Niższy poziom hałasu, wysoka temperatura, elektryczny poziom ogrzewania

GoGo EH600S-TB jest precyzyjnie zaprojektowanym systemem prowadzenia sondy przeznaczonym do zaawansowanej charakterystyki elektrycznej materiałów i urządzeń półprzewodnikowych w podwyższonych temperaturach.Działanie w temperaturze pokojowej do 600°C z wyjątkową stabilnością ±0System ten umożliwia badaczom badanie zależnej od temperatury ewolucji właściwości elektrycznych w czasie rzeczywistym pod mikroskopem.Jego charakterystyczną cechą jest integracja czterech pozłacanych sond koaksjalnych z węglanu wolframu podłączonych za pośrednictwem nisko hałasowych trójosiowych portów BNCJako wszechstronna platforma sonda stanowi idealną platformę do dokładnych pomiarów I-V, C-V,i badania niezawodności materiałów elektronicznych nowej generacji.

• Projektowanie o niskim poziomie hałasu do czułych pomiarów: Ta faza sondy jest skonstruowana z trójosiowymi połączeniami BNC i sondami koaksjalnymi w celu zminimalizowania zakłóceń elektromagnetycznych i prądów wycieków,umożliwiające dokładną charakterystykę urządzeń o wysokiej impedancji i zjawisk niskiego prądu w podwyższonych temperaturach.

• Wydajność wysokiej temperatury przy szybkim cyklu: osiąga szybkość ogrzewania do 150 °C/min przy zachowaniu stabilności ± 0,1 °C, co umożliwia efektywne badania cyklu termicznego.Srebrny uchwyt do próbek zapewnia doskonałą jednolitość termiczną na powierzchni próbki 23x23 mm.

• Zintegrowana analiza optyczno-elektryczna:Ścieżka optyczna odbicia z oknem JGS2 o wysokiej przepustowości (220-2500 nm) umożliwia bezpośrednią wizualną korelację zmian mikrostrukturalnych z ewolucją właściwości elektrycznych podczas cykli grzewczych.

• Elastyczna konfiguracja sond: cztery pozłacane sondy koaksjalne z węglanu wolframu zapewniają stabilne kontakty o niskim oporze.Etap próbki może być skonfigurowany jako uziemiony lub elektrycznie pływający, aby uwzględnić różne wymagania pomiarowe.

• Kompletny system z inteligentnym sterowaniem:Dostarczane jako gotowe do użycia rozwiązanie obejmujące platformę oprogramowania TNEX do automatycznego profilowania temperatury i zsynchronizowanego pozyskiwania danych z zewnętrznymi analizatorami parametrów.

Ten profesjonalny Probe Stage obsługuje rosnący sektor badań nad półprzewodnikami na kluczowych rynkach międzynarodowych, w tym w Azji Południowo-Wschodniej, na Bliskim Wschodzie, w Rosji i w Afryce.To niezbędne narzędzie dla uniwersyteckich laboratoriów mikroelektroniki., rządowych instytutów badawczych i przemysłowych ośrodków badawczo-rozwojowych koncentrujących się na półprzewodnikach złożonych, urządzeniach zasilania i zaawansowanej charakterystyce materiałów.

1. Co sprawia, że ten etap sondy nadaje się do czułych pomiarów półprzewodników?Połączenie trójosiowych połączeń BNC i sond koaksjalnych zapewnia doskonałą osłonę przed interferencją elektromagnetyczną, podczas gdy opcja elektrycznie pływającej fazy minimalizuje pętle naziemne, które są kluczowe dla dokładnych pomiarów niskiego prądu i wysokiej impedancji.

2. Czy mogę obserwować próbkę podczas badań elektrycznych?umożliwiające monitorowanie kontaktu z sondą i zmian próbki w trakcie eksperymentu.

3. System ten jest idealny do charakterystyki szerokiej gamy urządzeń półprzewodnikowych, w tym diod, tranzystorów, czujników MEMS,i struktur testowych na różnych podłogach do 600°C.

4. Jak oprogramowanie TNEX integruje się z moim sprzętem pomiarowym? oprogramowanie kontroluje profil temperatury podczas podłączenia licznika źródła lub analizatora parametrów do trójosiowych portów BNC,umożliwienie zsynchronizowanego gromadzenia danych we wszystkich instrumentach.

5. System jest gotowy do natychmiastowego użycia?i wszystkie niezbędne kable i akcesoria do natychmiastowego ustawienia w laboratorium.