W nieustannym dążeniu do osiągów półprzewodników dokładne pomiary materiałów i urządzeń w ekstremalnych warunkach stały się najważniejsze.Wyobraźcie sobie wyzwanie wykrywania każdej subtelnej właściwości elektrycznej chipa w temperaturze zbliżającej się do zera absolutnego lub w wysokich temperaturach.Rozważ trudności w symulacji trudnych warunków przestrzennych w celu sprawdzenia niezawodności urządzeń optoelektronicznych.

Stacja Kryogenicznej Sondacji próżniowej serii SCG jest przełomowym rozwiązaniem dla tych najnowocześniejszych wyzwań.Seria SCG integruje technologię ultra wysokiej próżni, precyzyjnej automatyzacji i zaawansowanych możliwości symulacji laserowej, stanowiących wieloletnią wiedzę techniczną i innowacje.

Seria SCG oferuje niezrównaną wszechstronność, spełniając rygorystyczne wymagania od badań podstawowych po walidację produktów w kilku kluczowych obszarach:

• Badanie chipów:kompleksowa ocena wydajności elektrycznej układów scalonych, mikroprocesorów i układów pamięci w różnych temperaturach i warunkach próżni,w tym parametry krytyczne, takie jak prąd przecieku, napięcie progowe i przewodnictwo.
• Badania urządzeń optoelektronicznych:Precyzyjne pomiary fotoelektryczne diod laserowych (LD), diod emitujących światło (LED) i fotodetektorów (PD), ocena efektywności świetlnej, prędkości odpowiedzi, właściwości widmowych,i pogorszenie wydajności w ekstremalnych temperaturach.
• Badania widmowe włókna optycznego:Ocena strat transmisji, dyspersji i innych parametrów optycznych w różnych warunkach temperatury i próżni, kluczowe dla budowy stabilnych sieci łączności optycznej.
• Badanie charakterystyki IV/CV:Głęboka analiza właściwości napięcia prądu i napięcia pojemności w celu ujawnienia mechanizmów transportu nośnika, struktur pasma i cech interfejsu.
• Badanie efektu Halla:Pomiar współczynnika Halla, stężenia nośnika i mobilności przy zminimalizowaniu hałasu termicznego i efektów powierzchni.
• Badania transportu elektromagnetycznego:Badanie złożonych zachowań transportowych w warunkach połączonych pól elektrycznych/magnetycznych i zmienności temperatury.
• Badanie charakterystyki wysokiej częstotliwości:Ocena właściwości reakcji wysokiej częstotliwości i impedancji w precyzyjnie kontrolowanych warunkach próżni i temperatury.

Seria SCG osiąga swoje wyjątkowe osiągi dzięki kilku przełomomom technologicznym:

Zdolność do osiągania 10^-10Torr, minimalizując adsorpcję powierzchni i zanieczyszczenia podczas symulacji warunków przestrzennych.

Wyposażone w trójwymiarową regulację XYZ z dokładnością pozycjonowania 2μm i ultra niskim wyciekiem prądu (tak niskie jak 100fAN @ 25°C).

Zawiera mikroskopię o wysokiej rozdzielczości z współczynnikiem zoomu 7:1 (rozwiązanie 4 μm) lub opcjonalny mikroskop metalurgiczny (20X-1000X).

Działa od 77K do 473K (rozszerzalne do 4,2K) z rozdzielczością 0,001K i stabilnością ±0,1K.

Specjalistyczna platforma skutecznie izoluje wibracje zewnętrzne do pomiarów o wysokiej czułości.

Seria SCG stanowi znaczący postęp w zaawansowanym sprzęcie do badań półprzewodników,zapewnienie naukowcom bezprecedensowych możliwości badania efektów kwantowych w nowych materiałach półprzewodnikowych, opracować bardziej wydajne urządzenia optoelektroniczne i przeprowadzić weryfikację niezawodności w ekstremalnych warunkach.Ta innowacyjna platforma nadal posuwa granice odkryć naukowych i innowacji technologicznych.