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Détails sur le produit:
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| Lieu d'origine: | Suzhou, Chine |
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| Nom de marque: | GoGo |
| Certification: | ISO 9001:2015 / ISO 14001:2015 / ISO 45001:2018 |
| Numéro de modèle: | EH600S-TB |
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Conditions de paiement et expédition:
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| Quantité de commande min: | 1 |
| Prix: | CNY 30000~600000/set |
| Détails d'emballage: | Boîte en carton + boîte en bois |
| Délai de livraison: | 30 ~ 60 jours ouvrables |
| Conditions de paiement: | T/T |
| Capacité d'approvisionnement: | 1set/jour |
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Détail Infomation |
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| Nom: | Étape haute température | Méthode de refroidissement/chauffage: | Chauffage de résistance |
|---|---|---|---|
| Plage de température: | RT~600℃ | Stabilité de la température: | ± 0,1 ℃ |
| Taux de chauffage/de refroidissement: | Taux de chauffage maximum : 150 ℃/min, taux de refroidissement contrôlable. | Support d'échantillon: | Argent ; 23 mm * 23 mm |
| Chemin optique: | Réflexion | Taille de la fenêtre supérieure: | φ25mm*1mm |
| Taille de la fenêtre inférieure: | φ10 mm * 1 mm (option de lumière transmise) | Matériau de la fenêtre: | Verre de silice fondu JGS2 (plage de transmission : 220 nm - 2 500 nm), amovible et remplaçable manu |
| Dégivrage des fenêtres: | Accessoire de purge de gaz, dégivrage par soufflage d'air à basse température | Distance entre la surface supérieure de la fenêtre et la surface supérieure du porte-échantillon: | 7mm |
| Hauteur de la chambre: | 6mm | Sonde: | Sondes coaxiales en carbure de tungstène plaquées or*4 |
| Port de sonde: | BNC triaxial*4 | Potentiel de l’étape d’échantillonnage: | Mise à la terre ou flottant électriquement |
| Chambre: | Atmosphère | Dimensions/Poids net: | 146,8 mm*143 mm*27 mm/0,6 kg |
| Configuration de base: | TNEX*1, étage de chauffage électrique*1, régulateur de température*1, refroidisseur à recirculation* | Facultatif: | Plaque d'adaptation/refroidisseur à recirculation personnalisé/sonde personnalisée/port de sonde |
| Mettre en évidence: | Étape à bas bruit et haute température,Étape de chauffage à faible bruit pour microscope,Étape de chauffage électrique pour microscope |
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Description de produit
La GoGo EH600S-TB est une platine de sonde conçue avec précision pour la caractérisation électrique avancée des matériaux et dispositifs semi-conducteurs à des températures élevées. Fonctionnant de la température ambiante à 600°C avec une stabilité exceptionnelle de ±0,1°C, ce système permet aux chercheurs d'étudier l'évolution des propriétés électriques en fonction de la température en temps réel sous un microscope. Sa caractéristique distinctive est l'intégration de quatre sondes coaxiales en carbure de tungstène plaqué or connectées via des ports BNC triaxiaux à faible bruit, garantissant l'intégrité du signal pour des mesures sensibles. En tant que platine de sonde polyvalente, elle offre la plateforme idéale pour les tests de précision I-V, C-V et de fiabilité des matériaux électroniques de nouvelle génération.
Conception à Faible Bruit pour des Mesures Sensibles : Cette platine de sonde est conçue avec des connexions BNC triaxiales et des sondes coaxiales pour minimiser les interférences électromagnétiques et les courants de fuite, permettant une caractérisation précise des dispositifs à haute impédance et des phénomènes à faible courant à des températures élevées.
Performances Haute Température avec Cyclage Rapide : Atteint des vitesses de chauffage rapides jusqu'à 150°C/min tout en maintenant une stabilité de ±0,1°C, permettant des études efficaces de cyclage thermique. Le support d'échantillon en argent assure une excellente uniformité thermique sur la zone d'échantillon de 23x23mm.
Analyse Optique-Électrique Intégrée : Le trajet optique de réflexion avec une fenêtre JGS2 à haute transmission (220-2500 nm) permet une corrélation visuelle directe des changements microstructuraux avec l'évolution des propriétés électriques pendant les cycles de chauffage.
Configuration de Sondage Flexible : Quatre sondes coaxiales en carbure de tungstène plaqué or fournissent des contacts stables et à faible résistance. La platine d'échantillon peut être configurée comme mise à la terre ou électriquement flottante pour s'adapter à différentes exigences de mesure.
Système Complet avec Contrôle Intelligent : Fourni comme une solution prête à l'emploi comprenant la plateforme logicielle TNEX pour le profilage automatisé de la température et l'acquisition de données synchronisée avec des analyseurs de paramètres externes.
| Paramètre | Spécification |
|---|---|
| Modèle / Marque | EH600S-TB / GoGo |
| Plage de Température | Température Ambiante ~ 600°C |
| Stabilité de Température | ±0,1°C |
| Vitesse de Chauffage Maximale | 150°C/min |
| Système de Sondes | 4 Sondes Coaxiales en Carbure de Tungstène Plaqué Or |
| Interface Électrique | 4 x Ports BNC Triaxiaux |
| Platine d'Échantillon | Mise à la Terre ou Électriquement Flottante |
| Trajet Optique | Réflexion |
| Logiciel de Contrôle | Plateforme TNEX |
Cette platine de sonde professionnelle dessert le secteur croissant de la recherche en semi-conducteurs sur les marchés internationaux clés, notamment l'Asie du Sud-Est, le Moyen-Orient, la Russie et l'Afrique. C'est un outil essentiel pour les laboratoires de microélectronique universitaires, les instituts de recherche gouvernementaux et les centres de R&D industriels axés sur les semi-conducteurs composés, les dispositifs de puissance et la caractérisation de matériaux avancés.
Qu'est-ce qui rend cette platine de sonde adaptée aux mesures de semi-conducteurs sensibles ? La combinaison des connexions BNC triaxiales et des sondes coaxiales offre un excellent blindage contre les interférences électromagnétiques, tandis que l'option de platine électriquement flottante minimise les boucles de masse, ce qui est essentiel pour des mesures précises de faible courant et de haute impédance.
Puis-je observer l'échantillon pendant les tests électriques ? Oui. Cette platine de sonde dispose d'une fenêtre d'observation supérieure pour une observation microscopique en temps réel, vous permettant de surveiller le contact des sondes et les changements de l'échantillon tout au long de l'expérience.
Quels types de dispositifs peuvent être testés ? Ce système est idéal pour caractériser une large gamme de dispositifs semi-conducteurs, y compris les diodes, les transistors, les capteurs MEMS et les structures de test sur divers substrats jusqu'à 600°C.
Comment le logiciel TNEX s'intègre-t-il à mon équipement de mesure ? Le logiciel contrôle le profil de température pendant que vous connectez votre source-mesure ou votre analyseur de paramètres aux ports BNC triaxiaux, permettant une collecte de données synchronisée sur tous les instruments.
Le système est-il prêt à être utilisé immédiatement ? Oui. La configuration de base comprend la platine de sonde, le contrôleur de température, le refroidisseur à recirculation, le logiciel TNEX et tous les câbles et accessoires nécessaires pour une installation immédiate dans votre laboratoire.
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