5000N 고온 시편 챔버 내 인장 시험 스테이지 (기계적 시험 및 EBSD 호환)

제품 이름: GoGo SFH5000-1200 5000N 부하 용량과 함께 현장 중 극 고 온도 SEM 튼튼 단계

제품 소개

GoGo SFH5000-1200은 스캐닝 전자 현미경 내에서 가장 까다로운 현장 기계적 특징을 위해 설계된 획기적인 SEM 텐실 스테이지입니다.이 시스템은 1200°C까지의 초고 온도 가열과 5000N의 상당한 팽창 부하 용량을 독특하게 결합합니다.극심 한 열 기계적 스트레스 하에서 미세 구조 진화의 직접 관찰을 가능하게 합니다. 비 침습 기능적 액세서리로 설계,그것은 당신의 SEM을 수정하지 않고 외부 진공 플랜지를 통해 통합EBSD 분석과 주요 SEM 브랜드 (ZEISS, 히타치, 테르모 피셔) 와 완벽하게 호환되는 이 SEM 텐실 스테이지로 연구자들은 동시적으로 변형 메커니즘, 균열 전파,그리고 실시간 단계 변화, 물질적 행동에 대한 비교할 수 없는 통찰력을 제공합니다.

주요 장점 & 왜 우리의 시스템을 선택

• 비교할 수 없는 고온 기계 시험: 이 SEM 튼튼한 단계는 예외적인 성능을 제공합니다.1000N까지의 정밀한 기계적 부하를 가하는 동시에 ±0과 1200°C까지의 샘플 온도를 유지하는.1°C 안정성, 첨단 합금, 세라믹 및 코팅을 테스트하는 데 중요합니다.

• 진정한 비 침습적 통합 및 EBSD 호환성: 스테이지는 사용자 지정 외부 플랜지를 통해 설치되며 SEM의 보증 및 기능을 유지합니다.그 설계는 전자 역분산 분사 (EBSD) 시스템과 완전한 호환성을 보장합니다., 동시에 기계적 로딩, 열 처리 및 결정학적 방향 분석을 허용합니다.

• 단일 플랫폼에서 멀티 모드 테스트: 단순한 긴장 이상으로 이동. 이 다재다능한 스테이지는 상호 교환 가능한 고정 장치에 의해 긴장, 압축, 절단 및 구부러기 테스트를 지원합니다.SEM 챔버 내부의 단일 샘플에 대한 포괄적인 기계적 특성 매핑을 가능하게 합니다..

• 정밀 제어 및 실시간 관측: 통합된 TNEX 소프트웨어는 복잡한 온도 램프 (최고 150°C/min) 및 정확한 기계적 부하 프로파일을 완전히 제어합니다.이것은 매우 안정적인, 실시간 마이크로 다이내믹 프로세스

• 고도의 연구용으로 인증된 견고성: ISO 9001, 14001 및 45001 인증 프로세스에 따라 제조됩니다.이 견고한 SEM 튼튼한 스테이지 가장 엄격한 실험실 환경에서 신뢰성과 정밀성을 위해 만들어졌습니다.

기술 사양

대상 시장 및 고객

이 고급 SEM 튼튼 단계는 동남아시아, 중동, 러시아 및 아프리카를 포함한 주요 세계 지역에서 국경 재료 연구에 필수적입니다.대학 연구실의 필수 도구입니다., 정부 항공우주 및 에너지 연구소, 고기술 산업 R&D 센터는 재료 신뢰성 및 장애 분석에 중점을 두었습니다.

자주 묻는 질문 (FAQ)

1. 이 SEM 텐실 스테이지를 설치하면 내 SEM 보증이 무효가 되나요?
   아니, 스테이지는 비침습적인 액세서리입니다. 사용되지 않은 챔버 포트를 통해 사용자 지정 플랜지를 사용하여 연결됩니다. SEM에 대한 내부 변경이 필요하지 않습니다. 따라서 제조업체의 보증을 보호합니다.

2. 어떻게 다른 SEM 브랜드와 무대가 호환될 수 있을까요?
   우리는 SEM 모델의 특정 진공 포트 기하학과 기계적 인터페이스와 일치하도록 설계된 맞춤형 플랜지와 어댑터 플레이트를 제공합니다. 완벽한 안전 적합성을 보장합니다.

3. 왜 EBSD 호환성이 긴장 단계에 중요한가?
   EBSD 호환성으로 기계적 변형과 열효과와 곡물 방향의 변화, 단계 분포,재료 성능에 대한 완전한 그림을 제공.

4. 기본 시스템 패키지에 포함되는 것은 무엇입니까?
   패키지는 전체 작업 스테이션입니다: 주요 튼튼 단계 집합, 고 정밀 온도 조절기, 재순환 냉장기, 5000N 힘 조절기, TNEX 소프트웨어,그리고 필요한 모든 케이블과 액세서리당신의 SEM에 맞춤 플랜지 포함됩니다.

5. 이 무대를 피로나 장기적인 탐사용으로 사용할 수 있나요?
   정적 로딩을 위해 최적화된 반면,시스템의 정확한 제어와 안정성으로 인해 고온의 일정한 부하 하에서 느린 스트레인 속도 테스트 및 시간 의존적 변형 메커니즘 연구에 적합합니다..