Универсальный XRD пробный этап Точный нагрев охлаждающий этап Для основных брендов XRD

Подробная информация о продукте:
Место происхождения: Сучжоу, Китай
Фирменное наименование: GoGo
Сертификация: ISO 9001:2015 / ISO 14001:2015 / ISO 45001:2018
Номер модели: ХЧ600/ХЧ400В
Оплата и доставка Условия:
Количество мин заказа: 1
Цена: CNY 30000~600000/set
Упаковывая детали: Картонная коробка + деревянная коробка.
Время доставки: 30~60 рабочих дней
Условия оплаты: Т/Т
Поставка способности: 1 комплект/день
Контакт Побеседуйте теперь

Подробная информация

Имя: Этап для образцов XRD Способ охлаждения/нагрева: Охлаждение жидким азотом, Резистивный нагрев
Температурный диапазон: -190℃~600℃/-190℃~400℃ Температурная стабильность: ± 0,1 ℃
Нагревая/охлаждая тариф: Максимальная скорость нагрева: 150 ℃/мин, максимальная скорость охлаждения: 40 ℃/мин. Держатель образца: Серебро; 23 мм*23 мм
Оптически путь: Отражение Угол дифракции 2θ: ∠0°~∠164°
Материал окна: Каптоновая пленка Камера: Атмосфера/Вакуум
Размеры: 100 мм*100 мм*73 мм/100 мм*100 мм*73 мм (без сильфона) Вес нетто: 0,8 кг
исходное состояние: TNEX*1, ступень нагрева и охлаждения XRD*1, регулятор температуры*1, контроллер охлаждения*1, резерв Необязательный: Переходная пластина/индивидуальный бак для жидкого азота/индивидуальный рециркуляционный охладитель/
Выделить:

Универсальная XRD пробная стадия

,

Точность этапа XRD-выборки

,

Стадия высокоточного нагрева и охлаждения

Характер продукции

Универсальная державка образца для рентгеновской дифракции с диапазоном температур от -190°C до 600°C и углом дифракции от 0° до 164° 2θ для основных брендов рентгеновских дифрактометров

Название продукта: Универсальная высокотемпературная/низкотемпературная державка образца для рентгеновской дифракции GoGo XCH600/XCH400V для ин-ситу дифракционного анализа
Введение в продукт

GoGo XCH600/XCH400V — это прецизионно разработанная державка образца для рентгеновской дифракции, специально предназначенная для проведения ин-ситу исследований рентгеновской дифракции в зависимости от температуры. Эта передовая державка предоставляет исследователям мощный инструмент для изучения фазовых переходов, термического расширения и структурной динамики материалов в диапазоне от криогенных -190°C до 600°C, причем все это с исключительной стабильностью ±0,1°C. Ее выдающейся особенностью является уникальная дугообразная конструкция окна из пленки Kapton, которая обеспечивает непревзойденный диапазон углов дифракции 2θ от 0° до 164°, гарантируя всесторонний сбор данных. Благодаря настраиваемым монтажным кронштейнам для бесшовной интеграции с основными брендами рентгеновских дифрактометров, включая Rigaku, Bruker, Thermo Fisher, Shimadzu и Malvern Panalytical, эта универсальная державка образца для рентгеновской дифракции является окончательным решением для современных лабораторий кристаллографии и материаловедения.

Ключевые преимущества и почему стоит выбрать нашу держалку для рентгеновской дифракции
  • Непревзойденный угловой доступ для полных данных: Инновационное дугообразное окно из Kapton обеспечивает непрерывный, широкий диапазон 2θ (0°-164°), устраняя слепые зоны и позволяя собирать полные дифракционные картины без переориентации держалки или препятствий в окне.

  • Универсальная совместимость и простая интеграция: Мы предоставляем настраиваемые адаптерные кронштейны, гарантирующие идеальное соответствие этой держалки образца для рентгеновской дифракции вашей конкретной модели дифрактометра от ведущих производителей. Эта готовая совместимость минимизирует время простоя и упрощает установку.

  • Прецизионное многорежимное управление температурой: Выходите за рамки простых уставок. Интегрированное программное обеспечение TNEX позволяет выполнять сложное программирование уставок, рамп и сегментов, что позволяет создавать сложные тепловые протоколы, имитирующие реальные условия или изучающие кинетические процессы во время дифракционных экспериментов.

  • Надежная работа в экстремальных температурах: Использует эффективное охлаждение жидким азотом и быстрый резистивный нагрев (150°C/мин) для достижения быстрого, стабильного термического цикла. Держалка поддерживает целостность вакуума или контролируемой атмосферы, что крайне важно для изучения образцов, чувствительных к воздуху.

  • Сертифицированное качество для надежных исследований: Изготовленная в соответствии с сертифицированными процессами ISO 9001:2015, 14001:2015 и 45001:2018, эта держалка образца для рентгеновской дифракции создана для долговечности и точности, обеспечивая надежную работу для требовательных, длительных экспериментов.

Технические характеристики
Параметр Спецификация
Модель XCH600 (600°C) / XCH400V (400°C, вакуум)
Применение Ин-ситу рентгеновская дифракция (XRD)
Совместимость Rigaku, Bruker, Thermo Fisher, Shimadzu, Malvern Panalytical
Диапазон температур -190°C до 600°C / -190°C до 400°C
Стабильность температуры ±0,1°C
Дифракционное окно Пленка Kapton, дугообразная для 2θ: 0° – 164°
Среда камеры Атмосфера или вакуум (XCH400V)
Система управления Программное обеспечение TNEX с программируемыми профилями
Целевые рынки и клиенты

Эта специализированная держалка образца для рентгеновской дифракции необходима для передовых исследовательских экосистем в ключевых растущих регионах, включая Юго-Восточную Азию, Ближний Восток, Россию и Африку. Она обслуживает уважаемую клиентуру из университетских кафедр химии и материаловедения, государственных научно-исследовательских институтов и промышленных центров НИОКР, специализирующихся на разработке катализаторов, аккумуляторных материалов, фармацевтике и металлургии.

Часто задаваемые вопросы (FAQ)
  1. Как убедиться, что эта держалка образца для рентгеновской дифракции совместима с моим дифрактометром?
    Наша система разработана для универсальной совместимости. Мы работаем с вами, чтобы предоставить индивидуальный монтажный кронштейн, адаптированный к вашей конкретной марке и модели дифрактометра (например, Rigaku SmartLab, Bruker D8), обеспечивая идеальную посадку.

  2. Почему для окна используется пленка Kapton?
    Пленка Kapton выбрана из-за ее превосходных свойств пропускания рентгеновских лучей, высокой термостойкости и гибкости. Дугообразная конструкция, возможная благодаря Kapton, имеет решающее значение для достижения широкого, беспрепятственного диапазона 2θ, необходимого для получения высококачественных дифракционных картин.

  3. Могу ли я проводить эксперименты в контролируемой атмосфере?
    Да. Модель XCH400V оснащена для работы в вакууме, что позволяет изучать образцы в инертной среде или при подаче определенного газа, что жизненно важно для ин-ситу исследований восстановления, окисления или гидратации.

  4. Какое программное обеспечение управляет температурой, и удобно ли оно в использовании?
    Держалка полностью управляется нашим интуитивно понятным программным обеспечением TNEX. Оно позволяет легко создавать сложные температурные программы (рампы, выдержки, сегменты), которые автоматически выполняются во время сбора данных рентгеновской дифракции.

  5. Что входит в комплект поставки?
    Система поставляется как комплексное решение: держалка для рентгеновской дифракции, специализированные контроллеры температуры и охлаждения, резервуар с жидким азотом, циркуляционный чиллер, программное обеспечение TNEX и все необходимые кабели и аксессуары. Индивидуальные адаптерные кронштейны для вашего дифрактометра включены в состав решения.

Свяжись с нами

Впишите ваше сообщение

Вы могли бы быть в этих