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July 28, 2026
Une Platine chauffante-refroidissante pour DRX est une platine d'échantillon à température contrôlée de précision conçue pour les expériences de diffraction des rayons X (DRX) in-situ. Elle permet aux chercheurs d'étudier les changements structurels, cristallographiques et de phase dans les matériaux sous des conditions contrôlées de chauffage, de refroidissement ou de cyclage thermique tout en collectant des données DRX en temps réel.
Cette technologie est largement utilisée dans la science des matériaux, les semi-conducteurs, les batteries, les céramiques, la métallurgie, les polymères, les catalyseurs et la nanotechnologie.
Large plage de température, des cryogéniques aux hautes températures
Contrôle de température PID de haute précision
Vitesses de chauffage et de refroidissement rapides
Excellente stabilité de température
Mesures DRX in-situ en temps réel
Profils de température programmables
Fonctionnement optionnel sous vide et atmosphère contrôlée
Compatible avec les principaux systèmes de diffractomètres DRX
Intégration logicielle et automatisation faciles
| Modèle | Plage de température |
|---|---|
| Platine Peltier pour DRX | -40°C à +150°C |
| Platine chauffante-refroidissante standard | -196°C à +600°C |
| Platine DRX haute température | Température ambiante à 1000°C |
| Platine ultra haute température | Température ambiante à 1500°C |
Batteries lithium-ion
Batteries à état solide
Batteries sodium-ion
Matériaux de cathode et d'anode
Étude :
Transformation de phase
Évolution de la structure cristalline
Stabilité thermique
Mécanismes de charge/décharge
Silicium (Si)
Carbure de silicium (SiC)
Nitrure de gallium (GaN)
Matériaux à couches minces
Étude :
Dilatation thermique
Contrainte de réseau
Orientation cristalline
Analyse des contraintes
Comportement de frittage
Évolution de phase
Stabilité à haute température
Croissance cristalline
Transformation de phase
Traitement thermique
Recristallisation
Comportement d'oxydation
Cristallisation
Comportement de fusion
Transition vitreuse
Dégradation thermique
| Paramètre | Spécification |
|---|---|
| Plage de température | -196°C à 1500°C (selon le modèle) |
| Précision de la température | ±0.1°C |
| Stabilité de la température | ±0.1°C |
| Vitesse de chauffage | 1–100°C/min |
| Méthode de refroidissement | Peltier ou Azote liquide |
| Atmosphère | Air, Azote, Argon, Vide |
| Taille de l'échantillon | Ø5–25 mm |
| Mode de contrôle | Contrôle de température programmable PID |
Observer les changements structurels pendant les processus thermiques
Surveiller les transitions de phase en temps réel
Améliorer la compréhension des performances des matériaux
Simuler les environnements d'exploitation réels
Obtenir des données de diffraction très précises dans des conditions de température contrôlée
Améliorer l'efficacité de la recherche et la répétabilité des expériences
Matériaux avancés
Matériaux de stockage d'énergie
Dispositifs semi-conducteurs
Matériaux photovoltaïques
Catalyseurs
Céramiques fonctionnelles
Matériaux aérospatiaux
Matériaux biomédicaux
Nanomatériaux
Métallurgie des poudres
La platine chauffante-refroidissante pour DRX peut être intégrée à la plupart des diffractomètres de rayons X commerciaux, y compris les systèmes de :
Bruker
Rigaku
Malvern Panalytical
Thermo Fisher Scientific
STOE
Shimadzu
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