प्रतिरोधकता परीक्षण के लिए अल्ट्रा हाई टेम्परेचर प्रोब स्टेज इलेक्ट्रिकल मापन स्टेज

उत्पाद विवरण:
उत्पत्ति के प्लेस: सूज़ौ, चीन
ब्रांड नाम: GoGo
प्रमाणन: ISO 9001:2015 / ISO 14001:2015 / ISO 45001:2018
मॉडल संख्या: EH1500V-आर
भुगतान & नौवहन नियमों:
न्यूनतम आदेश मात्रा: 1
मूल्य: CNY 30000~600000/set
पैकेजिंग विवरण: कार्डबोर्ड बॉक्स + लकड़ी का बॉक्स
प्रसव के समय: 30~60 कार्य दिवस
भुगतान शर्तें: टी/टी
आपूर्ति की क्षमता: 1सेट/दिन
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विस्तार जानकारी

नाम: जांच चरण शीतलन/ताप विधि: प्रतिरोध ताप
तापमान की रेंज: आरटी~1500℃ तापमान स्थिरता: ± 0.1 ℃
हीटिंग/शीतलन दर: अधिकतम ताप दर: 150℃/मिनट, नियंत्रणीय शीतलन दर नमूना होल्डे: सिरेमिक;φ16मिमी
ऑप्टिकल पथ: परावर्तन (Ø15 मिमी एपर्चर के माध्यम से 30° पर साइड-घटना) शीर्ष विंडो का आकार: φ25मिमी*1मिमी
निचली खिड़की का आकार: φ10मिमी*0.5मिमी खिड़की सामग्री: JGS2 फ्यूज्ड सिलिका ग्लास (ट्रांसमिशन रेंज: 220 एनएम - 2500 एनएम), मैन्युअल रूप से हटाने योग्य और बद
खिड़की की ऊपरी सतह से नमूना धारक की ऊपरी सतह तक की दूरी: 53.5 मिमी (स्लैश) चैंबर की ऊंचाई: जांच के बिना: 7.9 मिमी; जांच के साथ: 0~3 मिमी
जांच: शुद्ध टंगस्टन जांच*4 जांच बंदरगाह: बीएनसी*4
नमूना चरण क्षमता: विद्युत रूप से तैरता हुआ कक्ष: वायुमंडल या निर्वात
DIMENSIONS: 226मिमी×185.4मिमी×81मिमी शुद्ध वजन: 2.05 किग्रा
मूल विन्यास: टीएनईएक्स*1、अल्ट्रा-हाई-टी इलेक्ट्रिकल हीटिंग स्टेज*1、तापमान नियंत्रक*1、रीसर्क्युलेटिंग चिलर*1、केबल् वैकल्पिक: एडाप्टर प्लेट/अनुकूलित रीसर्क्युलेटिंग चिलर/अनुकूलित जांच/अनुकूलित जांच पोर्ट/कंप्यूटर होस्ट/अनुकूलि
प्रमुखता देना:

अल्ट्रा हाई टेम्परेचर प्रोब स्टेज

,

इलेक्ट्रिकल मापन स्टेज

,

अल्ट्रा हाई टेम्परेचर मापन स्टेज

उत्पाद विवरण

प्रतिरोधकता परीक्षण के लिए चार बिंदु जांच विधि और सिरेमिक नमूना धारक के साथ अल्ट्रा-उच्च तापमान 1500°C जांच चरण

उत्पाद का नाम: GoGo EH1500V-R अति-उच्च तापमान वैक्यूम जांच चरण प्रवाहकीय बहुलकों (1500°C) के प्रतिरोध विशेषता के लिए

उत्पाद का परिचय

GoGo EH1500V-R एक विशेष अल्ट्रा-उच्च तापमान जांच चरण है जिसे उन्नत सामग्री के सटीक विद्युत विशेषता के लिए डिज़ाइन किया गया है, जिसमें प्रवाहकीय बहुलक, रबर और प्लास्टिक शामिल हैं।उद्योग मानक चार बिंदु जांच विधि का उपयोग करना, यह प्रणाली परिवेश से 1500°C तक के चरम तापमान स्पेक्ट्रम में सामग्री के प्रतिरोध गुणों की सटीक जांच करने के लिए डिज़ाइन की गई है।इसके अनूठे ऑप्टिकल डिजाइन में एक साइड-इंसीडेंट लाइट पथ शामिल है, एक वायुमंडल या वैक्यूम संगत कक्ष में एक कॉम्पैक्ट सिरेमिक धारक पर एक साथ विद्युत माप और नमूने की अवलोकन करने में सक्षम। एकीकृत TNEX सॉफ्टवेयर द्वारा शासित,यह जांच चरण अगली पीढ़ी के प्रवाहकीय कम्पोजिट पर अभिनव अनुसंधान के लिए आवश्यक स्थिरता और नियंत्रण प्रदान करता है.

मुख्य लाभ और हमारी प्रणाली क्यों चुनें

  • अद्वितीय उच्च तापमान विद्युत विश्लेषणः यह जांच चरण उत्कृष्ट ± 0 के साथ 1500 °C तक के तापमान पर चार बिंदु जांच प्रतिरोध माप के लिए एक विश्वसनीय मंच प्रदान करता है।1°C स्थिरता, एक महत्वपूर्ण क्षमता प्रवाहकीय बहुलक और अन्य तापमान-संवेदनशील सामग्री के प्रदर्शन सीमाओं का अध्ययन करने के लिए।

  • अभिनव साइड-ऑब्जर्वेशन ऑप्टिकल डिज़ाइनः Ø15 मिमी एपर्चर के माध्यम से 30° साइड-इंसीडेंट ऑप्टिकल पथ की विशेषता, मंच अद्वितीय नमूना देखने के कोणों की अनुमति देता है।यह डिजाइन विशेष रूप से ऊपर से नीचे ऑप्टिकल हस्तक्षेप के बिना उच्च तापमान परीक्षण के दौरान जांच संपर्क और नमूना आकृति की निगरानी के लिए फायदेमंद है.

  • बहुमुखी वैक्यूम और वायुमंडल संगतताः कक्ष वायुमंडलीय और वैक्यूम दोनों स्थितियों का समर्थन करता है, जिससे ऑक्सीकरण के प्रति संवेदनशील सामग्री या नियंत्रित वातावरण की आवश्यकता पर अध्ययन संभव हो जाता है।चर कक्ष ऊंचाई (0-3 मिमी जांच के साथ) विभिन्न नमूना और जांच विन्यास समायोजित करता है.

  • नरम और मिश्रित सामग्री के लिए अनुकूलित: प्रणाली आदर्श रूप से नरम सामग्री जैसे प्रवाहकीय रबर और प्लास्टिक के परीक्षण के लिए कॉन्फ़िगर की गई है,एक स्थिर मंच और विस्तृत तापमान सीमाओं में पुनः प्रयोज्य प्रतिरोध डेटा प्राप्त करने के लिए आवश्यक सटीक जांच संपर्क प्रदान करना.

  • प्रमाणित परिशुद्धता और बुद्धिमान नियंत्रणः आईएसओ 9001, 14001 और 45001 प्रमाणित प्रक्रियाओं के तहत निर्मित। TNEX सॉफ्टवेयर जटिल तापमान-प्रतिरोधकता प्रोफाइल के पूर्ण स्वचालन को सक्षम करता है,डेटा की अखंडता और प्रयोगात्मक दक्षता सुनिश्चित करना.

तकनीकी विनिर्देश

पैरामीटर विनिर्देश
मॉडल / ब्रांड EH1500V-R / GoGo
प्राथमिक अनुप्रयोग प्रवाहकीय पॉलिमर/रबर/प्लास्टिक के प्रतिरोध परीक्षण
तापमान सीमा RT ~ 1500°C
तापमान स्थिरता ±0.1°C
अधिकतम ताप दर 150°C/मिनट
माप पद्धति चार-बिंदु जांच
नमूना धारक सिरेमिक, φ16 मिमी
ऑप्टिकल पथ प्रतिबिंब (30° साइड-इंसिडेंट)
कक्ष वातावरण वायुमंडल या निर्वात
नियंत्रण सॉफ्टवेयर TNEX प्लेटफार्म

लक्षित बाजार और ग्राहक

यह उन्नत जांच चरण दक्षिण पूर्व एशिया, मध्य पूर्व, रूस और अफ्रीका सहित प्रमुख वैश्विक क्षेत्रों में अनुसंधान मांगों को पूरा करने के लिए तैयार किया गया है।यह विश्वविद्यालय के सामग्री विज्ञान विभागों के लिए एक अपरिहार्य उपकरण है।, औद्योगिक अनुसंधान एवं विकास केंद्र और कार्यात्मक बहुलक, समग्र सामग्री और उच्च तापमान इलेक्ट्रॉनिक्स पर केंद्रित विशेष अनुसंधान संस्थान।

अक्सर पूछे जाने वाले प्रश्न (FAQ)

  1. यह प्रोब स्टेज विशेष रूप से प्रवाहकीय रबर और प्लास्टिक परीक्षण के लिए उपयुक्त क्यों है? इसका डिजाइन चार शुद्ध वोल्फ्रेम जांच का उपयोग कर नरम सामग्री के साथ स्थिर, कम तनाव संपर्क को प्राथमिकता देता है,और यह नियंत्रण वाले वातावरण में काम करता है (वीक्यूम) गिरावट को रोकने के लिए, जो बहुलक के उच्च तापमान प्रतिरोधकता के सटीक माप के लिए महत्वपूर्ण है।

  2. साइड-इंसीडेंट ऑप्टिकल डिजाइन का क्या लाभ है? साइड-व्यूइंग पोर्ट एक तिरछी कोण से नमूना और जांच संपर्क क्षेत्र के लिए एक स्पष्ट दृष्टि रेखा प्रदान करता है।यह जांच प्लेसमेंट सत्यापित करने के लिए अमूल्य है, नमूना परिवर्तनों की निगरानी, या मुख्य खिड़की के माध्यम से ऊपर से नीचे देखने के प्रतिबंधों के बिना विशेष प्रकाश व्यवस्था को एकीकृत करना।

  3. वैक्यूम क्षमता सामग्री परीक्षण को कैसे बढ़ाती है? कई प्रवाहकीय बहुलक उच्च तापमान पर ऑक्सीकरण के प्रति संवेदनशील होते हैं।वैक्यूम संगत कक्ष इन सामग्रियों को निष्क्रिय या ऑक्सीजन मुक्त वातावरण में परीक्षण करने की अनुमति देता है, ऑक्सीकरण प्रभावों के बिना उनके वास्तविक आंतरिक विद्युत गुणों को प्रकट करता है।

  4. चार-बिंदु जांच विधि क्या मापती है, और इसका उपयोग क्यों किया जाता है?यह जांच और नमूना के बीच संपर्क प्रतिरोध को समाप्त करता है, दो बिंदु पद्धति की तुलना में सामग्री के आंतरिक विद्युत गुणों का अधिक सटीक माप प्रदान करता है।

  5. क्या प्रणाली जटिल तापमान-प्रतिरोधकता प्रोफाइलिंग के लिए तैयार है? बिल्कुल।इस जांच चरण परिष्कृत तापमान रैंप निष्पादित कर सकते हैं और आप प्रत्येक चरण में प्रतिरोध माप स्वचालित करने के लिए एक बाहरी स्रोत मीटर का उपयोग करते हुए पकड़ता है, विस्तृत विशेषता ग्राफ बनाने।

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