Platine de microscope chauffante à contrôle précis, platines robustes à température contrôlée avec une plage de 1200°C

Le GoGo EH1200 représente le summum de la caractérisation électrique à haute température, conçu comme une platine de sonde robuste capable d'un fonctionnement précis jusqu'à 1200°C. Conçu pour caractériser l'évolution des propriétés électriques des matériaux sous contrainte thermique extrême, ce système est indispensable pour la recherche sur les céramiques avancées, les supraconducteurs à haute température et les matériaux semi-conducteurs de nouvelle génération. Il intègre un porte-échantillon en céramique de haute pureté et quatre sondes fixes haute température (tungstène ou tungstène-rhénium) dans une chambre scellée, permettant des mesures électriques in-situ fiables tout en offrant une fenêtre optique claire pour une observation simultanée au microscope. Piloté par le logiciel sophistiqué TNEX, cette platine de sonde offre une stabilité à long terme inégalée et un contrôle programmable pour les expériences les plus exigeantes.

• Capacité Inégalée à Haute Température : Cette platine de sonde fonctionne de manière fiable à une température maximale de 1200°C avec une stabilité exceptionnelle de ±0,1°C, ouvrant de nouvelles frontières dans l'étude du comportement des matériaux dans des conditions thermiques extrêmes.

• Ingénierie de Précision pour l'Intégrité Électrique : Doté d'une platine d'échantillon électriquement flottante et de sondes fixes compatibles haute température, le système assure un contact électrique précis et stable, minimisant le bruit et la dérive pour une caractérisation fiable de la résistivité et des courbes IV.

• Cyclage Thermique Rapide et Contrôlé : Atteint des vitesses de chauffage rapides jusqu'à 150°C/min pour des tests efficaces, couplé à un refroidissement actif et contrôlable via un refroidisseur à recirculation, permettant un profilage thermique complexe.

• Analyse Optique-Électrique Intégrée : Le trajet optique de réflexion avec une fenêtre JGS2 à haute transmission permet une corrélation visuelle directe des changements microstructuraux avec l'évolution des propriétés électriques pendant les cycles de chauffage et de refroidissement.

• Fiabilité Certifiée & Contrôle Avancé : Fabriqué selon les normes ISO 9001, 14001 et 45001. Le logiciel TNEX fournit une commande numérique complète pour automatiser des séquences de tests électriques-thermiques complexes et un enregistrement complet des données.

Cette platine de sonde spécialisée ultra haute température répond aux besoins critiques de recherche dans des régions clés du monde, notamment l'Asie du Sud-Est, le Moyen-Orient, la Russie et l'Afrique. C'est un outil essentiel pour les universités de premier plan, les laboratoires de recherche gouvernementaux et les centres de R&D industriels axés sur les matériaux aérospatiaux, les systèmes énergétiques et la science fondamentale des matériaux à haute température.

1. Quels matériaux sont les mieux étudiés avec cette platine de sonde ?
   L'EH1200 est idéale pour caractériser les céramiques, les métaux réfractaires, les semi-conducteurs à large bande interdite et d'autres matériaux dont les propriétés électriques doivent être comprises dans des températures de fonctionnement extrêmes jusqu'à 1200°C.

2. Pourquoi des sondes fixes et un porte-échantillon en céramique sont-ils utilisés ?
   Les sondes fixes garantissent la cohérence des mesures à haute température où la dilatation thermique est significative. Le porte-échantillon en céramique offre une excellente isolation thermique et électrique à des températures ultra-élevées, assurant l'intégrité du système et des lectures précises.

3. Comment le système maintient-il la stabilité des mesures électriques à de telles températures élevées ?
   La conception de la platine flottante minimise les boucles de masse, tandis que l'utilisation de matériaux de sonde stables à haute température et une conception de chambre scellée réduisent la force électromotrice thermique et les interférences environnementales.

4. Puis-je observer l'échantillon pendant les tests électriques ?
   Oui. Cette platine de sonde est conçue pour l'observation optique simultanée. La fenêtre supérieure vous permet de surveiller visuellement l'échantillon et le contact des sondes tout au long de l'expérience à haute température.

5. Quel support est disponible pour les configurations expérimentales personnalisées ?
   Nous offrons de nombreuses options de personnalisation, y compris des sondes spécialisées, des configurations de ports et des adaptations logicielles, garantissant que cette platine de sonde peut être adaptée à vos exigences de recherche spécifiques à haute température.