Giai đoạn thăm dò nhiệt độ rộng Độ chính xác cao Giai đoạn nóng và lạnh cho phép đo điện quang học tích hợp

GoGo ECH600 là một Bệ thử nghiệm có độ chính xác cao được thiết kế đặc biệt để phân tích điện và quang toàn diện các thiết bị nhạy cảm như OLED, LED và bộ tách sóng quang trên phổ nhiệt độ khắc nghiệt. Nó cho phép các nhà nghiên cứu nghiên cứu các đặc tính phát quang điện của thiết bị OLED và các thiết bị quang điện tử khác trong điều kiện được kiểm soát từ nhiệt độ lạnh sâu -190°C đến 600°C. Hệ thống tích hợp này kết hợp việc dò điện bốn điểm ổn định với khả năng tiếp cận quang học vượt trội, và tùy chọn được trang bị các mô-đun quang học đi-ốt quang silicon tùy chỉnh để đo đáp ứng phổ tại chỗ (190~1100nm). Là một Bệ thử nghiệm linh hoạt, nó cung cấp nền tảng thiết yếu để tương quan hiệu suất điện với phát xạ hoặc hấp thụ quang học theo nhiệt độ.

• Dải nhiệt độ chưa từng có cho kiểm tra độ tin cậy của thiết bị: Bệ thử nghiệm này được thiết kế để đẩy thiết bị đến giới hạn hoạt động của chúng, kiểm tra hiệu suất và suy giảm từ lạnh cực độ đến nóng, điều này rất quan trọng đối với các ứng dụng ô tô, hàng không vũ trụ và điện tử tiêu dùng.

• Đo lường quang điện tích hợp: Các cửa sổ quang học trên và dưới của bệ, kết hợp với các đi-ốt quang silicon tích hợp tùy chọn, cho phép phân cực điện đồng thời và đo cường độ ánh sáng hoặc dịch chuyển phổ theo thời gian thực, một khả năng độc đáo cho nghiên cứu OLED và quang tử.

• Môi trường dò ổn định, nhiễu thấp: Được trang bị bốn đầu dò tungsten mạ vàng cố định để tiếp xúc điện đáng tin cậy và hệ thống xả khí tùy chọn để ngăn chặn hiện tượng đóng băng cửa sổ. Điều này đảm bảo các phép đo ổn định, nhiễu thấp ngay cả trong các thí nghiệm kéo dài hoặc ở nhiệt độ lạnh.

• Quy trình đặc tính hóa hoàn chỉnh, tự động: Được điều khiển bởi phần mềm TNEX mạnh mẽ, hệ thống tự động hóa các chuỗi kiểm tra phức tạp, đồng bộ hóa các lần tăng nhiệt độ với các phép đo điện (qua bộ đo nguồn kết nối BNC) và thu thập dữ liệu quang học tùy chọn.

• Chất lượng được chứng nhận cho nghiên cứu đòi hỏi: Được sản xuất theo quy trình được chứng nhận ISO 9001, 14001 và 45001, Bệ thử nghiệm mạnh mẽ này đảm bảo hiệu suất đáng tin cậy, có thể lặp lại trong môi trường R&D học thuật và công nghiệp nghiêm ngặt.

Bệ thử nghiệm tiên tiến này là một công cụ thiết yếu cho các lĩnh vực nghiên cứu quang điện tử và màn hình đang phát triển ở các khu vực chính bao gồm Đông Nam Á, Trung Đông, Nga và Châu Phi. Nó phục vụ các nhóm nghiên cứu đại học, phòng thí nghiệm R&D của công ty và các viện quốc gia tập trung vào điện tử hữu cơ, bán dẫn hợp chất và công nghệ màn hình thế hệ tiếp theo.

1. Bệ thử nghiệm này được cấu hình như thế nào để kiểm tra OLED?
   Bệ cung cấp tiếp xúc điện ổn định với cực dương/cực âm của thiết bị trong khi cho phép ánh sáng phát ra đi qua cửa sổ trên đến máy quang phổ hoặc đi-ốt quang tích hợp. Kiểm soát nhiệt độ cho phép bạn nghiên cứu sự suy giảm hiệu suất, dịch chuyển màu sắc và tuổi thọ ở các nhiệt độ khác nhau.

2. Mục đích của mô-đun quang học silicon tùy chỉnh là gì?
   Đi-ốt quang silicon tích hợp cho phép đo công suất quang hoặc đáp ứng phổ trực tiếp, tại chỗ trong phạm vi 190-1100nm khi thiết bị được điều khiển bằng điện, loại bỏ các vấn đề căn chỉnh với cảm biến bên ngoài.

3. Hệ thống ngăn ngừa sự ngưng tụ trong quá trình thử nghiệm dưới 0°C như thế nào?
   Phụ kiện xả khí (không khí khô hoặc nitơ) đi kèm liên tục luân chuyển khí khô qua bề mặt cửa sổ bên trong, ngăn chặn hiệu quả sương giá và sự ngưng tụ có thể chặn các phép đo quang học.

4. Bệ này có thể được sử dụng cho các thiết bị khác ngoài OLED không?
   Tuyệt đối. Bệ thử nghiệm linh hoạt này lý tưởng cho bất kỳ đặc tính hóa điện hoặc quang điện tử phụ thuộc vào nhiệt độ nào, bao gồm đi-ốt bán dẫn, laser, bộ tách sóng quang và bóng bán dẫn màng mỏng.

5. Hệ thống có phải là một giải pháp hoàn chỉnh không?
   Có. Cấu hình cơ bản là một hệ thống hoàn chỉnh bao gồm bệ thử nghiệm, bộ điều khiển nhiệt độ/làm mát, bình nitơ lỏng, bộ làm lạnh và phần mềm TNEX. Mô-đun đi-ốt quang silicon tùy chỉnh là một nâng cấp tùy chọn tích hợp cho các phép đo quang học.