Stanza 201, Edificio 3, Via Yinsheng 66, Parco Industriale di Suzhou, Area di Suzhou della Zona Pilota di Libero Scambio della Cina (Jiangsu), Suzhou, Provincia di Jiangsu, Cina

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Fase di riscaldamento del microscopio(8)

Fase di raffreddamento del riscaldamento(4)

Stadio sonda(12)

Stazione della sonda(4)

Tavolino per microscopio Peltier(5)

Fase di trazione(4)

Stadio di campionamento XRD(2)

Fase di campionamento SEM(2)

Fase di trazione SEM(1)

Attrezzatura per l'osservazione delle alte temperature(2)

Sistema di test in situ(4)

Riscaldatore per wafer(3)

microscope imaging system

Sistema di test in situ criogenico / ad alta temperatura Sistema di imaging microscopico versatile

XY Manipolazione Microscopio Stagione di riscaldamento Alta precisione Temperatura controllata

Microscopio versatile a temperatura controllata di stadio Microscopio compatto di stadio riscaldato Precisione

Stage di riscaldamento per microscopio personalizzato Stage di controllo della temperatura versatile per Raman e analisi ottica

Platillo Caliente de Microscopio de Alta Velocidad Etapa de Calentamiento de Precisión para Microscopio

Ultra sottile 15 mm Peltier Microscopio di stadio doppio percorso di temperatura controllata di stadio

Stadio per microscopio criogenico Peltier CPE50 con intervallo da -50°C a temperatura ambiente, stabilità di ±0,1°C e camera a atmosfera antigelo

Stadio per campioni SEM criogenico/riscaldante, stadio per campioni per microscopio multimodale con integrazione non invasiva

Attrezzatura versatile per l'osservazione ad alta temperatura, attrezzatura di precisione per l'analisi dei materiali

Stadio di trazione in situ per caratterizzazione meccanica multimodale con intervallo di temperatura estremo

Palco di vuoto modulare ad alta temperatura e alta precisione FH5000 - 1000V

Palco Caldo e Freddo a Cinque Assi SEM Palco a Temperatura Controllata all'interno del FIB / SEM

Precisione di misura, temperatura globale.

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