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उत्पाद विवरण:
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| उत्पत्ति के प्लेस: | सूज़ौ, चीन |
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| ब्रांड नाम: | GoGo |
| प्रमाणन: | ISO 9001:2015 / ISO 14001:2015 / ISO 45001:2018 |
| मॉडल संख्या: | ECH600 |
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भुगतान & नौवहन नियमों:
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| न्यूनतम आदेश मात्रा: | 1 |
| मूल्य: | CNY 30000~600000/set |
| पैकेजिंग विवरण: | कार्डबोर्ड बॉक्स + लकड़ी का बॉक्स |
| प्रसव के समय: | 30~60 कार्य दिवस |
| भुगतान शर्तें: | टी/टी |
| आपूर्ति की क्षमता: | 1सेट/दिन |
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विस्तार जानकारी |
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| नाम: | जांच चरण | शीतलन/ताप विधि: | तरल नाइट्रोजन शीतलन, प्रतिरोध हीटिंग |
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| तापमान की रेंज: | -190℃~600℃ | तापमान स्थिरता: | ± 0.1 ℃ |
| हीटिंग/शीतलन दर: | अधिकतम ताप दर:150℃/मिनट, अधिकतम शीतलन दर:40℃/मिनट | नमूना होल्डे: | चांदी ;23मिमी*23मिमी |
| ऑप्टिकल पथ: | प्रतिबिंब | शीर्ष विंडो का आकार: | φ25मिमी*1मिमी |
| निचली खिड़की का आकार: | φ10मिमी*1मिमी (संचारित प्रकाश विकल्प) | खिड़की सामग्री: | JGS2 फ्यूज्ड सिलिका ग्लास (ट्रांसमिशन रेंज: 220 एनएम - 2500 एनएम), मैन्युअल रूप से हटाने योग्य और बद |
| विंडो डीफ्रॉस्टिंग: | गैस पर्ज अटैचमेंट, कम तापमान पर एयर ब्लोइंग डिफ्रॉस्टिंग | खिड़की की ऊपरी सतह से नमूना धारक की ऊपरी सतह तक की दूरी: | 7 मिमी |
| चैंबर की ऊंचाई: | 6 मिमी | जांच: | फिक्स्ड प्रोब होल्डर्स*4 + गोल्ड-प्लेटेड टंगस्टन स्टील प्रोब*4 |
| जांच बंदरगाह: | बीएनसी*4 | नमूना चरण क्षमता: | ग्राउंडेड या इलेक्ट्रिकली फ्लोटिंग |
| कक्ष: | वायुमंडल | आयाम/शुद्ध वजन: | 160 मिमी * 150 मिमी * 30 मिमी / 160 मिमी * 150 मिमी * 30 मिमी (धौंकनी के बिना); 1.5 किग्रा / 1.6 किग |
| मूल विन्यास: | टीएनईएक्स*1、इलेक्ट्रिकल हीटिंग और कूलिंग स्टेज*1、तापमान नियंत्रक*1、कूलिंग नियंत्रक*1、तरल नाइट्रोजन ट | कस्टम सिलिकॉन ऑप्टिकल मॉड्यूल: | सिलिकॉन फोटोडायोड स्पेक्ट्रल रेंज: 190~1100nm |
| प्रमुखता देना: | वाइड टेम्परेचर प्रोब स्टेज,प्रोब स्टेज हाई प्रिसिजन,हाई प्रिसिजन हॉट एंड कोल्ड स्टेज |
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उत्पाद विवरण
वाइड तापमान रेंज -190°C से 600°C, ±0.1°C स्थिरता के साथ एकीकृत ऑप्टिकल-इलेक्ट्रिकल माप के लिए प्रोब स्टेज
GoGo ECH600 एक उच्च-सटीकता वाला प्रोब स्टेज है जिसे विशेष रूप से OLED, LED और फोटोडिटेक्टर जैसे संवेदनशील उपकरणों के व्यापक विद्युत और ऑप्टिकल विश्लेषण के लिए डिज़ाइन किया गया है, जो एक चरम तापमान स्पेक्ट्रम में है। यह शोधकर्ताओं को गहरे क्रायोजेनिक -190°C से 600°C तक नियंत्रित परिस्थितियों में OLED उपकरणों के इलेक्ट्रोल्मिनेसेंट गुणों और अन्य ऑप्टोइलेक्ट्रॉनिक्स का अध्ययन करने में सक्षम बनाता है। यह एकीकृत प्रणाली स्थिर चार-बिंदु विद्युत प्रोबिंग को बेहतर ऑप्टिकल एक्सेस के साथ जोड़ती है, और इन-सीटू स्पेक्ट्रल रिस्पांस माप (190~1100nm) के लिए कस्टम सिलिकॉन फोटोडायोड ऑप्टिकल मॉड्यूल से वैकल्पिक रूप से सुसज्जित है। एक बहुमुखी प्रोब स्टेज के रूप में, यह तापमान के फलन के रूप में विद्युत प्रदर्शन को ऑप्टिकल उत्सर्जन या अवशोषण के साथ सहसंबंधित करने के लिए आवश्यक मंच प्रदान करता है।
डिवाइस विश्वसनीयता परीक्षण के लिए बेजोड़ तापमान रेंज: यह प्रोब स्टेज उपकरणों को उनकी परिचालन सीमाओं तक धकेलने के लिए डिज़ाइन किया गया है, जो चरम ठंड से लेकर उच्च गर्मी तक प्रदर्शन और गिरावट का परीक्षण करता है, जो ऑटोमोटिव, एयरोस्पेस और उपभोक्ता इलेक्ट्रॉनिक्स अनुप्रयोगों के लिए महत्वपूर्ण है।
एकीकृत ऑप्टिकल-इलेक्ट्रिकल माप: स्टेज की शीर्ष और निचली ऑप्टिकल विंडो, वैकल्पिक एकीकृत सिलिकॉन फोटोडायोड के साथ मिलकर, विद्युत बायसिंग और प्रकाश की तीव्रता या स्पेक्ट्रल शिफ्ट के वास्तविक समय माप की अनुमति देती है, जो OLED और फोटोनिक्स अनुसंधान के लिए एक अनूठी क्षमता है।
स्थिर, कम-शोर प्रोबिंग वातावरण: विश्वसनीय विद्युत संपर्क के लिए चार निश्चित, सोने-चढ़ाया हुआ टंगस्टन प्रोब और विंडो फ्रॉस्टिंग को रोकने के लिए एक वैकल्पिक गैस पर्ज सिस्टम से सुसज्जित। यह लंबी अवधि या क्रायोजेनिक प्रयोगों के दौरान भी स्थिर, कम-शोर माप सुनिश्चित करता है।
पूर्ण, स्वचालित कैरेक्टराइजेशन वर्कफ़्लो: शक्तिशाली TNEX सॉफ़्टवेयर द्वारा नियंत्रित, सिस्टम जटिल परीक्षण अनुक्रमों को स्वचालित करता है, तापमान रैंप को विद्युत माप (BNC-कनेक्टेड सोर्स मीटर के माध्यम से) और वैकल्पिक ऑप्टिकल डेटा अधिग्रहण के साथ सिंक्रनाइज़ करता है।
मांग वाले अनुसंधान के लिए प्रमाणित गुणवत्ता: ISO 9001, 14001, और 45001 प्रमाणित प्रक्रियाओं के तहत निर्मित, यह मजबूत प्रोब स्टेज कठोर शैक्षणिक और औद्योगिक आर एंड डी वातावरण में विश्वसनीय, दोहराने योग्य प्रदर्शन सुनिश्चित करता है।
| पैरामीटर | विनिर्देश |
|---|---|
| मॉडल / ब्रांड | ECH600 / GoGo |
| प्राथमिक अनुप्रयोग | OLED और ऑप्टोइलेक्ट्रॉनिक डिवाइस परीक्षण |
| तापमान रेंज | -190°C से 600°C |
| तापमान स्थिरता | ±0.1°C |
| ऑप्टिकल एक्सेस | रिफ्लेक्शन और ट्रांसमिशन पाथ; वैकल्पिक एकीकृत Si फोटोडायोड (190-1100nm) |
| प्रोब सिस्टम | 4 निश्चित सोने-चढ़ाया हुआ प्रोब; 4 BNC पोर्ट |
| डीफ्रॉस्टिंग सिस्टम | गैस पर्ज अटैचमेंट |
| नियंत्रण प्रणाली | TNEX सॉफ्टवेयर प्लेटफॉर्म |
यह उन्नत प्रोब स्टेज दक्षिण पूर्व एशिया, मध्य पूर्व, रूस और अफ्रीका सहित प्रमुख क्षेत्रों में बढ़ते ऑप्टोइलेक्ट्रॉनिक्स और डिस्प्ले अनुसंधान क्षेत्रों के लिए एक महत्वपूर्ण उपकरण है। यह विश्वविद्यालय अनुसंधान समूहों, कॉर्पोरेट आर एंड डी प्रयोगशालाओं और राष्ट्रीय संस्थानों को लक्षित करता है जो कार्बनिक इलेक्ट्रॉनिक्स, यौगिक अर्धचालक और अगली पीढ़ी की डिस्प्ले प्रौद्योगिकियों पर ध्यान केंद्रित करते हैं।
OLED परीक्षण के लिए यह प्रोब स्टेज कैसे कॉन्फ़िगर किया गया है?
यह स्टेज डिवाइस के एनोड/कैथोड को स्थिर विद्युत संपर्क प्रदान करता है जबकि उत्सर्जित प्रकाश को टॉप विंडो से स्पेक्ट्रोमीटर या एकीकृत फोटोडायोड तक गुजरने देता है। तापमान नियंत्रण आपको विभिन्न तापमानों पर दक्षता रोल-ऑफ, रंग शिफ्ट और जीवनकाल का अध्ययन करने देता है।
कस्टम सिलिकॉन ऑप्टिकल मॉड्यूल का उद्देश्य क्या है?
एकीकृत सिलिकॉन फोटोडायोड डिवाइस को विद्युत रूप से संचालित करते समय 190-1100nm रेंज के भीतर ऑप्टिकल पावर या स्पेक्ट्रल रिस्पांस का प्रत्यक्ष, इन-सीटू माप की अनुमति देता है, जिससे बाहरी सेंसर के साथ संरेखण की समस्या समाप्त हो जाती है।
सब-जीरो परीक्षण के दौरान सिस्टम संघनन को कैसे रोकता है?
शामिल गैस पर्ज (सूखी हवा या नाइट्रोजन) अटैचमेंट लगातार सूखी गैस को आंतरिक विंडो सतह पर प्रवाहित करता है, जिससे फ्रॉस्ट और संघनन को प्रभावी ढंग से रोका जा सकता है जो ऑप्टिकल माप को अवरुद्ध करेगा।
क्या इस स्टेज का उपयोग OLED के अलावा अन्य उपकरणों के लिए भी किया जा सकता है?
बिल्कुल। यह बहुमुखी प्रोब स्टेज किसी भी तापमान-निर्भर विद्युत या ऑप्टोइलेक्ट्रॉनिक कैरेक्टराइजेशन के लिए आदर्श है, जिसमें सेमीकंडक्टर डायोड, लेजर, फोटोडिटेक्टर और थिन-फिल्म ट्रांजिस्टर शामिल हैं।
क्या सिस्टम एक पूर्ण समाधान है?
हाँ। मूल कॉन्फ़िगरेशन एक टर्नकी सिस्टम है जिसमें प्रोब स्टेज, तापमान/कूलिंग कंट्रोलर, लिक्विड नाइट्रोजन टैंक, चिलर और TNEX सॉफ्टवेयर शामिल हैं। कस्टम सिलिकॉन फोटोडायोड मॉड्यूल ऑप्टिकल माप के लिए एक एकीकृत वैकल्पिक अपग्रेड है।
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