Im unermüdlichen Streben nach Halbleiterleistung ist die präzise Messung von Materialien und Geräten unter extremen Bedingungen von größter Bedeutung geworden.Stellen Sie sich vor, wie schwierig es ist, jedes elektrische Merkmal eines Chips bei Temperaturen nahe dem absoluten Nullpunkt oder bei hohen Temperaturen genau zu erkennen.Es ist wichtig, daß die Ergebnisse der Studie in den Bereichen der Technik und der Technologie, die in der Praxis angewandt werden, und der Technik der Technik zur Erstellung von Messgeräten, die in der Praxis angewendet werden, berücksichtigt werden, um die Wirksamkeit der Verfahren zu überprüfen.

Die SCG-Serie Kryogene Vakuumsonde-Station stellt eine bahnbrechende Lösung für diese herausfordernden Herausforderungen dar.Die SCG-Serie integriert eine ultra-hohe Vakuumtechnologie, Präzisionsautomation und fortschrittliche Lasersimulationsfähigkeiten, die jahrelange technische Expertise und Innovation darstellen.

Die SCG-Serie bietet eine beispiellose Vielseitigkeit und erfüllt strenge Anforderungen von der Grundlagenforschung bis zur Produktvalidierung in mehreren Schlüsselbereichen:

• Chipprüfung:Umfassende Bewertung der elektrischen Leistung von integrierten Schaltungen, Mikroprozessoren und Speicherchips unter unterschiedlichen Temperaturen und Vakuumbedingungen,einschließlich kritischer Parameter wie Leckstrom, Schwellenspannung und Transleitfähigkeit.
• Prüfung optoelektronischer Geräte:präzise photoelektrische Messungen für Laserdioden (LD), Leuchtdioden (LED) und Photodetektoren (PD) zur Beurteilung von Lichtwirkungsgrad, Reaktionsgeschwindigkeit, Spektralmerkmalen,und Leistungsabnahme bei extremen Temperaturen.
• Spektralprüfung mit Glasfaser:Bewertung von Übertragungsverlusten, Dispersion und anderen optischen Parametern unter unterschiedlichen Temperatur- und Vakuumbedingungen, entscheidend für den Aufbau stabiler optischer Kommunikationsnetze.
• IV/CV-Kennzahlenprüfung:Vertiefte Analyse der Eigenschaften von Strom-Spannung und Kapazität-Spannung, um Trägertransportmechanismen, Bandstrukturen und Schnittstellenmerkmale aufzudecken.
• Halleffektprüfung:Messung des Hall-Koeffizienten, der Trägerkonzentration und der Mobilität bei minimiertem thermischen Rauschen und Oberflächenwirkungen.
• Elektromagnetische Transportprüfung:Untersuchung komplexer Transportverhaltensweisen unter kombinierten elektrisch-magnetischen Feldern und Temperaturänderungen.
• Prüfungen der Hochfrequenzmerkmale:Beurteilung der Eigenschaften von Hochfrequenzreaktionen und Impedanzen unter präzise kontrollierten Vakuum- und Temperaturbedingungen.

Die SCG-Serie erzielt ihre außergewöhnliche Leistung durch mehrere technologische Durchbrüche:

Mit einer Leistung von bis zu 10^{- 10}Torr, wodurch Adsorption und Kontamination an der Oberfläche minimiert und gleichzeitig raumähnliche Bedingungen simuliert werden.

Funktionen für die dreidimensionale Einstellung von XYZ mit einer Positionierungsgenauigkeit von 2 μm und einem extrem niedrigen Stromleckage (bis zu 100 fAN @ 25 °C).

Ein High-Resolution-Mikroskopie mit 7:1 Zoom-Verhältnis (4μm Auflösung) oder optionales metallurgisches Mikroskop (20X-1000X).

Funktioniert von 77K bis 473K (erweiterbar auf 4.2K) mit einer Auflösung von 0,001K und ±0,1K Stabilität.

Spezialisierte Plattform isoliert äußere Vibrationen für hochempfindliche Messungen.

Die SCG-Serie stellt einen bedeutenden Fortschritt in der hochwertigen Halbleiterprüfausrüstung dar,Bereitstellung von Forschern mit beispiellosen Fähigkeiten zur Erforschung von Quanteneffekten in neuen Halbleitermaterialien, effizientere optoelektronische Geräte zu entwickeln und die Zuverlässigkeit unter extremen Bedingungen zu überprüfen.Diese innovative Plattform setzt die Grenzen wissenschaftlicher Entdeckungen und technologischer Innovationen weiter fort.