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商品の詳細:
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| 起源の場所: | 中国、蘇州 |
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| ブランド名: | GoGo |
| 証明: | ISO 9001:2015 / ISO 14001:2015 / ISO 45001:2018 |
| モデル番号: | EH600S-TB |
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お支払配送条件:
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| 最小注文数量: | 1 |
| 価格: | CNY 30000~600000/set |
| パッケージの詳細: | ダンボール箱+木箱 |
| 受渡し時間: | 30~60営業日 |
| 支払条件: | T/T |
| 供給の能力: | 1セット/日 |
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詳細情報 |
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| 名前: | 高温ステージ | 冷却/加熱方法: | 抵抗加熱 |
|---|---|---|---|
| 温度範囲: | 室温～600℃ | 温度安定性: | ±0.1℃ |
| 熱する/冷却率: | 最大加熱速度：150℃/min、制御可能な冷却速度 | サンプルホールド: | シルバー ；23mm*23mm |
| 光学道: | 反射 | 上部ウィンドウのサイズ: | φ25mm×1mm |
| 下部ウィンドウのサイズ: | φ10mm*1mm（透過光オプション） | 窓材: | JGS2 石英ガラス (透過範囲: 220 nm ～ 2500 nm)、手動で取り外しおよび交換可能。 |
| 窓の霜取り: | ガスパージアタッチメント、エアブロー低温霜取り | 窓上面からサンプルホルダー上面までの距離: | 7mm |
| チャンバーの高さ: | 6mm | プローブ: | 金メッキ炭化タングステン同軸プローブ*4 |
| プローブポート: | 3軸BNC※4 | サンプルステージの可能性: | 接地または電気的にフローティング |
| チャンバー: | 雰囲気 | 寸法/正味重量: | 146.8mm×143mm×27mm/0.6kg |
| 基本構成: | TNEX*1、通電加熱ステージ*1、温度調節器*1、循環チラー*1、ケーブル、チューブ、付属品 | オプション: | アダプタープレート/カスタマイズされた再循環チラー/カスタマイズされたプローブ/カスタマイズされたプローブポート/コンピュータホスト/カスタマイズされた温度制御ソフトウェア |
| ハイライト: | 低騒音 高温段階,マイクロスコープのための低騒音加熱ステージ,顕微鏡用の電気加熱段階 |
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製品の説明
GoGo EH600S-TBは,高温の半導体材料とデバイスの高度な電気特性化のために設計された精密設計のプローブステージです.室温から600°Cまで動作し,例外的な安定度 ±0このシステムにより 研究者は電子特性の温度依存進化を 顕微鏡でリアルタイムで研究できます低騒音の三軸BNCポートを通じて接続された4つの黄金塗装されたウルフスタンカービッド同軸探査機の統合です精密度I-V,C-V,C-V,C-V,C-V,C-V,C-V,C次の世代の電子材料の信頼性試験.
敏感測定のための低騒音設計:この探査機ステージは,電磁気干渉と漏れ電流を最小限に抑えるために,三軸BNC接続と同軸探査機で設計されています.高阻力装置と低電流現象を高温で正確に特徴付けることができる.
高温性能で高速サイクリング: 効率的な熱サイクリング研究を可能にする ±0.1°Cの安定性を維持しながら,1分間に150°Cまで高速な加熱率を達成する.銀のサンプルホルダーは,23x23mmサンプルエリア全体に優れた熱均一性を保証.
統合光学電気分析高伝導性のJGS2窓 (220-2500nm) を備えた反射光学経路は,加熱サイクル中の電気特性の進化と微細構造の変化の直接的な視覚的相関を可能にします.
柔軟な探査構成: 4つのゴールドプレートされたウルフスタンカービッド同軸探査機は安定した低抵抗接触を提供します.試料段階は,異なる測定要件に対応するために,地面または電動浮遊状態で構成することができます..
インテリジェント制御のシステム自動化温度プロファイリングと外部パラメータ分析器との同期データ収集のためのTNEXソフトウェアプラットフォームを含む使用準備済みのソリューションとして提供されます.
| パラメータ | 仕様 |
|---|---|
| モデル / ブランド | EH600S-TB / GoGo |
| 温度範囲 | RT ~ 600°C |
| 温度安定性 | ±0.1°C |
| 最大熱量 | 150°C/分 |
| 探査機システム | 4 黄金で塗装されたタングメンカービッド同軸探査機 |
| 電気インターフェース | 4 x 三軸BNCポート |
| サンプルステージ | 地上 に 固定 さ れ たり,電気に 漂う よう に し たり する |
| 光学経路 | 反省 |
| 制御ソフトウェア | TNEXプラットフォーム |
このプロのプローブステージは,東南アジア,中東,ロシア,アフリカを含む主要な国際市場で成長する半導体研究部門にサービスを提供しています.大学マイクロ電子研究所にとって不可欠なツールです複合半導体,電源装置,先進材料の特徴化に焦点を当てた産業研究開発センター.
この探査機ステージが 敏感な半導体測定に適しているのは?三軸BNC接続と同軸探査機の組み合わせは,電磁気干渉に対して優れたシールドを提供します低電流と高阻力測定の精度に欠かせない地回路を最小限に抑える.
この探査機ステージには リアルタイム顕微鏡で観察できる 上の視界がある実験中に探査機接触とサンプル変化を監視することができます.
このシステムでは,ダイオード,トランジスタ,MEMSセンサー,MEMSセンサーなど,幅広い半導体装置の特徴付けに最適です.600°Cまで,様々な基板の試験構造.
ソフトウェアは温度プロファイルを制御します ソースメーターやパラメータ分析機をすべての機器で同期データ収集を可能にする.
基本構成には 探査機 温度調節器 循環冷却器 TNEXソフトウェア必要なケーブルとアクセサリーを すぐさま 検査室に設置できます.
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