Teklif isteği

Turkish

English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
ελληνικά
日本語
한국
العربية
हिन्दी
Türkçe
Indonesia
Tiếng Việt
ไทย
বাংলা
فارسی
Polski

Bizimle iletişim kur

İlgili kişi : Luo Zhuan

Telefon numarası : 15605601921

Naber : +8615605601921

anahtar kelimeler:"

microscope imaging system

" match 13 products

Kriyojenik / Yüksek Sıcaklık Yerinde Test Sistemi Çok Yönlü Mikroskop Görüntüleme Sistemi
Şimdi başvurun
XY Manipülasyon Mikroskop Isıtma Tablası Yüksek Hassasiyetli Sıcaklık Kontrollü Tablalar
Şimdi başvurun
Çok Yönlü Sıcaklık Kontrollü Mikroskop Tablası Kompakt Mikroskop Isıtmalı Tabla Hassasiyet
Şimdi başvurun
Özel Mikroskop Isıtma Aşaması Raman ve Optik Analiz için Çeşitli Sıcaklık Kontrol Aşaması
Şimdi başvurun
Yüksek Hızlı Mikroskop Sıcak Aşama Mikroskop için hassas ısıtma aşaması
Şimdi başvurun
Ultra İnce 15 mm Peltier Mikroskop Aşaması Çift Yollu Sıcaklık Denetimli Aşama
Şimdi başvurun
-50°C ila RT Aralığı, ±0,1°C Stabilite ve Donmayan Atmosfer Odasına sahip CPE50 Kriyojenik Peltier Mikroskop Tablası
Şimdi başvurun
Kriyojenik / Isıtmalı SEM Numune Yuvası Çok Modlu Mikroskop Numune Yuvası Non-invaziv Entegrasyonlu
Şimdi başvurun
Çok yönlü Yüksek Sıcaklık Gözlem Aygıtları Hassas Malzeme Analizi Aygıtları
Şimdi başvurun
Yerinde Çekme Etüvü Çok Modlu Mekanik Karakterizasyon Aşırı Sıcaklık Aralığı ile
Şimdi başvurun
FH5000-1000V Çok modlu Mekanik Test için Ultra Yüksek Sıcaklıklı Vakum Tensile Aşaması (1000°C, 5000N)
Şimdi başvurun
FH5000-1000V Çok modlu Mekanik Test için Ultra Yüksek Sıcaklıklı Vakum Tensile Aşaması (1000°C, 5000N)
Şimdi başvurun
Beş Eksenli Sıcak ve Soğuk Aşama SEM FIB / SEM içindeki Sıcaklık Denetlenen Aşama
Şimdi başvurun

Ölçümde Hassas, Sıcaklıkta Küresel.

Kategoriler

Mikroskop Isıtma Aşaması

Isıtma Soğutma Aşaması

Prob Aşaması

Prob istasyonu

Hakkımızda

Giriş

Geçmiş

Hizmet

Ekibimiz

Fabrika turu

Üretim hattı

OEM / ODM

Ar-Ge

Bize ulaşın

XihaoT (Suzhou) Technology Co., Ltd.

Oda 201, Bina 3, No. 66 Yinsheng Yolu, Suzhou Endüstri Parkı, Çin (Jiangsu) Pilot Serbest Ticaret Bölgesi Suzhou Alanı, Suzhou, Jiangsu Eyaleti, Çin

86--15605601921

info@heatingstage.com

Kalite kontrol |

Site Haritası |

Gizlilik Politikası |

Mikroskop Isıtma Aşaması(12)

Isıtma Soğutma Aşaması(10)

Prob Aşaması(15)

Prob istasyonu(7)

Peltier Mikroskop Aşaması(7)

Çekme Aşaması(5)

XRD Örnek Aşaması(3)

SEM Örnek Aşaması(2)

SEM Çekme Aşaması(1)

Yüksek Sıcaklık Gözlem Ekipmanları(2)

Yerinde Test Sistemi(4)

Gofret Isıtıcı(3)

microscope imaging system

Kriyojenik / Yüksek Sıcaklık Yerinde Test Sistemi Çok Yönlü Mikroskop Görüntüleme Sistemi

XY Manipülasyon Mikroskop Isıtma Tablası Yüksek Hassasiyetli Sıcaklık Kontrollü Tablalar

Çok Yönlü Sıcaklık Kontrollü Mikroskop Tablası Kompakt Mikroskop Isıtmalı Tabla Hassasiyet

Özel Mikroskop Isıtma Aşaması Raman ve Optik Analiz için Çeşitli Sıcaklık Kontrol Aşaması

Yüksek Hızlı Mikroskop Sıcak Aşama Mikroskop için hassas ısıtma aşaması

Ultra İnce 15 mm Peltier Mikroskop Aşaması Çift Yollu Sıcaklık Denetimli Aşama

-50°C ila RT Aralığı, ±0,1°C Stabilite ve Donmayan Atmosfer Odasına sahip CPE50 Kriyojenik Peltier Mikroskop Tablası

Kriyojenik / Isıtmalı SEM Numune Yuvası Çok Modlu Mikroskop Numune Yuvası Non-invaziv Entegrasyonlu

Çok yönlü Yüksek Sıcaklık Gözlem Aygıtları Hassas Malzeme Analizi Aygıtları

Yerinde Çekme Etüvü Çok Modlu Mekanik Karakterizasyon Aşırı Sıcaklık Aralığı ile

FH5000-1000V Çok modlu Mekanik Test için Ultra Yüksek Sıcaklıklı Vakum Tensile Aşaması (1000°C, 5000N)

FH5000-1000V Çok modlu Mekanik Test için Ultra Yüksek Sıcaklıklı Vakum Tensile Aşaması (1000°C, 5000N)

Beş Eksenli Sıcak ve Soğuk Aşama SEM FIB / SEM içindeki Sıcaklık Denetlenen Aşama

Ölçümde Hassas, Sıcaklıkta Küresel.

microscope imaging system çevrimiçi üretici

microscope imaging system

Kriyojenik / Yüksek Sıcaklık Yerinde Test Sistemi Çok Yönlü Mikroskop Görüntüleme Sistemi

XY Manipülasyon Mikroskop Isıtma Tablası Yüksek Hassasiyetli Sıcaklık Kontrollü Tablalar

Çok Yönlü Sıcaklık Kontrollü Mikroskop Tablası Kompakt Mikroskop Isıtmalı Tabla Hassasiyet

Özel Mikroskop Isıtma Aşaması Raman ve Optik Analiz için Çeşitli Sıcaklık Kontrol Aşaması

Yüksek Hızlı Mikroskop Sıcak Aşama Mikroskop için hassas ısıtma aşaması

Ultra İnce 15 mm Peltier Mikroskop Aşaması Çift Yollu Sıcaklık Denetimli Aşama

-50°C ila RT Aralığı, ±0,1°C Stabilite ve Donmayan Atmosfer Odasına sahip CPE50 Kriyojenik Peltier Mikroskop Tablası

Kriyojenik / Isıtmalı SEM Numune Yuvası Çok Modlu Mikroskop Numune Yuvası Non-invaziv Entegrasyonlu

Çok yönlü Yüksek Sıcaklık Gözlem Aygıtları Hassas Malzeme Analizi Aygıtları

Yerinde Çekme Etüvü Çok Modlu Mekanik Karakterizasyon Aşırı Sıcaklık Aralığı ile

FH5000-1000V Çok modlu Mekanik Test için Ultra Yüksek Sıcaklıklı Vakum Tensile Aşaması (1000°C, 5000N)

FH5000-1000V Çok modlu Mekanik Test için Ultra Yüksek Sıcaklıklı Vakum Tensile Aşaması (1000°C, 5000N)

Beş Eksenli Sıcak ve Soğuk Aşama SEM FIB / SEM içindeki Sıcaklık Denetlenen Aşama

Ölçümde Hassas, Sıcaklıkta Küresel.