Chambre 201, Bâtiment 3, No. 66 Yinsheng Road, Parc Industriel de Suzhou, Zone Pilote de Libre-Échange de Suzhou (Jiangsu) de Chine, Suzhou, Province du Jiangsu, Chine

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Étape de chauffage du microscope(8)

Étape de refroidissement de chauffage(4)

Étape de la sonde(12)

Station de sonde(4)

Platine du microscope Peltier(5)

Étape de traction(4)

Étape d'échantillonnage XRD(2)

Étape d'échantillonnage SEM(2)

Étape de traction SEM(1)

Équipement d'observation à haute température(2)

Système de test in situ(4)

Chauffe-gaufrette(3)

microscope imaging system

Système de test in situ cryogénique / haute température Système d'imagerie microscopique polyvalent

Étape de chauffage au microscope de manipulation XY Étapes contrôlées par température de haute précision

Étapes de microscopes à température contrôlée polyvalentes Étapes compactes de microscopes à chauffage

Platine chauffante personnalisée pour microscope, platine à contrôle de température polyvalente pour analyse Raman et optique

Microscope à grande vitesse étape chaude étape de chauffage de précision pour microscope

Étape de microscope de 15 mm ultra-mince Peltier étape à double trajectoire

Platine de microscope cryogénique Peltier CPE50 avec plage de -50°C à température ambiante, stabilité de ±0,1°C et chambre atmosphérique sans givre

Platine d'échantillon SEM Cryo / Chauffage, Platine d'échantillon de microscope multi-modes avec intégration non invasive

Équipement d'observation à haute température polyvalent Équipement d'analyse de matériaux de précision

Caractérisation mécanique multi-mode de l'étape de traction in situ avec gamme de température extrême de l'étape

Étape à haute température modulaire à vide de haute précision FH5000 - 1000V

Platine chauffante et refroidissante à cinq axes pour microscope électronique à balayage (MEB) avec contrôle de température dans le système FIB / MEB

Précision dans la mesure, globale en température.

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