Dans la quête incessante de performances des semi-conducteurs, la mesure précise des matériaux et des dispositifs dans des conditions extrêmes est devenue primordiale. Imaginez le défi de détecter avec précision chaque caractéristique électrique subtile d'une puce à des températures proches du zéro absolu ou dans des environnements sous vide à haute température et haute pression. Considérez la difficulté de simuler des conditions spatiales difficiles pour valider la fiabilité des dispositifs optoélectroniques.

La station de sondage cryogénique sous vide série SCG émerge comme une solution révolutionnaire à ces défis de pointe. Premier système de sondage cryogénique sous vide développé au niveau national, la série SCG intègre une technologie de vide ultra-élevé, une automatisation de précision et des capacités avancées de simulation laser, représentant des années d'expertise technique et d'innovation.

La série SCG offre une polyvalence inégalée, répondant aux exigences rigoureuses de la recherche fondamentale à la validation de produits dans plusieurs domaines clés :

• Test de puces : Évaluation complète des performances électriques des circuits intégrés, microprocesseurs et puces mémoire dans des conditions de température et de vide variables, y compris des paramètres critiques tels que le courant de fuite, la tension de seuil et la transconductance.
• Test de dispositifs optoélectroniques : Mesures photoélectriques précises pour les diodes laser (LD), les diodes électroluminescentes (LED) et les photodétecteurs (PD), évaluant l'efficacité lumineuse, la vitesse de réponse, les caractéristiques spectrales et la dégradation des performances dans des températures extrêmes.
• Test spectral de fibre optique : Évaluation de la perte de transmission, de la dispersion et d'autres paramètres optiques dans différentes conditions de température et de vide, crucial pour la construction de réseaux de communication optique stables.
• Test des caractéristiques IV/CV : Analyse approfondie des propriétés courant-tension et capacité-tension pour révéler les mécanismes de transport des porteurs, les structures de bandes et les caractéristiques d'interface.
• Test de l'effet Hall : Mesure du coefficient de Hall, de la concentration des porteurs et de la mobilité avec un bruit thermique et des effets de surface minimisés.
• Test de transport électromagnétique : Investigation des comportements de transport complexes sous des champs électriques/magnétiques combinés et des variations de température.
• Test des caractéristiques haute fréquence : Évaluation de la réponse haute fréquence et des propriétés d'impédance dans des conditions de vide et de température précisément contrôlées.

La série SCG atteint ses performances exceptionnelles grâce à plusieurs avancées technologiques :

Capable d'atteindre 10^-10 torr, minimisant l'adsorption de surface et la contamination tout en simulant des conditions similaires à celles de l'espace.

Dispose d'un réglage tridimensionnel XYZ avec une précision de positionnement de 2 µm et une fuite de courant ultra-faible (jusqu'à 100 fA à 25 °C).

Intègre une microscopie haute résolution avec un rapport de zoom de 7:1 (résolution de 4 µm) ou un microscope métallurgique en option (20X-1000X).

Fonctionne de 77 K à 473 K (extensible à 4,2 K) avec une résolution de 0,001 K et une stabilité de ±0,1 K.

Plateforme spécialisée isolant efficacement les vibrations externes pour des mesures de haute sensibilité.

La série SCG représente une avancée significative dans les équipements de test de semi-conducteurs haut de gamme, offrant aux chercheurs des capacités sans précédent pour explorer les effets quantiques dans de nouveaux matériaux semi-conducteurs, développer des dispositifs optoélectroniques plus efficaces et effectuer une vérification de fiabilité dans des conditions extrêmes. Cette plateforme innovante continue de repousser les limites de la découverte scientifique et de l'innovation technologique.