Dalam eksplorasi fenomena mikroskopis dan pengukuran presisi perangkat semikonduktor, stasiun probe yang stabil dan dapat diandalkan dengan operasi fleksibel adalah instrumen presisi yang sangat diperlukan.Serial stasiun probe manual yang dikembangkan oleh AKAM Technology dirancang khusus untuk memenuhi tuntutan ketat peneliti dan insinyur dalam operasi presisi tinggi, menawarkan kinerja yang luar biasa dan desain yang ramah pengguna untuk berfungsi sebagai alat laboratorium yang penting.

Keuntungan Utama: Stabilitas, Keakuratan, dan Kegunaan

Stasiun probe manual AKAM Technology memprioritaskan stabilitas dan kenyamanan operasional dalam desain mereka.Komponen dasar platform manual tidak hanya menyediakan dukungan sampel dasar tetapi juga menawarkan rel pra-diisi opsional yang secara signifikan menyederhanakan proses pemuatan dan pengungkapan wafer atau sampelDesain ini meningkatkan efisiensi operasional, terutama dalam skenario yang membutuhkan perubahan sampel yang sering atau pengujian batch.

Stasiun memiliki kemampuan pengaturan kasar dan halus untuk posisi sumbu Z dari kedua platen dan chuck,memastikan akurasi posisi vertikal pada tingkat mikron untuk membangun dasar yang kuat untuk operasi kontak yang tepat.

Konstruksi yang Kuat dan Konfigurasi Fleksibel

Integritas struktural stasiun probe secara langsung mempengaruhi akurasi pengukuran.Stasiun probe manual AKAM Technology menggabungkan plat baja cor yang kokoh yang mampu menampung hingga 10 posisi magnetik atau vakumDesain ini memastikan stabilitas jangka panjang sementara menyediakan ruang yang cukup untuk pengaturan probe untuk mengakomodasi berbagai konfigurasi pengujian.

Untuk aplikasi yang membutuhkan pengujian arus kebocoran rendah, stasiun ini menawarkan pilihan cak koaksial dan triaxial,bersama dengan kandang pelindung opsional yang secara efektif mengisolasi gangguan elektromagnetik eksternal dan faktor lingkungan untuk memastikan data uji yang dapat diandalkan.

Pengamatan dan Posisi Mikroskopis Presisi

Pada skala mikroskopis, pengamatan yang tepat sangat penting. stasiun probe manual AKAM Teknologi memiliki majelis mikroskop boom-mounted standar yang memungkinkan posisi XYZ jangkauan penuh,memungkinkan pengguna untuk dengan mudah menyesuaikan sudut pandang untuk pengamatan yang optimalStasiun ini menggabungkan posisi mikroskopis resolusi tinggi dengan sekrup timah 80 TPI (benang per inci),mencapai akurasi posisi probe tingkat mikron untuk kontak yang tepat dengan fitur perangkat mikroskopis.

Kemampuan pengujian RF khusus

Menanggapi meningkatnya permintaan dalam pengujian perangkat RF, AKAM Technology menyediakan solusi RF komprehensif untuk stasiun probe manual.Ini termasuk probe RF yang dapat disesuaikan untuk berbagai persyaratan frekuensi dan impedansi, cak RF khusus untuk integritas sinyal yang superior, dan kandang pelindung khusus untuk meminimalkan gangguan sinyal dan kehilangan.Pilihan RF ini memungkinkan stasiun untuk menangani berbagai aplikasi dari penelitian dasar untuk pengujian produksi perangkat RF canggih.

Pemilihan Model yang Komprehensif

AKAM Technology menawarkan beberapa model stasiun probe manual untuk mengakomodasi aplikasi yang berbeda:

• DS AMC100 Manual Probe Station: Untuk pengujian dasar wafer dan analisis perangkat
• DS APS150 Analytical Probe Station: Dirancang untuk aplikasi analisis presisi tinggi
• DS SPS-4-6 Manual Probe Station: Cocok untuk berbagai ukuran sampel
• DS AMC200 Manual Probe Station: Mempunyai kapasitas sampel yang lebih besar dan presisi yang lebih tinggi
• DS APS200 Analytical Probe Station: Kemampuan analisis yang ditingkatkan
• DS-EPS-4 Manual Probe Station: Menyediakan opsi konfigurasi tambahan

Dengan keunggulan komprehensif mereka dalam desain struktural, presisi operasional, fleksibilitas konfigurasi, dan dukungan aplikasi khusus,Seri stasiun probe manual AKAM Technology telah menjadi alat pengukuran presisi penting dalam semikonduktor, mikroelektronika, dan penelitian dan produksi ilmu material.