Étage de sonde à ultra-haute température pour mesure électrique de résistivité

Nom du produit : Platine de Sonde sous Vide Ultra-Haute Température GoGo EH1500V-R pour la Caractérisation de la Résistivité des Polymères Conducteurs (1500°C)

Introduction du produit

La GoGo EH1500V-R est une platine de sonde spécialisée ultra-haute température conçue pour la caractérisation électrique précise de matériaux avancés, y compris les polymères conducteurs, le caoutchouc et les plastiques. Utilisant la méthode de sonde à quatre points standard de l'industrie, ce système est conçu pour étudier avec précision les caractéristiques de résistivité des matériaux sur un spectre de température extrême, de l'ambiante à 1500°C. Sa conception optique unique intègre un trajet lumineux incident latéral, permettant une mesure électrique simultanée et l'observation d'échantillons sur un support en céramique compact dans une chambre compatible avec l'atmosphère ou le vide. Pilotée par le logiciel intégré TNEX, cette platine de sonde offre la stabilité et le contrôle requis pour des recherches révolutionnaires sur les composites conducteurs de nouvelle génération.

Avantages clés et pourquoi choisir notre système

• Analyse électrique inégalée à haute température : Cette platine de sonde fournit une plateforme fiable pour les mesures de résistivité à quatre points de sonde à des températures allant jusqu'à 1500°C avec une excellente stabilité de ±0,1°C, une capacité essentielle pour étudier les limites de performance des polymères conducteurs et d'autres matériaux sensibles à la température.

• Conception optique innovante avec observation latérale : Dotée d'un trajet optique incident latéral de 30° à travers une ouverture de Ø15mm, la platine permet des angles de visualisation uniques de l'échantillon. Cette conception est particulièrement bénéfique pour surveiller le contact de la sonde et la morphologie de l'échantillon pendant les tests à haute température sans interférence optique descendante.

• Compatibilité polyvalente sous vide et atmosphérique : La chambre prend en charge les conditions atmosphériques et sous vide, permettant des études sur des matériaux sensibles à l'oxydation ou nécessitant des environnements contrôlés. La hauteur variable de la chambre (0-3mm avec sondes) s'adapte à différentes configurations d'échantillons et de sondes.

• Optimisé pour les matériaux souples et composites : Le système est idéalement configuré pour tester des matériaux plus souples comme le caoutchouc et le plastique conducteurs, offrant une plateforme stable et un contact de sonde précis essentiels pour obtenir des données de résistivité reproductibles sur de larges plages de température.

• Précision certifiée et contrôle intelligent : Fabriqué selon des processus certifiés ISO 9001, 14001 et 45001. Le logiciel TNEX permet l'automatisation complète de profils complexes température-résistivité, garantissant l'intégrité des données et l'efficacité expérimentale.

Spécifications techniques

Marchés cibles et clients

Cette platine de sonde avancée est conçue pour répondre aux exigences de recherche dans des régions clés du monde, notamment l'Asie du Sud-Est, le Moyen-Orient, la Russie et l'Afrique. C'est un outil indispensable pour les départements de science des matériaux universitaires, les centres de R&D industriels et les instituts de recherche spécialisés axés sur les polymères fonctionnels, les matériaux composites et l'électronique haute température.

Questions fréquemment posées (FAQ)

1. Pourquoi cette platine de sonde est-elle particulièrement adaptée aux tests de caoutchouc et de plastique conducteurs ? Sa conception privilégie un contact stable et à faible contrainte avec les matériaux plus souples à l'aide de quatre sondes en tungstène pur, et elle fonctionne dans des environnements contrôlés (vide) pour éviter la dégradation, ce qui est crucial pour une mesure précise de la résistivité à haute température des polymères.

2. Quel est l'avantage de la conception optique à incident latéral ? Le port de visualisation latérale offre une ligne de visée claire sur l'échantillon et la zone de contact de la sonde sous un angle oblique. Ceci est inestimable pour vérifier le placement de la sonde, surveiller les changements de l'échantillon ou intégrer un éclairage spécialisé sans les contraintes d'une vue descendante à travers la fenêtre principale.

3. Comment la capacité de vide améliore-t-elle les tests de matériaux ? De nombreux polymères conducteurs sont sensibles à l'oxydation à haute température. La chambre compatible sous vide permet de tester ces matériaux dans un environnement inerte ou sans oxygène, révélant leurs véritables propriétés électriques intrinsèques sans effets d'oxydation.

4. Que mesure la méthode de sonde à quatre points et pourquoi est-elle utilisée ? La méthode de sonde à quatre points est utilisée pour mesurer la résistivité surfacique ou volumique d'un matériau. Elle élimine la résistance de contact entre la sonde et l'échantillon, fournissant une mesure plus précise de la propriété électrique intrinsèque du matériau qu'une méthode à deux points.

5. Le système est-il prêt pour des profils complexes température-résistivité ? Absolument. Contrôlée par le logiciel TNEX, cette platine de sonde peut exécuter des rampes et des maintiens de température sophistiqués pendant que vous utilisez un mesureur de source externe pour automatiser les mesures de résistivité à chaque étape, créant ainsi des tracés de caractérisation détaillés.