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Sistema de caracterización de materiales GoGo DTS

Sistema de espectro térmico dieléctrico
March 01, 2026
Palabra Clave: Sistema de prueba in situ
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Etiquetas:
#Sistema de medición dieléctrica #Equipo de Medición Dieléctrica #Sistema de Imágenes Microscópicas
Descripción del vídeo:
Obtenga una demostración guiada que muestra flujos de trabajo comunes y consejos para la solución de problemas del sistema de pruebas in situ GoGo OLED-ITS. En este vídeo, verá cómo los investigadores realizan una caracterización integral de los dispositivos OLED en función de la temperatura, desde la configuración del enfriamiento con nitrógeno líquido hasta la ejecución de mediciones eléctrico-ópticas sincronizadas. Vea demostraciones en tiempo real de control de estabilidad térmica, análisis de caída de eficiencia y recopilación de datos espectrales en el rango extremo de -190 °C a 600 °C.
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