Rauscharm Hochtemperatur-Objekttisch für Mikroskop

Produktdetails:
Herkunftsort: Suzhou, China
Markenname: GoGo
Zertifizierung: ISO 9001:2015 / ISO 14001:2015 / ISO 45001:2018
Modellnummer: EH600S-TB
Zahlung und Versand AGB:
Min Bestellmenge: 1
Preis: CNY 30000~600000/set
Verpackung Informationen: Karton + Holzkiste
Lieferzeit: 30~60 Arbeitstage
Zahlungsbedingungen: T/T
Versorgungsmaterial-Fähigkeit: 1 Satz/Tag
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Detailinformationen

Name: Hochtemperaturstufe Kühl-/Heizverfahren: Widerstand-Heizung
Temperaturbereich: RT~600℃ Temperaturstabilität: ± 0,1 ℃
Heizungs/abkühlende Rate: Maximale Heizrate: 150 ℃/min, steuerbare Kühlrate Probe Holde: Silber ;23mm*23mm
Strahlengang: Betrachtung Größe des oberen Fensters: φ25mm*1mm
Größe des unteren Fensters: φ10mm*1mm (Durchlichtoption) Fenstermaterial: JGS2 Quarzglas (Transmissionsbereich: 220 nm – 2500 nm), manuell abnehmbar und austauschbar.
Scheibenentfrostung: Gasspülaufsatz, Abtauen mit Luft bei niedrigen Temperaturen Abstand von der oberen Oberfläche des Fensters zur oberen Oberfläche des Probenhalters: 7mm
Kammerhöhe: 6mm Sonde: Vergoldete Koaxialsonden aus Wolframkarbid*4
Sondenanschluss: Triaxialer BNC*4 Beispielhaftes Bühnenpotenzial: Geerdet oder elektrisch erdfrei
Kammer: Atmosphäre Abmessungen/Nettogewicht: 146,8 mm x 143 mm x 27 mm/0,6 kg
Grundkonfiguration: TNEX*1, elektrische Heizstufe*1, Temperaturregler*1, Umlaufkühler*1, Kabel, Schläuche und Zubehör Optional: Adapterplatte/kundenspezifischer Umlaufkühler/kundenspezifische Sonde/kundenspezifischer Sondenansch
Hervorheben:

Rauscharm Hochtemperatur-Objekttisch

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Rauscharm Heiztisch für Mikroskop

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Elektrischer Heiztisch für Mikroskop

Produkt-Beschreibung

Hochtemperatur-Elektronenprüfstand mit einem Bereich von Raumtemperatur bis 600°C, ±0,1°C Stabilität und 150°C/min Heizrate für präzise Halbleitertests
Produktname: GoGo EH600S-TB Hochtemperatur-Rauscharmes Prüfstand für präzise Halbleitertests (Raumtemperatur bis 600°C)
Produkteinführung

Der GoGo EH600S-TB ist ein präzisionsgefertigter Prüfstand, der für die fortschrittliche elektrische Charakterisierung von Halbleitermaterialien und -bauelementen bei erhöhten Temperaturen entwickelt wurde. Dieses System arbeitet von Raumtemperatur bis 600°C mit einer außergewöhnlichen Stabilität von ±0,1°C und ermöglicht es Forschern, die temperaturabhängige Entwicklung elektrischer Eigenschaften in Echtzeit unter einem Mikroskop zu untersuchen. Sein herausragendes Merkmal ist die Integration von vier goldbeschichteten Wolframkarbid-Koaxialsonden, die über rauscharme Triaxial-BNC-Anschlüsse verbunden sind und so die Signalintegrität für empfindliche Messungen gewährleisten. Als vielseitiger Prüfstand bietet er die ideale Plattform für präzise I-V-, C-V- und Zuverlässigkeitsprüfungen von elektronischen Materialien der nächsten Generation.

Hauptvorteile & Warum unser System wählen
  • Rauscharmes Design für empfindliche Messungen: Dieser Prüfstand ist mit Triaxial-BNC-Anschlüssen und Koaxialsonden ausgestattet, um elektromagnetische Störungen und Leckströme zu minimieren, was eine genaue Charakterisierung von Hochimpedanzbauelementen und Niedrigstromphänomenen bei erhöhten Temperaturen ermöglicht.

  • Hochtemperaturleistung mit schnellem Zyklus: Erreicht schnelle Heizraten von bis zu 150°C/min bei gleichzeitiger Beibehaltung einer Stabilität von ±0,1°C, was effiziente thermische Zyklusstudien ermöglicht. Der Silber-Probenhalter sorgt für eine ausgezeichnete thermische Gleichmäßigkeit über die 23x23mm große Probenfläche.

  • Integrierte optisch-elektrische Analyse: Der reflektierende optische Pfad mit einem hochtransparenten JGS2-Fenster (220-2500 nm) ermöglicht die direkte visuelle Korrelation von mikrostrukturellen Änderungen mit der Entwicklung elektrischer Eigenschaften während der Heizzyklen.

  • Flexible Prüfkonfiguration: Vier goldbeschichtete Wolframkarbid-Koaxialsonden sorgen für stabile, niederohmige Kontakte. Der Probentisch kann geerdet oder elektrisch schwebend konfiguriert werden, um unterschiedlichen Messanforderungen gerecht zu werden.

  • Komplettsystem mit intelligenter Steuerung: Wird als sofort einsatzbereite Lösung geliefert, einschließlich der TNEX-Softwareplattform für automatisiertes Temperaturprofiling und synchronisierte Datenerfassung mit externen Parameteranalysatoren.

Technische Spezifikationen
Parameter Spezifikation
Modell / Marke EH600S-TB / GoGo
Temperaturbereich RT ~ 600°C
Temperaturstabilität ±0,1°C
Max. Heizrate 150°C/min
Prüfsystem 4 goldbeschichtete Wolframkarbid-Koaxialsonden
Elektrische Schnittstelle 4 x Triaxial-BNC-Anschlüsse
Probenhalter Geerdet oder elektrisch schwebend
Optischer Pfad Reflexion
Steuersoftware TNEX-Plattform
Zielmärkte & Kunden

Dieser professionelle Prüfstand bedient den wachsenden Halbleiterforschungssektor in wichtigen internationalen Märkten, darunter Südostasien, der Nahe Osten, Russland und Afrika. Er ist ein unverzichtbares Werkzeug für universitäre Mikroelektroniklabore, staatliche Forschungsinstitute und industrielle F&E-Zentren, die sich auf Verbindungshalbleiter, Leistungshalbleiter und die Charakterisierung fortschrittlicher Materialien konzentrieren.

Häufig gestellte Fragen (FAQ)
  1. Was macht diesen Prüfstand für empfindliche Halbleitermessungen geeignet? Die Kombination aus Triaxial-BNC-Anschlüssen und Koaxialsonden bietet eine hervorragende Abschirmung gegen elektromagnetische Störungen, während die Option eines elektrisch schwebenden Tisches Masseschleifen minimiert – entscheidend für genaue Niedrigstrom- und Hochimpedanzmessungen.

  2. Kann ich die Probe während der elektrischen Prüfung beobachten? Ja. Dieser Prüfstand verfügt über ein oberes Sichtfenster für die Echtzeit-Mikroskopbeobachtung, mit dem Sie den Sondenkontakt und die Probenänderungen während des Experiments überwachen können.

  3. Welche Arten von Bauelementen können getestet werden? Dieses System ist ideal für die Charakterisierung einer breiten Palette von Halbleiterbauelementen, einschließlich Dioden, Transistoren, MEMS-Sensoren und Teststrukturen auf verschiedenen Substraten bis zu 600°C.

  4. Wie integriert sich die TNEX-Software mit meiner Messeinrichtung? Die Software steuert das Temperaturprofil, während Sie Ihr Quellmessgerät oder Ihren Parameteranalysator an die Triaxial-BNC-Anschlüsse anschließen, was eine synchronisierte Datenerfassung über alle Instrumente hinweg ermöglicht.

  5. Ist das System sofort einsatzbereit? Ja. Die Grundkonfiguration umfasst den Prüfstand, den Temperaturregler, den Umluftkühler, die TNEX-Software und alle notwendigen Kabel und Zubehörteile für die sofortige Einrichtung in Ihrem Labor.

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