Estadio de muestra universal de XRD con rango de temperatura de -190 °C a 400 °C y ángulo de difracción de 0 ° a 164 ° 2θ para las principales marcas de XRD

El XCH400V es una etapa de muestra XRD de precisión diseñada específicamente para permitir estudios de difracción de rayos X in situ dependientes de la temperatura. Esta etapa avanzada proporciona a los investigadores una poderosa herramienta para investigar las transiciones de fase, la expansión térmica y la dinámica estructural de materiales desde criogénicos -190 °C hasta 600 °C, todo con una estabilidad excepcional de ±0,1 °C. Su característica destacada es un diseño único de ventana en forma de arco hecho de película Kapton, que admite un rango de ángulo de difracción 2θ incomparable de 0° a 164°, lo que garantiza una recopilación de datos completa. Con soportes de montaje personalizables para una integración perfecta con las principales marcas de difractómetros de rayos X, incluidas Rigaku, Bruker, Shimadzu y Malvern Panalytical, esta versátil etapa de muestra XRD es la solución definitiva para los laboratorios modernos de cristalografía y caracterización de materiales.

• Acceso angular inigualable para datos completos: la innovadora ventana Kapton en forma de arco proporciona un rango 2θ amplio y continuo (0°-164°), lo que elimina los puntos ciegos y permite la recopilación de patrones de difracción completos sin reorientación del escenario ni obstrucción de la ventana.

• Compatibilidad universal y fácil integración: proporcionamos soportes adaptadores personalizables, lo que garantiza que esta etapa de muestra XRD se ajuste perfectamente a su modelo de difractómetro específico de los principales fabricantes. Esta compatibilidad llave en mano minimiza el tiempo de inactividad y simplifica la instalación.

• Control de temperatura multimodo de precisión: vaya más allá de los simples puntos de ajuste. El software TNEX integrado permite una programación sofisticada de puntos de ajuste, rampas y segmentos, lo que permite protocolos térmicos complejos que simulan condiciones del mundo real o estudian procesos cinéticos durante experimentos de difracción.

• Rendimiento sólido en temperaturas extremas: aprovecha el enfriamiento eficiente con nitrógeno líquido y el calentamiento resistivo rápido (150 °C/min) para lograr ciclos térmicos rápidos y estables. El escenario mantiene la integridad del vacío o de la atmósfera controlada, lo cual es crucial para estudiar muestras sensibles al aire.

• Calidad certificada para una investigación confiable: Fabricada según los procesos certificados ISO 9001:2015, 14001:2015 y 45001:2018, esta etapa de muestra XRD está diseñada para brindar durabilidad y precisión, y ofrece un rendimiento confiable para experimentos exigentes y de larga duración.

Esta etapa de muestra XRD especializada es esencial para los ecosistemas de investigación avanzada en regiones de crecimiento clave, incluidos el sudeste asiático, Medio Oriente, Rusia y África. Atiende a una distinguida clientela de departamentos universitarios de química y ciencia de materiales, institutos de investigación gubernamentales y centros de investigación y desarrollo industriales centrados en el desarrollo de catalizadores, materiales para baterías, medicamentos y metalurgia.

1. ¿Cómo me aseguro de que esta etapa de muestra XRD sea compatible con mi difractómetro?
   Nuestro sistema está diseñado para una compatibilidad universal. Trabajamos con usted para proporcionarle un soporte de montaje personalizado adaptado a su marca y modelo de difractómetro específico (por ejemplo, Rigaku SmartLab, Bruker D8), asegurando un ajuste perfecto.

2. ¿Por qué se utiliza la película Kapton para la ventana?
   La película Kapton se elige por sus excelentes propiedades de transmisión de rayos X, estabilidad a altas temperaturas y flexibilidad. El diseño en forma de arco hecho posible por Kapton es fundamental para lograr el rango 2θ amplio y sin obstáculos necesario para patrones de difracción de alta calidad.

3. ¿Puedo realizar experimentos en atmósfera controlada?
   Sí. El modelo XCH400V está equipado para funcionamiento en vacío, lo que le permite estudiar muestras en un ambiente inerte o bajo un flujo de gas específico, lo cual es vital para estudios de reducción, oxidación o hidratación in situ.

4. ¿Qué software controla la temperatura? ¿Es fácil de usar?
   El escenario está totalmente controlado por nuestro intuitivo software TNEX. Le permite diseñar fácilmente programas de temperatura complejos (rampas, retención, segmentos) que se ejecutan automáticamente durante la recopilación de datos XRD.

5. ¿Qué está incluido en el paquete de entrega?
   El sistema se suministra como una solución completa: la etapa XRD, controladores de temperatura y enfriamiento dedicados, un tanque de nitrógeno líquido, un enfriador de recirculación, software TNEX y todos los cables y accesorios necesarios. Se incluyen soportes adaptadores personalizados para su difractómetro como parte de la solución.