Con la crescente complessità dei dispositivi a semiconduttore, gli ingegneri si trovano ad affrontare sfide sempre maggiori per ottenere test a livello di wafer precisi ed efficienti, perseguendo al contempo prestazioni e affidabilità ottimali.

STAr Technologies, pioniere nelle soluzioni di test per semiconduttori, ha introdotto una gamma completa di stazioni di prova ad alte prestazioni progettate per soddisfare queste esigenze del settore e potenziare i processi di ricerca e produzione.

Test di wafer da 150 mm convenienti: Magic-A150e

La stazione di prova ingegneristica adattiva Magic-A150e offre un valore eccezionale per il test di wafer da 150 mm. Combinando un funzionamento intuitivo con prestazioni ad alta velocità, questa soluzione supporta una configurazione flessibile con vari strumenti di misurazione ottica ed elettrica. Accomoda diverse esigenze per dimensioni del wafer, intervallo termico e opzioni di microscopio, fornendo risultati affidabili sia per test di parametri di base che per la caratterizzazione di dispositivi complessi.

Test affidabili di wafer da 200 mm: Magic-A200e

Progettata specificamente per wafer da 200 mm, la stazione di prova ingegneristica adattiva Magic-A200e garantisce misurazioni precise per applicazioni critiche, tra cui la caratterizzazione dei dispositivi, la valutazione dell'affidabilità a livello di wafer, l'analisi dei guasti e lo smistamento di wafer di componenti ad alta velocità. Le sue prestazioni stabili e il design avanzato la rendono una scelta ideale per test di wafer da 200 mm di alta qualità.

Soluzioni di precisione per il test di wafer da 300 mm

STAr Technologies offre molteplici stazioni di prova ingegneristiche di precisione che stabiliscono nuovi standard di settore per il test di wafer da 300 mm con precisione e stabilità impareggiabili.

Magic-P300m: Precisione impareggiabile in tutti gli intervalli di temperatura

Questa stazione di prova premium offre un'eccezionale precisione di passo e opera in ampi intervalli di temperatura, rendendola ideale per la caratterizzazione dei dispositivi, il test di dispositivi ad alta potenza, le misurazioni RF, i test di affidabilità a livello di wafer e l'analisi dei guasti in ambienti difficili.

Magic-P300e: Test ingegneristici ad alte prestazioni

La Magic-P300e funge da soluzione robusta per la caratterizzazione dei dispositivi, la verifica dell'affidabilità a livello di wafer, l'estrazione di modelli SPICE e il miglioramento della resa, offrendo stabilità e precisione eccezionali per applicazioni di ricerca.

Magic-X300e: Efficienza semi-automatizzata

Questa soluzione di prova semi-automatizzata supporta test da DC a RF, microonde, dispositivi optoelettronici e persino misurazioni magnetiche superconduttrici, migliorando significativamente il throughput mantenendo l'accuratezza.

Magic-X300a: Futuro completamente automatizzato

Progettata per l'automazione completa dei wafer da 300 mm, la Magic-X300a esegue test completi da DC a RF, microonde e dispositivi optoelettronici, comprese le misurazioni magnetiche superconduttrici, migliorando drasticamente l'efficienza di produzione.

Sistemi di prova specializzati per applicazioni avanzate

Sagittarius-SPT: Test di fotonica del silicio

Questo sistema completamente automatizzato fornisce test a livello di wafer per dispositivi fotonici del silicio, consentendo la caratterizzazione ad alta precisione e i test di accettazione per questa tecnologia emergente.

Unicorn-LAIT II: Test LED integrato

Una soluzione ad alto throughput per test di sonde Mini- e Micro-LED, caratterizzata da un controllo preciso dei micro-pad e dalla regolazione della forza dell'ago per test di produzione LED affidabili.

Accessori di precisione per test migliorati

Capricorn-MP: Posizionatore di sonde multi-chip

Questo posizionatore di precisione a 6 assi ospita schede sonda con un massimo di 26 sonde, adatto per test di parametri standard o valutazioni di affidabilità ad alta temperatura, garantendo l'accuratezza del test attraverso un controllo fine.

STAr Technologies continua a promuovere il progresso dell'industria dei semiconduttori attraverso soluzioni di test innovative, dotando gli ingegneri degli strumenti necessari per superare le sfide tecniche e spingere i confini tecnologici.