In Situ SEM Trekbank 5000N Hoge Temperatuur Bank voor Mechanisch Testen en EBSD Compatibiliteit

Productdetails:
Plaats van herkomst: Suzhou, China
Merknaam: GoGo
Certificering: ISO 9001:2015 / ISO 14001:2015 / ISO 45001:2018
Modelnummer: SFH5000-1200
Betalen & Verzenden Algemene voorwaarden:
Min. bestelaantal: 1
Prijs: CNY 30000~600000/set
Verpakking Details: Kartonnen doos + houten kist
Levertijd: 30 ~ 60 werkdagen
Betalingscondities: T/T
Levering vermogen: 1set/dag
Contact nu Praatje Nu

Gedetailleerde informatie

Naam: SEM-trekfase Koel-/verwarmingsmethode: Weerstand het Verwarmen
Temperatuurbereik: RT~1200℃ Temperatuurstabiliteit: ± 0,1 ℃
Het verwarmen/het koelen tarief: Maximale verwarmingssnelheid: 150 ℃/min, regelbare koelsnelheid Monsterhouder: Keramiek; φ10mm
Spanningsbereik: 5000N Spanningsnauwkeurigheid: 0,1% FS
verplaatsing: ES5500 Crosshead-snelheid: 0,03~2 mm/min
Testmodussen: Spanning, compressie, afschuiving, buiging Afmetingen/nettogewicht: 230 mm * 161 mm * 60 mm / 4,5 kg
Basisconfiguratie: TNEX*1, SEM In-situ trektrap*1, temperatuurregelaar*1, recirculerende koelmachine*1, krachtregelaar* Optioneel: Adapterplaat/aangepaste flens/aangepaste recirculerende koelmachine/computerhost/aangepaste software
Markeren:

In Situ SEM Trekbank

,

SEM Trekbank 5000N

,

5000N Hoge Temperatuur Bank

Productomschrijving

SEM Trekstage met 1200°C Verwarming en 5000N Belastingscapaciteit voor In-Situ Mechanische Tests en EBSD-Compatibiliteit

Producttitel: GoGo SFH5000-1200 Ultra-Hoge-Temperatuur In-Situ SEM Trekstage met 5000N Belastingscapaciteit

Productintroductie

De GoGo SFH5000-1200 is een baanbrekende SEM Trekstage, ontworpen voor de meest veeleisende in-situ mechanische karakterisering binnen een scanning elektronenmicroscoop. Dit systeem combineert uniek ultra-hoge-temperatuur verwarming tot 1200°C met een aanzienlijke trekbelastingscapaciteit van 5000N, waardoor directe observatie van microstructuur evolutie onder extreme thermo-mechanische spanning mogelijk is. Ontworpen als een niet-invasief functioneel accessoire, integreert het via externe vacuümflenzen zonder uw SEM aan te passen. Volledig compatibel met EBSD-analyse en grote SEM-merken (ZEISS, Hitachi, Thermo Fisher), stelt deze SEM Trekstage onderzoekers in staat om gelijktijdig deformatie mechanismen, scheurvoortplanting en faseveranderingen in realtime te bestuderen, wat ongeëvenaarde inzichten biedt in materiaaleigenschappen.

Belangrijkste Voordelen & Waarom Kiezen voor Ons Systeem

  • Ongeëvenaarde Hoge-Temperatuur Mechanische Tests: Deze SEM Trekstage levert uitzonderlijke prestaties, met precieze mechanische belastingen tot 5000N terwijl de monstertemperaturen tot 1200°C worden gehandhaafd met een stabiliteit van ±0,1°C, wat cruciaal is voor het testen van geavanceerde legeringen, keramiek en coatings.

  • Echte Niet-Invasieve Integratie & EBSD-Compatibiliteit: De stage wordt geïnstalleerd via een aangepaste externe flens, waardoor de garantie en functionaliteit van uw SEM behouden blijven. Het ontwerp garandeert volledige compatibiliteit met Electron Backscatter Diffraction (EBSD) systemen, waardoor gelijktijdige mechanische belasting, thermische behandeling en kristallografische oriëntatieanalyse mogelijk is.

  • Multi-Mode Tests op één Platform: Ga verder dan eenvoudige trekproeven. Deze veelzijdige stage ondersteunt trek-, druk-, schuif- en buigproeven met verwisselbare armaturen, waardoor uitgebreide mapping van mechanische eigenschappen op één monster binnen de SEM-kamer mogelijk is.

  • Precisiecontrole & Real-Time Observatie: De geïntegreerde TNEX-software biedt volledige controle over complexe temperatuurrampen (tot 150°C/min) en precieze mechanische belastingsprofielen. Dit maakt het vastleggen van zeer stabiele, real-time microdynamische processen mogelijk zoals ze zich voordoen.

  • Gecertificeerde Robuustheid voor Veeleisend Onderzoek: Vervaardigd onder ISO 9001, 14001 en 45001 gecertificeerde processen, is deze robuuste SEM Trekstage gebouwd voor betrouwbaarheid en precisie in de meest rigoureuze laboratoriumomgevingen.

Technische Specificaties

Parameter Specificatie
Model / Merk SFH5000-1200 / GoGo
Kernfunctie In-Situ Hoge-Temperatuur Mechanische Tests in SEM
Temperatuurbereik RT ~ 1200°C
Maximale Treksterkte & Nauwkeurigheid 5000N; 0,1% F.S.
Testmodi Trek, Druk, Schuif, Buiging
Belangrijkste Compatibiliteit EBSD; Grote SEM-Merken (ZEISS, Hitachi, Thermo Fisher)
Integratie Niet-invasief, Externe Flens
Besturingssysteem TNEX Software Platform

Doelmarkten & Klanten

Deze geavanceerde SEM Trekstage is essentieel voor grensverleggend materiaalonderzoek in belangrijke wereldwijde regio's, waaronder Zuidoost-Azië, het Midden-Oosten, Rusland en Afrika. Het is een onmisbaar hulpmiddel voor universitaire onderzoekslaboratoria, overheidsinstituten voor lucht- en ruimtevaart en energie, en high-tech industriële R&D-centra gericht op materiaalfaciliteit en faalanalyse.

Veelgestelde Vragen (FAQ)

  1. Maakt het installeren van deze SEM Trekstage mijn SEM-garantie ongeldig?
    Nee. De stage is een niet-invasief accessoire dat via een ongebruikte kamerpoort met een aangepaste flens wordt aangesloten, zonder interne aanpassingen aan de SEM, waardoor de fabrieksgarantie wordt beschermd.

  2. Hoe wordt de stage compatibel gemaakt met verschillende SEM-merken?
    We leveren aangepaste flenzen en adapterplaten die zijn ontworpen om te passen bij de specifieke vacuümpoortgeometrie en mechanische interface van uw SEM-model, wat zorgt voor een perfecte en veilige pasvorm.

  3. Waarom is EBSD-compatibiliteit belangrijk voor een trekstage?
    EBSD-compatibiliteit stelt u in staat om mechanische deformatie en thermische effecten te correleren met veranderingen in korreloriëntatie, faseverdeling en lokale spanning op microstructuurniveau, wat een compleet beeld geeft van materiaaleigenschappen.

  4. Wat is inbegrepen in het basispakket?
    Het pakket is een complete werkstation: de hoofdtrekstage-assemblage, een zeer nauwkeurige temperatuurregelaar, een circulatiekoeler, een 5000N krachtregelaar, TNEX-software en alle benodigde kabels en accessoires. Aangepaste flenzen voor uw SEM zijn inbegrepen.

  5. Kan ik deze stage gebruiken voor vermoeiings- of langdurige kruipstudies?
    Hoewel geoptimaliseerd voor statische belasting, maken de precieze controle en stabiliteit van het systeem het geschikt voor tests met langzame rek-snelheid en studies van tijdsafhankelijke deformatie mechanismen onder constante belasting bij hoge temperaturen.

Neem contact op met ons

Ga Uw Bericht in