Tahap Probe Suhu Sangat Tinggi Pengukuran Listrik Tahap Untuk Pengujian Resistivitas

Nama Produk: GoGo EH1500V-R Panggung Probe Vakum Suhu Sangat Tinggi untuk Karakterisasi Resistivitas Polimer Konduktif (1500°C)

Pengantar Produk

GoGo EH1500V-R adalah Panggung Probe Suhu Sangat Tinggi khusus yang dirancang untuk karakterisasi listrik yang presisi dari material canggih, termasuk polimer konduktif, karet, dan plastik. Memanfaatkan metode probe empat titik standar industri, sistem ini direkayasa untuk menyelidiki karakteristik resistivitas material secara akurat di seluruh spektrum suhu ekstrem dari suhu ambien hingga 1500°C. Desain optiknya yang unik menggabungkan jalur cahaya insiden samping, memungkinkan pengukuran listrik simultan dan pengamatan sampel pada pemegang keramik ringkas di dalam ruang yang kompatibel dengan atmosfer atau vakum. Diatur oleh perangkat lunak TNEX terintegrasi, Panggung Probe ini memberikan stabilitas dan kontrol yang diperlukan untuk penelitian terobosan pada komposit konduktif generasi berikutnya.

Keunggulan Utama & Mengapa Memilih Sistem Kami

• Analisis Listrik Suhu Tinggi yang Tak Tertandingi: Panggung Probe ini menyediakan platform yang andal untuk pengukuran resistivitas probe empat titik pada suhu hingga 1500°C dengan stabilitas ±0,1°C yang sangat baik, kemampuan penting untuk mempelajari batas kinerja polimer konduktif dan material sensitif suhu lainnya.

• Desain Optik Observasi Samping yang Inovatif: Menampilkan jalur optik insiden samping 30° melalui bukaan Ø15mm, panggung memungkinkan sudut pandang sampel yang unik. Desain ini sangat bermanfaat untuk memantau kontak probe dan morfologi sampel selama pengujian suhu tinggi tanpa gangguan optik dari atas ke bawah.

• Kompatibilitas Vakum & Atmosfer yang Serbaguna: Ruang mendukung kondisi atmosfer dan vakum, memungkinkan studi pada material yang sensitif terhadap oksidasi atau memerlukan lingkungan yang terkontrol. Ketinggian ruang yang dapat diubah (0-3mm dengan probe) mengakomodasi konfigurasi sampel dan probe yang berbeda.

• Dioptimalkan untuk Material Lunak & Komposit: Sistem ini dikonfigurasi secara ideal untuk menguji material yang lebih lunak seperti karet dan plastik konduktif, menyediakan platform yang stabil dan kontak probe yang presisi yang penting untuk mendapatkan data resistivitas yang dapat direproduksi di berbagai rentang suhu.

• Presisi Bersertifikat & Kontrol Cerdas: Diproduksi di bawah proses bersertifikat ISO 9001, 14001, dan 45001. Perangkat lunak TNEX memungkinkan otomatisasi penuh profil suhu-resistivitas yang kompleks, memastikan integritas data dan efisiensi eksperimental.

Spesifikasi Teknis

Target Pasar & Klien

Panggung Probe canggih ini disesuaikan untuk memenuhi tuntutan penelitian di wilayah global utama, termasuk Asia Tenggara, Timur Tengah, Rusia, dan Afrika. Ini adalah alat yang sangat diperlukan untuk departemen ilmu material universitas, pusat R&D industri, dan lembaga penelitian khusus yang berfokus pada polimer fungsional, material komposit, dan elektronik suhu tinggi.

Pertanyaan yang Sering Diajukan (FAQ)

1. Mengapa Panggung Probe ini secara khusus cocok untuk pengujian karet dan plastik konduktif? Desainnya memprioritaskan kontak yang stabil dan tegangan rendah dengan material yang lebih lunak menggunakan empat probe tungsten murni, dan beroperasi di lingkungan yang terkontrol (vakum) untuk mencegah degradasi, yang sangat penting untuk pengukuran resistivitas suhu tinggi polimer yang akurat.

2. Apa manfaat dari desain optik insiden samping? Port pandang samping memberikan garis pandang yang jelas ke sampel dan area kontak probe dari sudut miring. Ini sangat berharga untuk memverifikasi penempatan probe, memantau perubahan sampel, atau mengintegrasikan pencahayaan khusus tanpa batasan pandangan dari atas ke bawah melalui jendela utama.

3. Bagaimana kemampuan vakum meningkatkan pengujian material? Banyak polimer konduktif sensitif terhadap oksidasi pada suhu tinggi. Ruang yang kompatibel dengan vakum memungkinkan material ini diuji di lingkungan inert atau bebas oksigen, mengungkapkan sifat listrik intrinsiknya yang sebenarnya tanpa efek oksidasi.

4. Apa yang diukur oleh metode probe empat titik, dan mengapa digunakan? Metode probe empat titik digunakan untuk mengukur resistivitas lembaran atau volume suatu material. Ini menghilangkan resistansi kontak antara probe dan sampel, memberikan pengukuran yang lebih akurat dari sifat listrik intrinsik material daripada metode dua titik.

5. Apakah sistem siap untuk pemrofilan suhu-resistivitas yang kompleks? Tentu saja. Dikendalikan oleh perangkat lunak TNEX, Panggung Probe ini dapat mengeksekusi ramp dan penahanan suhu yang canggih sementara Anda menggunakan pengukur sumber eksternal untuk mengotomatiskan pengukuran resistivitas pada setiap langkah, membuat plot karakterisasi terperinci.