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July 28, 2026
Um Palco de Aquecimento e Resfriamento de DRX é um palco de amostra com controle de temperatura de precisão projetado para experimentos de difração de raios X (DRX) in-situ. Ele permite que os pesquisadores investiguem mudanças estruturais, cristalográficas e de fase em materiais sob condições controladas de aquecimento, resfriamento ou ciclagem térmica enquanto coletam dados de DRX em tempo real.
Esta tecnologia é amplamente utilizada em ciência de materiais, semicondutores, baterias, cerâmicas, metalurgia, polímeros, catalisadores e nanotecnologia.
Ampla faixa de temperatura de criogênicas a altas temperaturas
Controle de temperatura PID de alta precisão
Taxas rápidas de aquecimento e resfriamento
Excelente estabilidade de temperatura
Medições de DRX in-situ em tempo real
Perfis de temperatura programáveis
Operação opcional a vácuo e atmosfera controlada
Compatível com os principais sistemas de difratômetro de DRX
Fácil integração de software e automação
| Modelo | Faixa de Temperatura |
|---|---|
| Palco de DRX Peltier | -40°C a +150°C |
| Palco Padrão de Aquecimento e Resfriamento | -196°C a +600°C |
| Palco de DRX de Alta Temperatura | Temperatura Ambiente a 1000°C |
| Palco de Ultra Alta Temperatura | Temperatura Ambiente a 1500°C |
Baterias de íon-lítio
Baterias de estado sólido
Baterias de íon-sódio
Materiais de cátodo e ânodo
Estudo:
Transformação de fase
Evolução da estrutura cristalina
Estabilidade térmica
Mecanismos de carga/descarga
Silício (Si)
Carbeto de Silício (SiC)
Nitreto de Gálio (GaN)
Materiais de filme fino
Estudo:
Expansão térmica
Tensão de rede
Orientação cristalina
Análise de tensões
Comportamento de sinterização
Evolução de fase
Estabilidade em alta temperatura
Crescimento cristalino
Transformação de fase
Tratamento térmico
Recristalização
Comportamento de oxidação
Cristalização
Comportamento de fusão
Transição vítrea
Degradação térmica
| Parâmetro | Especificação |
|---|---|
| Faixa de Temperatura | -196°C a 1500°C (dependente do modelo) |
| Precisão de Temperatura | ±0.1°C |
| Estabilidade de Temperatura | ±0.1°C |
| Taxa de Aquecimento | 1–100°C/min |
| Método de Resfriamento | Peltier ou Nitrogênio Líquido |
| Atmosfera | Ar, Nitrogênio, Argônio, Vácuo |
| Tamanho da Amostra | Ø5–25 mm |
| Modo de Controle | Controle de Temperatura Programável PID |
Observar mudanças estruturais durante processos térmicos
Monitorar transições de fase em tempo real
Melhorar a compreensão do desempenho do material
Simular ambientes operacionais reais
Obter dados de difração altamente precisos sob temperaturas controladas
Aumentar a eficiência da pesquisa e a repetibilidade experimental
Materiais Avançados
Materiais de Armazenamento de Energia
Dispositivos Semicondutores
Materiais Fotovoltaicos
Catalisadores
Cerâmicas Funcionais
Materiais Aeroespaciais
Materiais Biomédicos
Nanomateriais
Metalurgia do Pó
O Palco de Aquecimento e Resfriamento de DRX pode ser integrado à maioria dos difratômetros de raios X comerciais, incluindo sistemas de:
Bruker
Rigaku
Malvern Panalytical
Thermo Fisher Scientific
STOE
Shimadzu
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