Estadio de muestreo universal de XRD Precisión de calentamiento y enfriamiento para las principales marcas de XRD

Datos del producto:
Lugar de origen: Suzhou, China
Nombre de la marca: GoGo
Certificación: ISO 9001:2015 / ISO 14001:2015 / ISO 45001:2018
Número de modelo: XCH600/XCH400V
Pago y Envío Términos:
Cantidad de orden mínima: 1
Precio: CNY 30000~600000/set
Detalles de empaquetado: Caja de cartón + caja de madera
Tiempo de entrega: 30~60 días laborables
Condiciones de pago: T/T
Capacidad de la fuente: 1 juego/día
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Información detallada

Nombre: Etapa de muestra XRD Método de refrigeración/calentamiento: Refrigeración por nitrógeno líquido, calefacción por resistencia.
Rango de temperatura: -190℃~600℃/-190℃~400℃ Estabilidad de temperatura: ± 0.1 ℃
Tarifa de la calefacción/de enfriamiento: Velocidad máxima de calentamiento: 150 ℃/min, velocidad máxima de enfriamiento: 40 ℃/min Titular de la muestra: Plata; 23 mm x 23 mm.
Trayectoria óptica: Reflexión Ángulo de difracción 2θ: ∠0°~∠164°
Material de la ventana: Película Kapton Cámara: Atmósfera/Vacío
Dimensiones: 100 mm*100 mm*73 mm/100 mm*100 mm*73 mm (sin fuelle) Peso neto: 0,8 kilos
Configuración básica: TNEX*1, Etapa de calentamiento y enfriamiento XRD*1, Controlador de temperatura*1, Controlador de en Opcional: Placa adaptadora/Tanque de nitrógeno líquido personalizado/Enfriador de recirculación personalizado/
Resaltar:

Estadio de muestreo XRD universal

,

Precisión de la etapa de muestra de XRD

,

Fase de refrigeración por calentamiento de precisión

Descripción de producto

Estadio de muestreo universal de XRD con rango de temperatura de -190°C a 600°C y ángulo de difracción de 0° a 164° 2θ para las principales marcas de XRD

Título del producto: GoGo XCH600/XCH400V Estadio de muestreo XRD universal de alta/baja temperatura para análisis de difracción in situ
Introducción del producto

El GoGo XCH600/XCH400V es una etapa de muestra XRD de ingeniería de precisión diseñada específicamente para permitir estudios de difracción de rayos X dependientes de la temperatura in situ.Esta etapa avanzada proporciona a los investigadores una poderosa herramienta para investigar las transiciones de fase, la expansión térmica y la dinámica estructural de los materiales desde los -190°C criogénicos hasta los 600°C, todo ello con una estabilidad excepcional de ± 0,1°C.Su característica destacada es un diseño de ventana en forma de arco único hecho de película Kapton, que admite un rango de ángulo de difracción de 2θ sin precedentes de 0° a 164°, lo que garantiza una recopilación de datos completa.Con soportes de montaje personalizables para una integración perfecta con las principales marcas de difractómetros de rayos X, incluido Rigaku, Bruker, Thermo Fisher, Shimadzu y Malvern Panalytical, esta versátil XRD Sample Stage es la solución definitiva para los laboratorios modernos de cristalografía y caracterización de materiales.

Ventajas clave y por qué elegir nuestro escenario XRD
  • Acceso angular sin igual para datos completos: la innovadora ventana Kapton en forma de arco proporciona un rango continuo y amplio de 2θ (0°-164°),Eliminar los puntos ciegos y permitir la recogida de patrones de difracción completos sin reorientación del escenario u obstrucción de la ventana.

  • Compatibilidad universal y fácil integración: Proporcionamos soportes de adaptador personalizables, asegurando que esta etapa de muestra XRD se ajuste perfectamente a su modelo de difractómetro específico de los principales fabricantes.Esta compatibilidad llave en mano minimiza el tiempo de inactividad y simplifica la instalación.

  • Control de temperatura multi-modo de precisión: vaya más allá de los simples puntos de ajuste.permitiendo protocolos térmicos complejos que simulan condiciones del mundo real o estudian procesos cinéticos durante experimentos de difracción.

  • Rendimiento robusto a temperaturas extremas: aprovecha el enfriamiento eficiente del nitrógeno líquido y el calentamiento resistivo rápido (150 °C/min) para lograr un ciclo térmico rápido y estable.El escenario mantiene la integridad del vacío o de la atmósfera controlada, que es crucial para estudiar muestras sensibles al aire.

  • Calidad certificada para una investigación fiable: Fabricado bajo la norma ISO 9001:2015, 14001:2015, y los procesos certificados 45001:2018, esta etapa de muestra XRD está construida para la durabilidad y precisión, ofreciendo un rendimiento confiable para experimentos exigentes y de larga duración.

Especificaciones técnicas
Parámetro Especificación
Modelo El valor de los valores de los valores de las emisiones de gases de efecto invernadero se calculará en función de los valores de las emisiones de gases de efecto invernadero.
Aplicación Difracción de rayos X in situ (XRD)
Compatibilidad Rigaku, Bruker, Thermo Fisher, Shimadzu, Malvern Analítico y otras compañías.
Rango de temperatura -190°C a 600°C / -190°C a 400°C
Estabilidad a temperatura ± 0,1°C
Ventana de difracción Película de Kapton, en forma de arco para 2θ: 0° ?? 164°
Medio ambiente de la cámara Se aplicará el método de ensayo de la prueba de presión.
Sistema de control Software TNEX con perfiles programables
Mercados objetivo y clientes

Esta etapa de muestreo de XRD especializada es esencial para los ecosistemas de investigación avanzada en regiones clave de crecimiento, incluidos el sudeste de Asia, Oriente Medio, Rusia y África.Sirve a una distinguida clientela de departamentos universitarios de química y ciencia de materiales., institutos de investigación gubernamentales y centros industriales de I + D centrados en el desarrollo de catalizadores, materiales de baterías, productos farmacéuticos y metalurgia.

Preguntas frecuentes (FAQ)
  1. ¿Cómo me aseguro de que esta muestra XRD es compatible con mi difractómetro?
    Nuestro sistema está diseñado para la compatibilidad universal. Trabajamos con usted para proporcionar un soporte de montaje personalizado adaptado a su marca y modelo de difractómetro específico (por ejemplo, Rigaku SmartLab,Brujer D8), asegurando un ajuste perfecto.

  2. ¿Por qué se usa la película Kapton para la ventana?
    La película Kapton es elegida por sus excelentes propiedades de transmisión de rayos X, su estabilidad a altas temperaturas y su flexibilidad.el rango 2θ libre necesario para los patrones de difracción de alta calidad.

  3. ¿Puedo realizar experimentos controlados en atmósfera?
    El modelo XCH400V está equipado para el funcionamiento en vacío, lo que le permite estudiar muestras en un ambiente inerte o bajo un flujo de gas específico, que es vital para la reducción in situ, la oxidación,o estudios de hidratación.

  4. ¿Qué software controla la temperatura, y es fácil de usar?
    El escenario está totalmente controlado por nuestro software intuitivo TNEX.segmentos) que se ejecutan automáticamente durante la recopilación de datos de XRD.

  5. ¿Qué incluye el paquete de entrega?
    El sistema se suministra como una solución completa: la etapa XRD, controladores de temperatura y refrigeración dedicados, un tanque de nitrógeno líquido, un enfriador de recirculación, el software TNEX,y todos los cables y accesorios necesariosLos soportes adaptadores personalizados para su difractómetro están incluidos como parte de la solución.

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