Karena perangkat semikonduktor menjadi semakin kompleks, insinyur menghadapi tantangan yang semakin meningkat dalam mencapai pengujian tingkat wafer yang tepat dan efisien sambil mengejar kinerja dan keandalan tertinggi.

STAr Technologies, pelopor dalam solusi pengujian semikonduktor,telah memperkenalkan rangkaian komprehensif stasiun probe berkinerja tinggi yang dirancang untuk memenuhi permintaan industri ini dan memberdayakan proses penelitian dan produksi.

Tes Wafer 150mm yang hemat biaya: Magic-A150e

Stasiun probe teknik adaptif Magic-A150e menawarkan nilai luar biasa untuk pengujian wafer 150mm.solusi ini mendukung konfigurasi fleksibel dengan berbagai instrumen pengukuran optik dan listrikHal ini mengakomodasi beragam persyaratan untuk ukuran wafer, rentang termal, dan pilihan mikroskop, memberikan hasil yang dapat diandalkan untuk pengujian parameter dasar dan karakteristik perangkat yang kompleks.

Pengujian Wafer 200mm yang andal: Magic-A200e

Dirancang khusus untuk wafer 200mm, stasiun probe teknik adaptif Magic-A200e memastikan pengukuran yang tepat untuk aplikasi kritis termasuk karakteristik perangkat,Evaluasi keandalan pada tingkat wafer, analisis kegagalan, dan pemisahan wafer komponen berkecepatan tinggi. Kinerja yang stabil dan desain canggih menjadikannya pilihan ideal untuk pengujian wafer 200mm berkualitas tinggi.

Solusi presisi untuk pengujian wafer 300mm

STAr Technologies menawarkan beberapa stasiun probe teknik presisi yang menetapkan standar industri baru untuk pengujian wafer 300mm dengan akurasi dan stabilitas yang tak tertandingi.

Magic-P300m: Keakuratan yang tak tertandingi di berbagai rentang suhu

Stasiun probe premium ini memberikan akurasi langkah yang luar biasa dan beroperasi di rentang suhu yang luas, menjadikannya ideal untuk karakteristik perangkat, pengujian perangkat bertenaga tinggi, pengukuran RF,pengujian keandalan pada tingkat wafer, dan analisis kegagalan dalam lingkungan yang menuntut.

Magic-P300e: pengujian teknik kinerja tinggi

Magic-P300e berfungsi sebagai solusi yang kuat untuk karakteristik perangkat, verifikasi keandalan tingkat wafer, ekstraksi model SPICE, dan peningkatan hasil,menawarkan stabilitas dan presisi yang luar biasa untuk aplikasi penelitian.

Magic-X300e: Efisiensi Semi-otomatis

Solusi probe semi otomatis ini mendukung pengujian dari DC ke RF, microwave, perangkat optoelectronic, dan bahkan pengukuran magnetik superkonduktor,Meningkatkan secara signifikan throughput sambil menjaga akurasi.

Magic-X300a: Masa depan sepenuhnya otomatis

Dirancang untuk otomatisasi wafer 300mm lengkap, Magic-X300a melakukan pengujian komprehensif dari DC ke RF, microwave, dan perangkat optoelectronic, termasuk pengukuran magnetik superkonduktif,secara dramatis meningkatkan efisiensi produksi.

Sistem Probe Khusus untuk Aplikasi Lanjutan

Sagittarius-SPT: Pengujian Silicon Photonics

Sistem sepenuhnya otomatis ini menyediakan pengujian tingkat wafer untuk perangkat fotonik silikon, memungkinkan karakterisasi presisi tinggi dan pengujian penerimaan untuk teknologi baru ini.

Unicorn-LAIT II: Pengujian LED Terintegrasi

Solusi dengan throughput tinggi untuk pengujian probe Mini- dan Micro-LED, menampilkan kontrol micro-pad yang tepat dan penyesuaian gaya jarum untuk pengujian produksi LED yang andal.

Aksesoris presisi untuk pengujian yang ditingkatkan

Capricorn-MP: Multi-Chip Probe Positioner

Positioner presisi 6 sumbu ini menampung kartu probe dengan hingga 26 probe, cocok untuk pengujian parameter standar atau evaluasi keandalan suhu tinggi,memastikan akurasi pengujian melalui kontrol yang halus.

STAr Technologies terus mendorong kemajuan industri semikonduktor melalui solusi pengujian inovatif,memperlengkapi insinyur dengan alat yang diperlukan untuk mengatasi tantangan teknis dan mendorong batas teknologi.