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Détails sur le produit:
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| Lieu d'origine: | Suzhou, Chine |
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| Nom de marque: | GoGo |
| Certification: | ISO 9001:2015 / ISO 14001:2015 / ISO 45001:2018 |
| Numéro de modèle: | OLED-ITS |
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Conditions de paiement et expédition:
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| Quantité de commande min: | 1 |
| Prix: | CNY 30000~600000/set |
| Détails d'emballage: | Boîte en carton + boîte en bois |
| Délai de livraison: | 30 ~ 60 jours ouvrables |
| Conditions de paiement: | T/T |
| Capacité d'approvisionnement: | 1set/jour |
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Détail Infomation |
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| Nom: | Système de test in situ | Plage de température: | -190 ℃ ~ 600 ℃ |
|---|---|---|---|
| Stabilité de la température: | ± 0,1 ℃ | Méthode de refroidissement/chauffage: | Refroidissement à l'azote liquide, chauffage par résistance |
| Matériau de support d'échantillon: | Argent | Chambre: | Atmosphère |
| Gamme spectrale des photodiodes au silicium: | 190 ~ 1 100 nm | Plage de longueurs d'onde du spectromètre: | 300~1000nm |
| Mettre en évidence: | Système d'essai OLED in situ,Système d'essai optique de refroidissement à l'azote liquide,Système d'essai optique de haute précision |
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Description de produit
Système de test in-situ OLED avec une plage de -190°C à 600°C, une stabilité de ±0,1°C et un refroidissement à l'azote liquide
Le GoGo OLED-ITS est un système de test in-situ spécialisé conçu pour la caractérisation optoélectronique complète des dispositifs OLED sous contrôle thermique précis. Cette plateforme intégrée combine une platine chauffante/refroidissante de haute précision avec une source de mesure, une photodiode au silicium (190-1100 nm), un spectromètre (300-1000 nm) et un logiciel puissant pour ordinateur hôte. Conçu pour étudier les performances d'électroluminescence sur une plage de température exceptionnelle allant de -190°C à 600°C avec une stabilité de ±0,1°C, ce système de test in-situ permet aux chercheurs d'étudier le déclin de l'efficacité dépendant de la température, le décalage de couleur et les mécanismes de dégradation en temps réel, fournissant des informations critiques pour les technologies d'affichage et d'éclairage de nouvelle génération.
Solution intégrée complète : Ce système de test in-situ élimine la complexité de l'assemblage de composants disparates. Il fournit une plateforme clé en main combinant contrôle thermique, stimulation électrique et détection optique, permettant aux chercheurs de se concentrer sur les données plutôt que sur l'intégration du système.
Plage de température extrême avec une stabilité inégalée : Des cryogéniques profonds de -190°C aux températures élevées de 600°C, le système maintient une stabilité exceptionnelle de ±0,1°C, permettant une étude complète du comportement des OLED sur l'ensemble du spectre des conditions de fonctionnement et de stockage.
Caractérisation électro-optique simultanée : Mesurez les caractéristiques courant-tension-luminance (I-V-L), les spectres d'électroluminescence et l'efficacité du dispositif dans une seule séquence automatisée, le tout synchronisé avec un contrôle précis de la température pour un profilage complet du dispositif.
Détection optique à haute sensibilité : La photodiode au silicium intégrée (190-1100 nm) et le spectromètre (300-1000 nm) fournissent des données radiométriques et spectrales précises, essentielles pour comprendre les caractéristiques d'émission et la physique des dispositifs à différentes températures.
Qualité certifiée pour la recherche exigeante : Fabriqué selon des processus certifiés ISO 9001, 14001 et 45001, ce système de test in-situ robuste offre des performances fiables et reproductibles pour des applications critiques de R&D académique et industrielle.
| Paramètre | Spécification |
|---|---|
| Modèle / Marque | OLED-ITS / GoGo |
| Plage de température | -190°C à 600°C |
| Stabilité de la température | ±0,1°C |
| Méthode de refroidissement/chauffage | Refroidissement à l'azote liquide / Chauffage par résistance |
| Support d'échantillon | Argent (haute conductivité thermique) |
| Photodiode au silicium | Plage spectrale 190-1100 nm |
| Spectromètre | Plage de longueurs d'onde 300-1000 nm |
| Environnement de la chambre | Atmosphère (contrôlée) |
Ce système de test in-situ avancé est essentiel pour la recherche sur les OLED et l'optoélectronique dans des régions de croissance clés, notamment l'Asie du Sud-Est, le Moyen-Orient, la Russie et l'Afrique. Il s'adresse aux centres de recherche universitaires sur les écrans, aux laboratoires de R&D d'entreprises d'électronique grand public et aux instituts nationaux de métrologie axés sur les semi-conducteurs organiques et l'éclairage à semi-conducteurs.
Quelles mesures ce système de test in-situ peut-il effectuer ?
Le système mesure les caractéristiques courant-tension, la luminance, les spectres d'électroluminescence, l'efficacité quantique externe (EQE) et les coordonnées de couleur (CIE) en fonction de la température, fournissant une caractérisation complète des dispositifs OLED.
Pourquoi les tests dépendants de la température sont-ils importants pour les OLED ?
Les performances, l'efficacité et la durée de vie des OLED sont très sensibles à la température. Ce système de test in-situ permet aux chercheurs d'étudier les effets thermiques sur le transport de charge, la dynamique des excitons et les mécanismes de dégradation critiques pour les applications réelles.
Comment les mesures optiques et électriques sont-elles synchronisées ?
Le logiciel de l'ordinateur hôte coordonne tous les composants du système, déclenchant automatiquement les balayages de la source de mesure et l'acquisition des détecteurs optiques à chaque point de consigne de température pour une collecte de données transparente et reproductible.
Le système est-il compatible avec les dispositifs OLED encapsulés ?
Oui. La chambre accueille diverses géométries de dispositifs, et le contrôle de l'atmosphère permet de tester des dispositifs encapsulés dans des conditions ambiantes ou des dispositifs non emballés dans des environnements inertes.
Quel support est disponible pour le fonctionnement du système ?
Nous fournissons une documentation complète, une formation logicielle et un support technique réactif pour garantir que votre système de test in-situ offre des performances optimales dès le premier jour.
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