Estadio de refrigeración por calentamiento XRD de alto rendimiento para análisis de difracción de rayos X in situ. Control preciso de la temperatura desde la temperatura criogénica hasta altas temperaturas para la investigación de materiales avanzados.

UnEstadio de refrigeración por calentamiento XRDes una etapa de muestreo de temperatura controlada con precisión diseñada paradifracción de rayos X in situ (XRD)El objetivo de este estudio es evaluar los cambios estructurales, cristalográficos y de fase de los materiales bajo calentamiento, enfriamiento,o condiciones de ciclo térmico mientras se recopilan datos XRD en tiempo real.

Esta tecnología se utiliza ampliamente enCiencias de los materiales, semiconductores, baterías, cerámica, metalurgia, polímeros, catalizadores y nanotecnología.

Características clave

• Amplio rango de temperaturas desde las temperaturas criogénicas hasta las altas

• Control de temperatura PID de alta precisión

• Las tasas de calefacción y refrigeración rápidas

• Excelente estabilidad a la temperatura

• Mediciones de XRD in situ en tiempo real

• Profiles de temperatura programables

• Opcional en vacío y en atmósfera controlada

• Compatible con los principales sistemas de difractómetro XRD

• Fácil integración y automatización de software

Rango de temperatura típico

Aplicaciones

Materiales de las baterías

• Baterías de ion-litio

• Baterías de estado sólido

• Baterías de iones de sodio

• Materiales de cátodo y ánodo

Estudio:

• Transformación de fase

• Evolución de la estructura cristalina

• Estabilidad térmica

• Mecanismos de carga y descarga

Materiales semiconductores

• El silicio (Si)

• Carburo de silicio (SiC)

• Nitruro de galio (GaN)

• Materiales de película delgada

Estudio:

• Expansión térmica

• Deformación de la red

• Orientación del cristal

• Análisis del estrés

Cerámica

• Comportamiento de sinterización

• Evolución de las fases

• Estabilidad a altas temperaturas

• Crecimiento de cristales

Metales y aleaciones

• Transformación de fase

• Tratamiento térmico

• Recristalización

• Comportamiento de oxidación

Polímero

• Cristalización

• Comportamiento de fusión

• Transición de vidrio

• Degradación térmica

Especificaciones típicas

Ventajas de la etapa de refrigeración por calentamiento in situ

• Observar los cambios estructurales durante los procesos térmicos

• Monitorear las transiciones de fase en tiempo real

• Mejorar la comprensión del rendimiento del material

• Simulación de entornos operativos reales

• Obtener datos de difracción muy precisos bajo temperaturas controladas

• Mejorar la eficiencia de la investigación y la repetibilidad experimental

Áreas de investigación típicas

• Materiales avanzados

• Materiales de almacenamiento de energía

• Dispositivos semiconductores

• Materiales fotovoltaicos

• Catalizadores

• Cerámica funcional

• Materiales aeroespaciales

• Materiales biomédicos

• Nanomateriales

• Metalurgia de polvo

Instrumentos compatibles

La etapa de refrigeración por calentamiento XRD se puede integrar con la mayoría de los difractómetros de rayos X comerciales, incluidos sistemas de:

• El Brujer

• ¿ Qué pasa?

• Malvern analítico

• Termo Fisher Científico

• El STOE

• El Shimadzu