顕微鏡現象の調査や半導体装置の精密な測定において,柔軟な操作を備えた安定・信頼性の高い探査ステーションは不可欠な精密機器である.AKAM Technologyによって開発された手動探査ステーションシリーズは,特に高精度の操作で研究者やエンジニアの厳格な要求を満たすために設計されています特殊な性能と使いやすいデザインを備えて,不可欠な実験用ツールとして機能します.

主要 な 利点: 安定 性,精度,使いやすさ

AKAM テクノロジーの手動探査ステーションは 安定性と操作の便利性を優先します基本のサンプルサポートだけでなく,ワッフルやサンプルをロードし,卸すプロセスを大幅に簡素化するオプションのプリロードされたレールも提供しています.この設計により,特にサンプルを頻繁に交換したり,バッチテストを必要とするシナリオでは,運用効率が向上します.

ステーションは,平板とチャックの両方のZ軸位置のための粗いおよび細い調整能力の両方を備えています.精密な接触操作のための堅牢な基盤を確立するために,マイクロレベルの垂直位置付け精度を確保する.

堅固 な 構造 と 柔軟 な 配置

探査ステーションの構造的整合性は測定精度に直接影響しますAKAM Technologyの手動探査ステーションは,最大10個の磁気または真空ベースの位置付け器を安定的に収容できる頑丈な鋳型鋼板を組み込みますこの設計は,様々なテスト構成に対応する探査機の配置に十分なスペースを提供しながら,長期間の安定性を保証します.

低流出電流試験を必要とするアプリケーションでは,同軸および三軸チャックオプションを提供しています.外部電磁気干渉と環境要因を効果的に隔離し,信頼性の高い試験データを保証するオプションの遮断蓋付き.

精密顕微鏡観測と位置付け

顕微鏡のスケールでは,正確な観測が不可欠です. AKAM Technologyの手動探査ステーションには,標準的なブームに搭載された顕微鏡アセンブリがあり,全範囲のXYZ位置付けを可能にします.ユーザが最適な観測のために見方角を簡単に調整できるようにするステーションには高解像度の顕微鏡定位装置が搭載され,80TPI (インチあたりスレッド) の鉛スクリューが搭載されています.顕微鏡装置の特徴との正確な接触のために,マイクロレベル探査機位置位置位置の精度を達成する.

専門的なRFテスト能力

AKAM Technologyは,RFデバイステストの需要の増加に対応して,手動探査ステーションのための包括的なRFソリューションを提供しています.これらの中には,さまざまな周波数とインペダンス要件のためのカスタマイズ可能なRF探査機が含まれます.特殊なRFチャックは優れた信号の完整性を確保し,信号の干渉と損失を最小限に抑えるための専用のシールドキャビネットです.これらのRFオプションにより,基本研究から高度なRFデバイスの生産試験まで,ステーションはさまざまなアプリケーションを処理することができます..

総合的なモデル選択

AKAM Technologyは,さまざまなアプリケーションに対応するための複数の手動探査ステーションモデルを提供しています.

• DS AMC100 マニュアル探査ステーション: 基本のウエファーテストと装置分析
• DS APS150 分析探査ステーション:高精度分析用用に設計された
• DS SPS-4-6 手動探査ステーション:様々なサンプルサイズに適しています.
• DS AMC200 マニュアル探査ステーション: 標本容量が大きく,精度は高い
• DS APS200 分析探査ステーション: 強化分析能力
• DS-EPS-4 マニュアル探査ステーション:追加構成オプションを提供します.

構造設計,操作精度,構成柔軟性,特殊アプリケーションサポートの 総合的な利点により,AKAM Technologyの手動探査ステーションシリーズは半導体における不可欠な精密測定ツールになりました材料科学の研究と生産.