, zorgt het Magic-A200e adaptieve engineering probe station voor nauwkeurige metingen voor kritieke toepassingen, waaronder apparaatkarakterisering, evaluatie van wafer-level betrouwbaarheid, foutanalyse en sortering van high-speed component wafers. De stabiele prestaties en geavanceerde ontwerp maken het een ideale keuze voor hoogwaardige 200mm wafer testen.

Precisie Oplossingen voor 300mm Wafer Testen

STAr Technologies biedt meerdere precisie engineering probe stations die nieuwe industrienormen stellen voor 300mm wafer testen met ongeëvenaarde nauwkeurigheid en stabiliteit.

Magic-P300m: Ongeëvenaarde Precisie over Temperatuurbereiken

Dit premium probe station levert uitzonderlijke stapnauwkeurigheid en werkt over brede temperatuurbereiken, waardoor het ideaal is voor apparaatkarakterisering, testen van high-power apparaten, RF-metingen, wafer-level betrouwbaarheidstesten en foutanalyse in veeleisende omgevingen.

Magic-P300e: High-Performance Engineering Testen

De Magic-P300e dient als een robuuste oplossing voor apparaatkarakterisering, verificatie van wafer-level betrouwbaarheid, SPICE-model extractie en verbetering van de opbrengst, en biedt uitstekende stabiliteit en precisie voor onderzoeksapplicaties.

Magic-X300e: Semi-Automatische Efficiëntie

Deze semi-automatische probe-oplossing ondersteunt testen van DC tot RF, microgolf, opto-elektronische apparaten en zelfs supergeleidende magnetische metingen, waardoor de doorvoer aanzienlijk wordt verbeterd met behoud van nauwkeurigheid.

Magic-X300a: Volledig Geautomatiseerde Toekomst

Ontworpen voor volledige 300mm waferautomatisering, voert de Magic-X300a uitgebreide testen uit van DC tot RF, microgolf en opto-elektronische apparaten, inclusief supergeleidende magnetische metingen, wat de productie-efficiëntie dramatisch verbetert.

Gespecialiseerde Probesystemen voor Geavanceerde Toepassingen

Sagittarius-SPT: Silicon Photonics Testen

Dit volledig geautomatiseerde systeem biedt wafer-level testen voor silicium fotonische apparaten, waardoor hoog-precisie karakterisering en acceptatietesten voor deze opkomende technologie mogelijk zijn.

Unicorn-LAIT II: Geïntegreerde LED Testen

Een high-throughput oplossing voor Mini- en Micro-LED probe testen, met precieze micro-pad controle en naaldkrachtaanpassing voor betrouwbare LED-productietesten.

Precisie Accessoires voor Verbeterde Testen

Capricorn-MP: Multi-Chip Probe Positioner

Deze 6-assige precisie positioner is geschikt voor probe kaarten met maximaal 26 probes, geschikt voor standaard parametertesten of betrouwbaarheidsevaluaties bij hoge temperaturen, en zorgt voor testnauwkeurigheid door fijne controle.

STAr Technologies blijft de vooruitgang in de halfgeleiderindustrie stimuleren door middel van innovatieve testoplossingen, en voorziet ingenieurs van de tools die nodig zijn om technische uitdagingen te overwinnen en technologische grenzen te verleggen.