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Datos del producto:
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| Lugar de origen: | Suzhou, China |
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| Nombre de la marca: | GoGo |
| Certificación: | ISO 9001:2015 / ISO 14001:2015 / ISO 45001:2018 |
| Número de modelo: | OLED-ITS |
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Pago y Envío Términos:
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| Cantidad de orden mínima: | 1 |
| Precio: | CNY 30000~600000/set |
| Detalles de empaquetado: | Caja de cartón + caja de madera |
| Tiempo de entrega: | 30~60 días laborables |
| Condiciones de pago: | T/T |
| Capacidad de la fuente: | 1 juego/día |
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Información detallada |
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| Nombre: | Sistema de prueba in situ | Rango de temperatura: | -190 ℃ ~ 600 ℃ |
|---|---|---|---|
| Estabilidad de temperatura: | ± 0.1 ℃ | Método de refrigeración/calentamiento: | Refrigeración por nitrógeno líquido, calefacción por resistencia. |
| Material del soporte de muestra: | Plata | Cámara: | Atmósfera |
| Rango espectral del fotodiodo de silicio: | 190~1100 nanómetro | Rango de longitud de onda del espectrómetro: | 300~1000 nanómetro |
| Resaltar: | Sistema de ensayo OLED in situ,Sistema de ensayo óptico de refrigeración con nitrógeno líquido,Sistema de ensayo óptico de alta precisión |
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Descripción de producto
Sistema de ensayo in situ OLED con rango de -190°C a 600°C, estabilidad ± 0,1°C y enfriamiento por nitrógeno líquido
El GoGo OLED-ITS es un sistema especializado de prueba in situ diseñado para la caracterización optoelectrónica integral de dispositivos OLED bajo un control térmico preciso.Esta plataforma integrada combina una etapa caliente/fría de alta precisión con un medidor, fotodiodo de silicio (190-1100 nm), espectrómetro (300-1000 nm) y un potente software de ordenador host.Diseñados para estudiar el rendimiento de la electroluminiscencia en un rango de temperaturas excepcional de -190°C a 600°C con ±0Estabilidad de 0,1 °C, este sistema de ensayo in situ permite a los investigadores investigar en tiempo real los mecanismos de despliegue, cambio de color y degradación de la eficiencia dependientes de la temperatura,proporcionar información crítica para las tecnologías de visualización e iluminación de próxima generación.
Solución integrada completa: este sistema de ensayo in situ elimina la complejidad de ensamblar componentes dispares.estimulación eléctrica, y la detección óptica, lo que permite a los investigadores centrarse en los datos en lugar de la integración de sistemas.
Rango de temperaturas extremas con una estabilidad sin igual: desde -190 °C criogénicos profundos hasta 600 °C elevados, el sistema mantiene una estabilidad excepcional de ±0,1 °C,permitir un estudio exhaustivo del comportamiento de los OLED en todo el espectro de condiciones de operación y almacenamiento.
Caracterización eléctrico-óptica simultánea: medir las características de corriente-voltura-luminancia (I-V-L), los espectros de electroluminiscencia y la eficiencia del dispositivo en una sola secuencia automatizada,todos sincronizados con un control preciso de la temperatura para un perfil completo del dispositivo.
Detección óptica de alta sensibilidad: el fotodiodo de silicio integrado (190-1100 nm) y el espectrómetro (300-1000 nm) proporcionan datos radiométricos y espectrales precisos,esencial para comprender las características de las emisiones y la física del dispositivo a diferentes temperaturas.
Calidad certificada para investigaciones exigentes: fabricado bajo procesos certificados ISO 9001, 14001 y 45001, este robusto sistema de pruebas in situ ofrecerendimiento reproducible para aplicaciones académicas y industriales críticas de I+D.
| Parámetro | Especificación |
|---|---|
| Modelo / Marca | El objetivo es: |
| Rango de temperatura | Desde -190°C hasta 600°C |
| Estabilidad a temperatura | ± 0,1°C |
| Método de enfriamiento/calentamiento | Refrigeración por nitrógeno líquido / Calentamiento por resistencia |
| Titular de la muestra | Plata (alta conductividad térmica) |
| Diodo fotográfico de silicio | Rango espectral de 190 a 1100 nm |
| Espectrómetro | Rango de longitud de onda de 300 a 1000 nm |
| Medio ambiente de la cámara | La atmósfera (controlada) |
Este avanzado sistema de pruebas in situ es esencial para la investigación en OLED y optoelectrónica en regiones clave de crecimiento, incluidas el sudeste asiático, Oriente Medio, Rusia y África.Sirve a los centros de investigación de exhibición universitarios, laboratorios corporativos de I + D en electrónica de consumo e institutos nacionales de metrología enfocados en semiconductores orgánicos e iluminación de estado sólido.
¿Qué medidas puede realizar este sistema de ensayo in situ?
El sistema mide las características de corriente y voltaje, la luminancia, los espectros de electroluminiscencia, la eficiencia cuántica externa (EQE) y las coordenadas de color (CIE) como funciones de la temperatura,proporcionando una caracterización completa del dispositivo OLED.
¿Por qué son importantes las pruebas de dependencia de temperatura para los OLED?
El rendimiento, la eficiencia y la vida útil de los OLED son altamente sensibles a la temperatura.y mecanismos de degradación críticos para aplicaciones del mundo real.
¿Cómo se sincronizan las mediciones ópticas y eléctricas?
El software del ordenador host coordina todos los componentes del sistema, activando automáticamente los barridos del medidor de fuente y la adquisición del detector óptico en cada punto de ajuste de temperatura para una fluidez,recogida de datos reproducibles.
¿Es el sistema compatible con dispositivos OLED encapsulados?
La cámara tiene varias geometrías de dispositivos y el control de atmósfera permite probar dispositivos encapsulados bajo condiciones ambientales o dispositivos sin empacar en entornos inertes.
¿Qué apoyo está disponible para el funcionamiento del sistema?
Proporcionamos documentación completa, capacitación de software y soporte técnico para garantizar que su sistema de pruebas in situ ofrezca un rendimiento óptimo desde el primer día.
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