Sala 201, Edificio 3, No. 66 Yinsheng Road, Parque Industrial de Suzhou, Área de Suzhou de China (Jiangsu) Zona de Libre Comercio Piloto, Suzhou, provincia de Jiangsu, China

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Etapa de calentamiento del microscopio(12)

Etapa de enfriamiento de calefacción(10)

Etapa de sonda(15)

Estación de sonda(7)

Etapa del microscopio Peltier(7)

Etapa de tracción(5)

Etapa de muestra XRD(3)

Etapa de muestra SEM(2)

Etapa de tracción SEM(1)

Equipo de observación de alta temperatura(2)

Sistema de prueba in situ(4)

Calentador de oblea(3)

microscope cooling stage

Estadio térmico compacto de control preciso Estadio caliente para microscopio

Estadio de microscopio de Peltier modular con estabilidad de ± 0,1 °C y velocidad de calentamiento/enfriamiento de 30 °C/min para un análisis térmico preciso

Estadio de microscopio Peltier con cámara sellada al vacío, estabilidad ± 0,1 °C y velocidad de calentamiento/enfriamiento de 30 °C/min

Platina Calefactora de Microscopio de Control Preciso, Platina de Microscopio de Temperatura Controlada de Alta Estabilidad

Platina de Microscopio Peltier Ultra Fina de 15 mm con Control de Temperatura de Doble Vía

Etapa de sonda Peltier con sondas de tungsteno chapadas en oro y trayectoria óptica de reflexión y transmisión para un control preciso de la temperatura (de -25 °C a 120 °C)

Estadio de sonda de alta precisión con un amplio rango de temperatura (de 190°C a 400°C) para análisis eléctrico y térmico integrado

Caracterización mecánica de múltiples modos de etapa de tracción in situ con rango de temperaturas extremas de etapa

FH5000-1000V Etapa de tensión en vacío a altas temperaturas para ensayos mecánicos de múltiples modos (1000°C, 5000N)

FH5000-1000V Etapa de tensión en vacío a altas temperaturas para ensayos mecánicos de múltiples modos (1000°C, 5000N)

Platina Caliente y Fría de Cinco Ejes para SEM con Control de Temperatura dentro de FIB/SEM

Estadio del microscopio criogénico Peltier CPE50 con rango de -50 °C a RT, estabilidad ± 0,1 °C y cámara de atmósfera libre de heladas

Sonda Eléctrica Etapa Compacta Controlada por Temperatura Robusta para Observación Microscópica

Sistema de prueba de crio / alta temperatura in situ Sistema de imagen de microscopio versátil

Etapa de Sonda Integrada Etapa de Microscopio de Temperatura Controlada con Precisión para Polarización de Muestras

Precisión en la medición, temperatura global.

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Estadio térmico compacto de control preciso Estadio caliente para microscopio

Estadio de microscopio de Peltier modular con estabilidad de ± 0,1 °C y velocidad de calentamiento/enfriamiento de 30 °C/min para un análisis térmico preciso

Estadio de microscopio Peltier con cámara sellada al vacío, estabilidad ± 0,1 °C y velocidad de calentamiento/enfriamiento de 30 °C/min

Platina Calefactora de Microscopio de Control Preciso, Platina de Microscopio de Temperatura Controlada de Alta Estabilidad

Platina de Microscopio Peltier Ultra Fina de 15 mm con Control de Temperatura de Doble Vía

Etapa de sonda Peltier con sondas de tungsteno chapadas en oro y trayectoria óptica de reflexión y transmisión para un control preciso de la temperatura (de -25 °C a 120 °C)

Estadio de sonda de alta precisión con un amplio rango de temperatura (de 190°C a 400°C) para análisis eléctrico y térmico integrado

Caracterización mecánica de múltiples modos de etapa de tracción in situ con rango de temperaturas extremas de etapa

FH5000-1000V Etapa de tensión en vacío a altas temperaturas para ensayos mecánicos de múltiples modos (1000°C, 5000N)

FH5000-1000V Etapa de tensión en vacío a altas temperaturas para ensayos mecánicos de múltiples modos (1000°C, 5000N)

Platina Caliente y Fría de Cinco Ejes para SEM con Control de Temperatura dentro de FIB/SEM

Estadio del microscopio criogénico Peltier CPE50 con rango de -50 °C a RT, estabilidad ± 0,1 °C y cámara de atmósfera libre de heladas

Sonda Eléctrica Etapa Compacta Controlada por Temperatura Robusta para Observación Microscópica

Sistema de prueba de crio / alta temperatura in situ Sistema de imagen de microscopio versátil

Etapa de Sonda Integrada Etapa de Microscopio de Temperatura Controlada con Precisión para Polarización de Muestras

Precisión en la medición, temperatura global.