120MHz 10kV System badań in situ System pomiaru ładunku materiału dielektrycznego

GoGo DCD to specjalistyczny system do testowania rozładowania ładunku dielektrycznego, zaprojektowany do dokładnej oceny rzeczywistej wydajności rozładowania i gęstości magazynowania energii zaawansowanych materiałów dielektrycznych. Rozwiązuje on krytyczną wadę konwencjonalnych testów pętli histerezy, w których zmagazynowana energia wraca do źródła zasilania, a nie do rzeczywistego obciążenia, często zawyżając wskaźniki wydajności. System ten bezpośrednio symuluje rzeczywiste scenariusze rozładowania, wykorzystując solidny przełącznik wysokiego napięcia (SPDT) do kierowania zmagazynowanego ładunku do rzeczywistych obciążeń. Obsługując tryby rozładowania podkrytycznego i nadkrytycznego w zmiennych warunkach temperaturowych (od temperatury pokojowej do 200°C), system DCD dostarcza badaczom wiarygodnych, istotnych z punktu widzenia zastosowań danych dotyczących szybkich charakterystyk ładowania i rozładowania ceramiki, cienkich warstw i innych materiałów magazynujących energię.

• Autentyczna symulacja rozładowania: W przeciwieństwie do metod pośrednich, ten system do testowania rozładowania ładunku dielektrycznego mierzy rzeczywistą energię uwolnioną z materiału do zdefiniowanego obciążenia (zwarcie lub rezystancyjne), zapewniając prawdziwą ocenę użytecznej gęstości energii i zdolności dostarczania mocy.

• Solidne przełączanie i pomiar wysokiego napięcia: Posiada przełącznik wysokiego napięcia o obciążalności 10 kV i 1 milion cykli, z niską pojemnością pasożytniczą dla minimalnych strat energii. Integruje sondę prądową o wysokiej przepustowości (120 MHz), zdolną do pomiaru impulsów rozładowania do 100 A z dokładnością 1 mA.

• Kompleksowe tryby testowania i kontrola środowiska: Wykonuj testy rozładowania podkrytycznego (zwarcie, wysoki prąd) i nadkrytycznego (obciążenie rezystancyjne). W połączeniu z precyzyjną kontrolą temperatury (±0,1°C), pozwala to na badanie zachowania materiału w różnych warunkach pracy i temperaturach.

• Bezpośrednie i dokładne obliczanie gęstości energii: System, używany z oscyloskopem, rejestruje dane napięcia i prądu w czasie rzeczywistym podczas rozładowania. Umożliwia to bezpośrednie obliczenie gęstości energii rozładowania, eliminując przeszacowanie nieodłącznie związane z wartościami pochodzącymi z pętli histerezy.

• Wszechstronna i odporna na zmęczenie konstrukcja: Niestandardowy uchwyt próbki mieści różne geometrie (cienkie warstwy, ceramika). System obsługuje długoterminowe testy zmęczeniowe, co czyni go kompletnym rozwiązaniem zarówno do badań podstawowych, jak i oceny niezawodności komponentów magazynujących energię.

Ten krytyczny system do testowania rozładowania ładunku dielektrycznego służy zaawansowanym potrzebom badawczo-rozwojowym na kluczowych rynkach światowych, w tym w Azji Południowo-Wschodniej, na Bliskim Wschodzie, w Rosji i Afryce. Jest to niezbędny instrument dla uniwersyteckich wydziałów materiałoznawstwa i inżynierii, rządowych instytutów badawczych ds. energii oraz firm opracowujących kondensatory, urządzenia impulsowe i rozwiązania do magazynowania energii dielektrycznej nowej generacji.

1. Jak ten system zapewnia dokładniejsze dane niż testowanie pętli histerezy?
   Pętle histerezy mierzą energię dostarczoną do materiału, z której duża część nie jest odzyskiwalna. Nasz system do testowania rozładowania ładunku dielektrycznego mierzy rzeczywistą energię wyjściową dostarczoną do zewnętrznego obciążenia, bezpośrednio odzwierciedlając wydajność materiału w rzeczywistym zastosowaniu.

2. Jaka jest różnica między testowaniem podkrytycznym a nadkrytycznym?
   Tryb podkrytyczny (zwarcie) testuje zdolność materiału do dostarczania bardzo wysokich, szybkich impulsów prądu. Tryb nadkrytyczny (z rezystorem) symuluje dostarczanie do dopasowanego obciążenia, co jest kluczowe do obliczenia rzeczywistej użytecznej gęstości energii (J/cm³).

3. Jakie typy próbek można testować?
   System jest przeznaczony do szerokiej gamy dielektryków, w tym dysków ceramicznych, grubych/cienkich warstw i próbek szkła. Niestandardowy uchwyt zapewnia bezpieczny i niezawodny kontakt elektryczny dla różnych geometrii.

4. Jak pozyskiwane i analizowane są dane?
   Kształty fal napięcia i prądu podczas rozładowania są rejestrowane przez oscyloskop. Energia każdego impulsu jest obliczana przez całkowanie mocy (V*I) w czasie. Nasze zalecane procedury umożliwiają bezpośrednie obliczenie gęstości energii rozładowania.

5. Czy ten system może być używany do testowania zmęczeniowego kondensatorów?
   Tak. Przełącznik o długiej żywotności i programowalne sterowanie umożliwiają automatyczne długoterminowe cykle ładowania i rozładowania, pozwalając badaczom na badanie degradacji wydajności i niezawodności pod wpływem powtarzającego się naprężenia wysokiego napięcia.