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Detalhes do produto:
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| Lugar de origem: | Suzhou, China |
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| Marca: | GoGo |
| Certificação: | ISO 9001:2015 / ISO 14001:2015 / ISO 45001:2018 |
| Número do modelo: | DCD |
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Condições de Pagamento e Envio:
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| Quantidade de ordem mínima: | 1 |
| Preço: | CNY 30000~600000/set |
| Detalhes da embalagem: | Caixa de papelão + caixa de madeira |
| Tempo de entrega: | 30~60 dias úteis |
| Termos de pagamento: | T/T |
| Habilidade da fonte: | 1 conjunto/dia |
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Informação detalhada |
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| Nome: | Sistema de teste de descarga de carga dielétrica | Largura de banda atual da sonda: | 120MHz |
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| Corrente de pico: | 0-100A | Precisão atual da aquisição: | 1mA |
| Módulo fonte de alta tensão: | 3~10kV(corrente: 5mA) | Alternar aplicável: | 1 milhão de vezes, suporta tensão de 10kV |
| Faixa de controle de temperatura/estabilidade e precisão de temperatura: | TR~200 ℃/0,1 ℃ | Amostras de teste: | filmes finos, filmes grossos, cerâmica, vidro, etc. |
| Destacar: | Sistema de ensaio in situ de 120 MHz,Sistema de ensaio in situ de 10 kV,Sistema de medição da carga de material dielétrico |
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Descrição de produto
O GoGo DCD é um Sistema de Teste de Descarga de Carga Dielétrica especializado, projetado para avaliar com precisão o desempenho real de descarga e a densidade de armazenamento de energia de materiais dielétricos avançados. Ele aborda uma falha crítica nos testes convencionais de loop de histerese, onde a energia armazenada flui de volta para a fonte de alimentação em vez de para uma carga real, muitas vezes inflando as métricas de desempenho. Este sistema simula diretamente cenários de descarga do mundo real empregando um robusto interruptor de alta tensão (SPDT) para rotear a carga armazenada para cargas reais. Suportando modos de descarga subamortecida e superamortecida sob condições de temperatura variável (RT a 200°C), o sistema DCD fornece aos pesquisadores dados confiáveis e relevantes para a aplicação sobre as características rápidas de carga-descarga de cerâmicas, filmes finos e outros materiais de armazenamento de energia.
Simulação Autêntica de Descarga: Ao contrário de métodos indiretos, este Sistema de Teste de Descarga de Carga Dielétrica mede a energia real liberada do material para uma carga definida (curto-circuito ou resistiva), fornecendo uma avaliação verdadeira da densidade de energia utilizável e da capacidade de entrega de potência.
Comutação e Medição Robustas de Alta Tensão: Apresenta um interruptor de alta tensão classificado para 10 kV e 1 milhão de ciclos, com baixa capacitância parasita para perda mínima de energia. Ele integra uma sonda de corrente de alta largura de banda (120 MHz) capaz de medir pulsos de descarga de até 100 A com precisão de 1 mA.
Modos de Teste Abrangentes e Controle Ambiental: Realize testes de descarga subamortecida (curto-circuito, alta corrente) e superamortecida (carga resistiva). Acoplado a um controle de temperatura preciso (±0,1°C), isso permite o estudo do comportamento do material em diversas condições operacionais e temperaturas.
Cálculo Direto e Preciso da Densidade de Energia: O sistema, usado com um osciloscópio, captura dados de tensão e corrente em tempo real durante a descarga. Isso permite o cálculo direto da densidade de energia descarregada, eliminando a superestimação inerente aos valores derivados do loop de histerese.
Design Versátil e Resistente à Fadiga: O suporte de amostra personalizado acomoda várias geometrias (filmes finos, cerâmicas). O sistema suporta testes de fadiga de longo prazo, tornando-o uma solução completa tanto para pesquisa fundamental quanto para avaliação de confiabilidade de componentes de armazenamento de energia.
| Parâmetro | Especificação |
|---|---|
| Modelo / Marca | DCD / GoGo |
| Tipo de Sistema | Sistema de Teste de Descarga de Carga Dielétrica |
| Tensão / Corrente Máxima | 10 kV / 5 mA (Carga); 100 A (Pico de Descarga) |
| Modos de Descarga | Subamortecido e Superamortecido |
| Sonda de Corrente | Largura de Banda de 120 MHz, Precisão de 1 mA |
| Faixa de Temperatura e Estabilidade | RT a 200°C / ±0,1°C |
| Característica Principal | Simulação de Descarga em Carga Real para Densidade de Energia Verdadeira |
Este sistema crítico de Teste de Descarga de Carga Dielétrica atende às necessidades de pesquisa e desenvolvimento avançados em mercados globais chave, incluindo Sudeste Asiático, Oriente Médio, Rússia e África. É um instrumento essencial para departamentos universitários de ciência e engenharia de materiais, institutos governamentais de pesquisa em energia e empresas que desenvolvem capacitores, dispositivos de potência pulsada e soluções de armazenamento de energia dielétrica de próxima geração.
Como este sistema fornece dados mais precisos do que os testes de loop de histerese?
Os loops de histerese medem a energia de entrada para o material, grande parte da qual não é recuperável. Nosso Sistema de Teste de Descarga de Carga Dielétrica mede a energia de saída real entregue a uma carga externa, refletindo diretamente o desempenho do material em uma aplicação real.
Qual é a diferença entre testes subamortecido e superamortecido?
O modo subamortecido (curto-circuito) testa a capacidade do material de fornecer pulsos de corrente muito altos e rápidos. O modo superamortecido (com um resistor) simula a entrega para uma carga casada, crucial para calcular a densidade de energia utilizável real (J/cm³).
Que tipos de amostras podem ser testados?
O sistema é projetado para uma ampla gama de dielétricos, incluindo discos cerâmicos, filmes grossos/finos e amostras de vidro. O suporte personalizado garante contato elétrico seguro e confiável para diferentes geometrias.
Como os dados são adquiridos e analisados?
As formas de onda de tensão e corrente durante a descarga são capturadas por um osciloscópio. A energia para cada pulso é calculada integrando a potência (V*I) ao longo do tempo. Nossos procedimentos recomendados permitem o cálculo direto da densidade de energia de descarga.
Este sistema pode ser usado para testes de fadiga de capacitores?
Sim. O interruptor de alta vida útil e o controle programável permitem a ciclagem automatizada de carga-descarga de longo prazo, permitindo que os pesquisadores estudem a degradação de desempenho e a confiabilidade sob estresse repetido de alta tensão.
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